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Influence of the probe-sample interaction on scanning near-field optical microscopic images in the far field
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作者 李智 张家森 +1 位作者 杨景 龚旗煌 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第11期2558-2563,共6页
We have studied the influence of probe-sample interaction in a scanning near-field optical microscopy (SNOM) in the far field by using samples with a step structure. For a sample with a step height of - λ/4, the SN... We have studied the influence of probe-sample interaction in a scanning near-field optical microscopy (SNOM) in the far field by using samples with a step structure. For a sample with a step height of - λ/4, the SNOM image contrast between the two sides of the step changes periodically at different scan heights. For a step height of-λ/2, the image contrast remains approximately the same. The probe-sample interaction determines the SNOM image contrast here. The influence of different refractive indices of the sample has been also analysed by using a simple theoretical model. 展开更多
关键词 snom probe-sample interaction near-field scanning optical microscopy
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Optical polarization response at gold nanosheet edges probed by scanning near-field optical microscopy
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作者 Zhuan-Fang Bi Mu Yang Guang-Yi Shang 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第8期554-558,共5页
Optical properties of metallic edge-like structures known as knife-edges are a topic of interest and possess potential applications in enhanced Raman scattering, optical trapping, etc. In this work, we investigate the... Optical properties of metallic edge-like structures known as knife-edges are a topic of interest and possess potential applications in enhanced Raman scattering, optical trapping, etc. In this work, we investigate the near-field optical polar- ization response at the edge of a triangular gold nanosheet, which is synthesized by a wet chemical method. A homemade scanning near-field optical microscope (SNOM) in collection mode is adopted, which is able to accurately locate its probe at the edge during experiments. An uncoated straight fiber probe is used in the SNOM, because it s611 preserves the prop- erty of light polarization though it has the depolarization to some extent. By comparing near-field intensities at the edge and glass substrate, detected in different polarization directions of incident light, the edge-induced depolarization is found, which is supported by the finite differential time domain (FDTD) simulated results. The depolarized phenomenon in the near-field is similar to that in the far-field. 展开更多
关键词 NANOSHEET scanning near-field optical microscopy edge effect depotarization
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A novel phase-sensitive scanning near-field optical microscope 被引量:2
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作者 武晓宇 孙琳 +1 位作者 谭峭峰 王佳 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第5期346-351,共6页
Phase is one of the most important parameters of electromagnetic waves. It is the phase distribution that determines the propagation, reflection, refraction, focusing, divergence, and coupling features of light, and f... Phase is one of the most important parameters of electromagnetic waves. It is the phase distribution that determines the propagation, reflection, refraction, focusing, divergence, and coupling features of light, and further affects the intensity distribution. In recent years, the designs of surface plasmon polariton (SPP) devices have mostly been based on the phase modulation and manipulation. Here we demonstrate a phase sensitive multi-parameter heterodyne scanning near-field opti- cal microscope (SNOM) with an aperture probe in the visible range, with which the near field optical phase and amplitude distributions can be simultaneously obtained. A novel architecture combining a spatial optical path and a fiber optical path is employed for stability and flexibility. Two kinds of typical nano-photonic devices are tested with the system. With the phase-sensitive SNOM, the phase and amplitude distributions of any nano-optical field and localized field generated with any SPP nano-structures and irregular phase modulation surfaces can be investigated. The phase distribution and the interference pattern will help us to gain a better understanding of how light interacts with SPP structures and how SPP waves generate, localize, convert, and propagate on an SPP surface. This will be a significant guidance on SPP nano-structure design and optimization. 展开更多
关键词 phase detection scanning near-field optical microscope (snom heterodyne interferometry surface plasmon polariton (SPP) devices
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VirtualLab Fusion对SNOM光纤探针外部光场分布的仿真 被引量:1
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作者 张宝武 饶鹏辉 +1 位作者 霍剑锋 余桂英 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期494-497,共4页
为了研究扫描近场光学显微镜(SNOM)光纤探针的光学特性,采用基于场追迹方法的光学软件Virtual Lab Fusion进行了仿真实验,取得了SNOM光学探针尖端外部光场的分布情况。结果表明,沿z轴方向,不同截面上的光场分布都会呈现小孔衍射的图案,... 为了研究扫描近场光学显微镜(SNOM)光纤探针的光学特性,采用基于场追迹方法的光学软件Virtual Lab Fusion进行了仿真实验,取得了SNOM光学探针尖端外部光场的分布情况。结果表明,沿z轴方向,不同截面上的光场分布都会呈现小孔衍射的图案,其中心斑点中心强度随着z值的变大而呈近似指数函数衰减,到z=100nm位置处几乎衰减为0;中心斑点轮廓线的半峰全宽随着z值的变大而呈现先不变后增大的趋势,其拐点处于z=20nm位置处,此时对应的中心强度值为7.2V/m^2,这个强度值按指数函数计算正好处于z=0nm位置处强度的e^(-2)。结果清晰显示了SNOM光学探针的光学特性,证实SNOM探针工作时需要与样品表面保持在10nm左右的必要性。 展开更多
关键词 成像系统 扫描近场光学显微镜 场追迹 VirutalLab FUSION 光纤探针
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SNOM压电扫描器非线性特征的测量与校正
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作者 徐铁军 潘栋 +2 位作者 王佳 章恩耀 田芊 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2004年第1期79-82,共4页
扫描近场光学显微镜(SNOM)是基于非辐射场的产生和探测,能够实现超衍射极限分辨率的光学成像。但纳米精度的压电陶瓷扫描器的非线性始终是影响成像质量的关键问题。该文提出了改善SNOM系统中压电陶瓷扫描器的非线性特性的方法。在测得... 扫描近场光学显微镜(SNOM)是基于非辐射场的产生和探测,能够实现超衍射极限分辨率的光学成像。但纳米精度的压电陶瓷扫描器的非线性始终是影响成像质量的关键问题。该文提出了改善SNOM系统中压电陶瓷扫描器的非线性特性的方法。在测得的压电陶瓷位移-电压关系的基础上,运用校正压电陶瓷非线性的方法,使压电陶瓷扫描器位移输出的线性度大幅度提高,相关系数从0.99提高到0.9999。实验结果表明,经过非线性校正,SNOM光学图像质量得到明显改善。 展开更多
关键词 扫描近场光学显微镜(snom) 压电陶瓷扫描器 非线性校正
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新型光学成像技术及其在生物医学中的应用 被引量:2
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作者 沈彬 李加 +1 位作者 张彦军 李宁 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期51-53,共3页
本文介绍了在生物医学中有广泛应用前景的共焦扫描光学显微镜、扫描近场光学显微术和光学相干微术三种新型成像技术的基本原理和应用。
关键词 光学相干显微术 成像 生物医学 光学成像
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高透过率、高分辨率纳米微探针的制备 被引量:3
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作者 杨修文 祝生祥 王绍明 《微纳电子技术》 CAS 2006年第8期402-404,共3页
介绍了一种用于近场扫描光学显微镜(SNOM)中的高透过率光纤探针的制作方法。采用氢氟酸腐蚀低掺杂的普通单模石英光纤,选取适当比例的腐蚀液,并通过激光消融的方法得到直径、圆锥角均十分理想、表面光滑的针尖,所获探针直径变化范围为80... 介绍了一种用于近场扫描光学显微镜(SNOM)中的高透过率光纤探针的制作方法。采用氢氟酸腐蚀低掺杂的普通单模石英光纤,选取适当比例的腐蚀液,并通过激光消融的方法得到直径、圆锥角均十分理想、表面光滑的针尖,所获探针直径变化范围为80~200nm,锥度40°~81°,透过率3.5×10-3。 展开更多
关键词 近场扫描光学显微镜 光纤探针 化学腐蚀 激光消融
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扫描近场光学显微术对InGaP微盘发光模式的研究 被引量:1
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作者 张宇 辛永春 +5 位作者 朱星 凌勇 尹彦 周赫田 章蓓 甘子钊 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期219-224,共6页
采用反射式扫描近场光学显微技术分别对直径为5μm和10μm的图钉式InGaP光学微盘进行了形貌和光致发光的近场图样测量和研究,并与由常规光学荧光显微镜测得的荧光图象相比较.结果表明InGaP微盘的近场发光图样不仅反映... 采用反射式扫描近场光学显微技术分别对直径为5μm和10μm的图钉式InGaP光学微盘进行了形貌和光致发光的近场图样测量和研究,并与由常规光学荧光显微镜测得的荧光图象相比较.结果表明InGaP微盘的近场发光图样不仅反映出荧光图象的回音壁模式特征,即沿微盘周界显示为一圈红色亮环,而且证实荧光图像中的红色亮环实际上与更精细的由分立的周期性亮点组成的近场光场分布相对应.结合微盘内部与外部的近场分布可以获得光学微盘中发光模式的重要信息. 展开更多
关键词 扫描近场光学 显微技术 微盘型 铟镓磷 发光模式
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近场光学显微技术的进展及其应用 被引量:2
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作者 方哲宇 刘丹 +2 位作者 王笑 黄姗 朱星 《电子显微学报》 CAS CSCD 2008年第1期77-86,共10页
近场光学显微技术突破传统光学衍射极限获得了纳米尺度的空间分辨率,并在近场光存储、半导体材料、生命科学等交叉学科领域发挥了巨大的作用。本文综述了近场光学显微技术的发展现状,讨论了基于近场光学原理的超分辨近场结构在现代光刻... 近场光学显微技术突破传统光学衍射极限获得了纳米尺度的空间分辨率,并在近场光存储、半导体材料、生命科学等交叉学科领域发挥了巨大的作用。本文综述了近场光学显微技术的发展现状,讨论了基于近场光学原理的超分辨近场结构在现代光刻技术上的应用、表面等离激元的共振增强作用和束流作用在近场光学领域的进展以及表面增强拉曼散射机理的研究,并介绍了近场光学显微技术在单分子检测和细胞探测等其它生命科学领域的一些发展。 展开更多
关键词 扫描近场光学显微术 超高分辨近场结构 表面等离激元 表面增强拉曼散射 表面等离子晶体 全内反射 荧光显微术
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用扫描近场光学显微镜观察微畴 被引量:1
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作者 王克逸 金农 +7 位作者 许建斌 王莺 许明生 周绍祥 刘之景 黄文浩 胡玉禧 Wilson I H 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第5期658-663,共6页
本文利用反射式扫描近场光学显微镜观察了硫酸三甘氨酸 [(NH3CH2 COOH) 3·H2 SO4 ) ](简称TGS)晶体的电畴结构和铝酸镧晶体的孪晶畴。横向分辨率约为 5 0nm。对原有的TopometrixAuroraNSOM系统作了较大的改进。采用音叉 (tuningfo... 本文利用反射式扫描近场光学显微镜观察了硫酸三甘氨酸 [(NH3CH2 COOH) 3·H2 SO4 ) ](简称TGS)晶体的电畴结构和铝酸镧晶体的孪晶畴。横向分辨率约为 5 0nm。对原有的TopometrixAuroraNSOM系统作了较大的改进。采用音叉 (tuningfork)检测光纤探针与样品间的剪切力取代了原有的光学法振动检测。对TGS的观察说明 ,反射式扫描近场光学显微镜适合研究垂直B轴切割的TGS( 0 1 0 )面的自发极化。对这种 1 80°极化的多畴 ,可获得光学衬度较好的电畴分布图像。与形貌图像相比电畴与形貌无关。无论是新鲜解理的原子级光滑表面和表面水解的较为粗糙表面均可观察到分布较为均匀的电畴分布。采用探针发光的透射式和反射式观察铝酸镧晶体 。 展开更多
关键词 微畴 扫描近场光学显微镜 硫酸三甘氨酸 铝酸镧 晶体结构 孪晶畴
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用于扫描近场光学显微镜的一种新型非光学样品-探针间距测控方法 被引量:1
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作者 刘秀梅 洪涛 +1 位作者 王佳 李达成 《电子显微学报》 CAS CSCD 1999年第1期119-123,共5页
扫描近场光学显微镜SNOM(scanningnear-fieldopticalmicroscope)自八十年代中期以来获得了迅速的发展,并具有超衍射极限光学分辨率。作为SNOM的关键技术之一,样品与探针间距的控制十分... 扫描近场光学显微镜SNOM(scanningnear-fieldopticalmicroscope)自八十年代中期以来获得了迅速的发展,并具有超衍射极限光学分辨率。作为SNOM的关键技术之一,样品与探针间距的控制十分重要而且实现起来比较困难。基于剪切力原理,本文提出了一种新型的样品-针尖间距测控的非光学方法,即,利用压电陶瓷的压电和逆压电效应,将压电陶瓷片分为三部分,分别用于激励探针振动、固定探针以及探测针尖振动变化。该方法的灵敏度很高,可将样品-针尖的间距控制在3nm左右,而且廉价、制备十分简单。 展开更多
关键词 扫描近场光学 显微镜 间距调控 非光学法
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近场扫描光学显微图象与光谱技术 被引量:1
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作者 梅二文 顾文芳 《分析科学学报》 CAS CSCD 1999年第1期79-86,共8页
本文就近场扫描光学显微图象及光谱这一新技术的原理、主要仪器装置及其在分析化学中的应用进行了评述。目前,这一技术已被应用于室温及大气环境中的单分子检测,显示了该技术在微区痕量分析中广阔的应用前景。
关键词 近场扫描 光学显微技术 单分子检测 微区分析
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介质加载表面等离激元的近场光学观测
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作者 方哲宇 宋文涛 +3 位作者 王辰 齐洪 林峰 朱星 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期111-115,共5页
利用扫描近场光学显微术(SNOM),观测并分析了基于银膜衬底上CdS纳米带的介质加载表面等离激元(Dielectric-loaded Surface Plasmon Polariton,DLSPP)的激发现象。通过SNOM可以观察到纳米带不同位置的光致荧光光谱峰位有30meV的红移量。... 利用扫描近场光学显微术(SNOM),观测并分析了基于银膜衬底上CdS纳米带的介质加载表面等离激元(Dielectric-loaded Surface Plasmon Polariton,DLSPP)的激发现象。通过SNOM可以观察到纳米带不同位置的光致荧光光谱峰位有30meV的红移量。利用Franz-Keldysh效应可以很好地解释能量红移的产生。有限时域差分法的模拟结果进一步验证了实验中观测的现象。这种DLSPP的激发结构,对于光子集成电路及基于等离激元的微纳器件波导有实际意义。 展开更多
关键词 近场光学显微术 纳米带 表面等离激元
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紧聚焦径向偏振倏逝场的测量
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作者 周哲海 祝连庆 《激光杂志》 北大核心 2016年第6期33-36,共4页
基于径向偏振光束的全内反射荧光显微成像具有更高的成像分辨率,探究其倏逝场的强度分布规律是实现系统结构设计和优化的关键。基于矢量衍射理论,推导了聚焦的径向偏振倏逝场的数学表达式,进行了理论计算,并基于扫描近场光学显微镜搭建... 基于径向偏振光束的全内反射荧光显微成像具有更高的成像分辨率,探究其倏逝场的强度分布规律是实现系统结构设计和优化的关键。基于矢量衍射理论,推导了聚焦的径向偏振倏逝场的数学表达式,进行了理论计算,并基于扫描近场光学显微镜搭建了实验系统,测试了倏逝场的强度分布,验证了理论分析。测试结果表明,聚焦的径向偏振光束产生的倏逝场在横向及轴向都具有非常高的分辨率,在可见光波长范围内,光斑横向半高全宽度在100~200nm范围,轴向半高全宽度在40~80nm范围,突破了衍射极限,证明了该类型倏逝场在全内反射荧光显微成像领域巨大的应用价值,也为接下来的系统改进提供了技术支持。 展开更多
关键词 全内反射荧光显微成像 径向偏振光 倏逝场 扫描近场光学显微镜
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近场扫描光学显微镜中光纤探针的成象原理与设计
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作者 周骏 贾振红 《山东矿业学院学报》 CAS 1998年第3期259-263,共5页
介绍了新近发展的近场扫描光学显微镜系统中光纤探针的成象原理和作用,并从光纤探针的结构、截止频率的估算和耦合效率等方面对影响探针中成象信号传输的几个设计因素进行了理论探讨。
关键词 近场光学 扫描显微镜 光纤探针 光学成象
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纳米材料的几种扫描探针显微表征方法
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作者 褚宏祥 《光电技术应用》 2009年第5期27-29,43,共4页
扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包... 扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法,展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用. 展开更多
关键词 材料表征 扫描探针显微镜(SPM) 扫描隧道显微镜(STM) 原子力显微镜(AFM) 近场扫描光学显微镜(snom)
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利用近场光谱研究GaN蓝光二极管的杂质发光 被引量:1
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作者 凌勇 周赫田 +3 位作者 朱星 黄贵松 党小忠 张国义 《电子显微学报》 CAS CSCD 1999年第1期43-47,共5页
运用近场光谱方法研究了在蓝宝石衬底上用低压MOCVD方法外延生长的GaN蓝光二极管的杂质发光光谱。研究结果表明近场光谱为研究样品表面微观发光机理中提供了一个有力的手段,它能够给出样品表面微区空间分辨的局域光谱信息。本... 运用近场光谱方法研究了在蓝宝石衬底上用低压MOCVD方法外延生长的GaN蓝光二极管的杂质发光光谱。研究结果表明近场光谱为研究样品表面微观发光机理中提供了一个有力的手段,它能够给出样品表面微区空间分辨的局域光谱信息。本文给出了研究中所观察到的一些实验现象。 展开更多
关键词 snom 氮化镓 蓝光 二极管 杂质发光 近场光谱
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镀银膜光探针尖与银粒子间场增强最佳条件的FDTD模拟研究 被引量:2
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作者 祝雷 吴世法 李亚琴 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期84-84,86,共2页
本文利用时域有限差分法(FDTD)模拟了在p极化平面波侧向照射下,扫描近场光学显微镜镀银膜四面锥形探针扫描直径30纳米银球"热点"处的电场增强因子及最佳条件。我们得出了膜厚和探针与银球之间间隙的最佳条件:间隙3纳米时最佳... 本文利用时域有限差分法(FDTD)模拟了在p极化平面波侧向照射下,扫描近场光学显微镜镀银膜四面锥形探针扫描直径30纳米银球"热点"处的电场增强因子及最佳条件。我们得出了膜厚和探针与银球之间间隙的最佳条件:间隙3纳米时最佳膜厚为20~50纳米,此时的场增强因子最强为70左右;膜厚30纳米时,间距1纳米增强因子最强为298。 展开更多
关键词 时域有限差分法(FDTD) 扫描近场光学显微镜(snom) 热点 电场增强
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储粮品质检测评价方法研究进展 被引量:3
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作者 张书龙 蒋华伟 +4 位作者 郭陶 杨震 赵丽科 周颜 周德祥 《食品科学》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第11期291-300,共10页
品质检测评价是粮食储藏管理工作中的关键环节,一直是研究人员高度关注的热点研究领域,其在保障粮食储藏安全以及加工制品中发挥至关重要的作用。为了今后更好地开展相关工作,本文首先回顾常规基于光学、声学、介电、理化等特性和挥发... 品质检测评价是粮食储藏管理工作中的关键环节,一直是研究人员高度关注的热点研究领域,其在保障粮食储藏安全以及加工制品中发挥至关重要的作用。为了今后更好地开展相关工作,本文首先回顾常规基于光学、声学、介电、理化等特性和挥发性物质的储粮品质检测评价方法的研究进展;然后阐述当前新型检测技术如强磁场、激光诱导击穿光谱、核磁共振波谱以及扫描电子显微镜在储粮品质评价中的应用,并对比分析各种技术方法的优缺点;最后展望储粮品质检测评价方法的未来研究方向。 展开更多
关键词 储粮品质 光学检测 强磁场 激光诱导击穿光谱 核磁共振波谱 扫描电子显微镜
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扫描近场光学显微技术在半导体材料表征领域应用的研究进展 被引量:1
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作者 陈芳 魏志鹏 +6 位作者 刘国军 唐吉龙 房丹 方铉 高娴 赵海峰 王双鹏 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第23期28-33,共6页
半导体材料及其光电器件如激光器、探测器以及高速微波器件有着广阔的应用前景。半导体材料的结构和缺陷特性对器件性能起着至关重要的影响,然而对材料进行纳米尺度下的检测、表征无论是理论上还是技术和设备上都需要深入研究和发展,因... 半导体材料及其光电器件如激光器、探测器以及高速微波器件有着广阔的应用前景。半导体材料的结构和缺陷特性对器件性能起着至关重要的影响,然而对材料进行纳米尺度下的检测、表征无论是理论上还是技术和设备上都需要深入研究和发展,因此扫描近场光学显微技术在半导体材料表征领域有着无可替代的地位。扫描近场光学显微技术突破了传统光学显微技术的衍射分辨率极限的限制,具有超高空间分辨率、超高探测灵敏度等特点,并且是一种非接触性探测,具有无损伤性。简要介绍了扫描近场光学显微镜的原理及在半导体材料研究中的应用,包括量子阱结构中的位错及缺陷的表征,半导体器件的表面复合速率及扩散长度的纳米表征,以及半导体薄膜中的缺陷分布的检测。探讨了目前相关研究领域存在的主要问题,并对其发展趋势和前景进行了展望。 展开更多
关键词 扫描近场光学显微技术 半导体材料 超高空间高分辨率
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