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XPS、AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用被引量：7: 1; 作者雷晓春林鹿李可成《中国造纸学报》 EI CAS CSCD 2006年第4期97-101,共5页; 介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造... 展开更多; 关键词 XPS AFM ToF—SIMS 原理纤维表面; 在线阅读下载PDF 职称材料

现代表面分析技术用于纤维表面研究的新进展被引量：5: 2; 作者张正健胡惠仁《中国造纸》 CAS 北大核心 2007年第12期53-58,共6页; 阐述了原子力显微镜(AFM)、化学力显微镜(CFM)、X射线光电子能谱(XPS)、飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)几种先进表面分析技术的基本原理以及用于纸浆纤维表面研究的新进展。; 关键词纤维表面原子力显微镜化学力显微镜 X射线光电子能谱飞行时间二次离子质谱; 在线阅读下载PDF 职称材料

表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究: 3; 作者邓朝辉林晶 +1 位作者任云珠宗祥福《分析测试学报》 CAS CSCD 1996年第2期1-5,共5页; 飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后、银片上残留的未知的有机物。结果显示，有机沾污物主要是一些含１８～３０碳原子、碳链饱和度很高的酮类和酯类化合物；个别有机物可... 展开更多; 关键词 tof-sims XPS 有机沾污物银片; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	XPS、AFM和ToF-SIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用	雷晓春林鹿李可成	《中国造纸学报》 EI CAS CSCD	2006	7	在线阅读下载PDF 职称材料
2	现代表面分析技术用于纤维表面研究的新进展	张正健胡惠仁	《中国造纸》 CAS 北大核心	2007	5	在线阅读下载PDF 职称材料
3	表面残留有机沾污物的TOF－SIMS及XPS研究	邓朝辉林晶任云珠宗祥福	《分析测试学报》 CAS CSCD	1996	0	在线阅读下载PDF 职称材料