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X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量 被引量:10
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作者 乔鹏 葛良全 +2 位作者 张庆贤 谷懿 米争锋 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第11期1295-1299,共5页
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标... 采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱分析 粉末压片制样法 化探样品 基本参数法 经验系数法
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便携式X荧光仪测定铅黄铜合金中主元素的研究应用 被引量:1
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作者 谢希成 赖万昌 +1 位作者 李军 吴和喜 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期689-693,共5页
讨论了便携式能量色散X荧光仪在测量铜合金中主元素的研究应用中[1],便携式能量色散X荧光仪测量铜合金中主量元素的最佳条件。通过实验研究证明,在测量运用中采用0.2 mm纯Al的滤片能够大大改善原级谱低能射线产生的本底,过滤效果良好。... 讨论了便携式能量色散X荧光仪在测量铜合金中主元素的研究应用中[1],便携式能量色散X荧光仪测量铜合金中主量元素的最佳条件。通过实验研究证明,在测量运用中采用0.2 mm纯Al的滤片能够大大改善原级谱低能射线产生的本底,过滤效果良好。当X光管管压和管流分别选择22 k V和8μA时可获得最佳峰背比,得到最佳激发电压和管电流。此外,针对经验系数法和基本参数法各自缺陷,利用经验系数法计算出基本参数法中的荧光相对强度和迭代所需的首次元素含量值后代入到基本参数法的流程中进行迭代。实验结果表明,应用此法进行定量分析Cu、Zn、Pb的平均相对误差1.04%、3.3%、6.22%,可见该方法能得到较好的定量结果。 展开更多
关键词 X荧光 铅黄铜合金 滤光片 最佳峰背比 经验系数-基本参数法定量 定量分析
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波长色散X射线荧光分析的新发展 被引量:2
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作者 Shimadzu (Hong Kong) Ltd., Beijing Office (Shimadzu (Hong Kong) Ltd., Beijing Office, Beijing 100020, China) 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期311-314,共4页
除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新... 除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。 展开更多
关键词 波长色散 X射线荧光分析 元素成像分析 高级次谱线分析 薄膜分析 无标样分析
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