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FT51:一种容软错误高可靠微控制器
被引量：
14
1
作者
龚锐
陈微
+2 位作者
刘芳
戴葵
王志英
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2007年第10期1662-1673,共12页
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组合逻辑单事件瞬态（SET）进行防护．所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护．针对现有控制流...
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组合逻辑单事件瞬态（SET）进行防护．所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护．针对现有控制流检测的不足，该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制．FT51在HJTC0．25μm工艺下进行了实现，与未经加固的版本相比，其额外的面积开销为80．6％，额外的性能开销为19％～133％．文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架，在此框架下通过模拟和理论推导证明：典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99．73％．
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关键词
微控制器
软错误
单事件翻转
单事件瞬态
时空三模冗余
控制流检测
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职称材料
题名
FT51:一种容软错误高可靠微控制器
被引量：
14
1
作者
龚锐
陈微
刘芳
戴葵
王志英
机构
国防科技大学计算机学院
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2007年第10期1662-1673,共12页
基金
国家自然科学基金(90407022)资助.~~
文摘
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组合逻辑单事件瞬态（SET）进行防护．所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护．针对现有控制流检测的不足，该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制．FT51在HJTC0．25μm工艺下进行了实现，与未经加固的版本相比，其额外的面积开销为80．6％，额外的性能开销为19％～133％．文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架，在此框架下通过模拟和理论推导证明：典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99．73％．
关键词
微控制器
软错误
单事件翻转
单事件瞬态
时空三模冗余
控制流检测
Keywords
micro controller
soft error
single event upset
single event transient
temporal spa-tial triple modular redundancy
control flow checking
分类号
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
FT51:一种容软错误高可靠微控制器
龚锐
陈微
刘芳
戴葵
王志英
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2007
14
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