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FP法在SDD-EDXRF无标样分析技术中的应用研究 被引量:3
1
作者 刘敏 庹先国 +1 位作者 李哲 石睿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期1096-1099,1104,共5页
为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe... 为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe-Ti两种伪二元体系样品进行能谱测量,并采用自行开发的FP法计算程序,分析得到了混合样品中各元素含量,含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2%,精密度相对标准偏差低于0.8%。结果表明,所建立的FP法分析模型,能较好克服元素间的吸收增强效应,可应用于SDD-EDXRF的无标样分析过程。 展开更多
关键词 能量色散X荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系
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SDD-EDXRF中FP法无标样校正钒钛铁间吸收增强效应 被引量:3
2
作者 刘敏 庹先国 +2 位作者 李哲 石睿 张金钊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1192-1195,1200,共5页
依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-E... 依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF)进行能谱测量,采用自行开发的FP法无标样分析程序,分析得到了三元系混合样品中各元素的含量。结果表明该无标样数理模型能较好地克服V-Ti-Fe元素间的吸收增强效应,方法的精密度相对标准偏差低于0.9%,测量值与实际值的最低相对误差小于1%。 展开更多
关键词 fp 无标样 能量色散X荧光分析 硅漂移探测器 伪三元系
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能量色散X射线荧光分析基本参数法研究 被引量:15
3
作者 戴振麟 葛良全 邹德慧 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期146-149,共4页
本文介绍了EDXRF中基本参数法原理和计算方法,基于此方法用C语言设计编写了基本参数法的计算程序。通过配制的合金样用该法测定其成分含量,结果表明所测合金样的成分含量与其化学分析结果基本上一致,精确度较高,相对标准偏差不超过1.3%。
关键词 基本参数法 X射线 合金样 含量
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X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量 被引量:10
4
作者 乔鹏 葛良全 +2 位作者 张庆贤 谷懿 米争锋 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第11期1295-1299,共5页
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标... 采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱分析 粉末压片制样法 化探样品 基本参数法 经验系数法
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多肋式梁桥模态参数分解识别与试验研究 被引量:4
5
作者 郭琦 宋一凡 贺拴海 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2007年第9期67-70,74,共5页
针对现役大量的多肋式钢筋混凝土板梁和T梁桥在横、纵桥向表现出的明显正交异性构造特征,将多肋梁等效成比拟正交异性板,应用动力分析有限条方法,建立起系统自由振动数值模型,从而实现整桥模态参数向单肋梁的分解和识别。根据模型试验... 针对现役大量的多肋式钢筋混凝土板梁和T梁桥在横、纵桥向表现出的明显正交异性构造特征,将多肋梁等效成比拟正交异性板,应用动力分析有限条方法,建立起系统自由振动数值模型,从而实现整桥模态参数向单肋梁的分解和识别。根据模型试验桥从完整到破坏不同荷载等级作用下室内动力试验成果,选取能够反映钢筋混凝土梁振动响应特性的截面等效动刚度作为目标参数进行预测。通过对结果规律对比分析,验证了本方法在该类桥梁结构检测评估中应用的可行性和高效性。 展开更多
关键词 比拟正交异性板 有限条 模态参数 基频 动刚度
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用XRF基本参数法定量计算多层薄膜的厚度 被引量:6
6
作者 眭松山 魏军 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期67-72,共6页
针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情... 针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情况下计算初级和次级荧光强度的表达式。讨论二次荧光相对于,总强度的贡献。计算方法也能很好地用在大于三层膜及块样的X荧光强度计算。 展开更多
关键词 XRF基本参数法 荧光分析 薄膜 厚度 计算
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X射线荧光分析中基本参数法的应用 被引量:2
7
作者 李纪民 张桂芹 舒培桂 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第1期15-19,共5页
文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧... 文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧光效应,散射效应进行了研究,并对合金钢样进行了分析。用标准样品检验,表示分析准确度的相对误差小于±3%;表示方法精密度的相对偏差小于±6%。 展开更多
关键词 X射线分析 荧光分析 基本参数法
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X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量 被引量:3
8
作者 葛颖新 张环月 唐侠 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2017年第2期183-189,共7页
应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除... 应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 谱线重叠校正系数 基本参数法
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不锈钢中铬的X射线荧光光谱分析 被引量:3
9
作者 刘海东 侯丽华 《化学分析计量》 CAS 2011年第2期52-54,共3页
以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法。用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的... 以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法。用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的相对标准偏差约为0.14%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 不锈钢 基本参数法
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X射线荧光光谱法测定彩涂板涂层中铅、镉和总铬 被引量:2
10
作者 范纯 华犇 朱子平 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第3期336-339,共4页
自行制备了12块校准样品,其涂层厚度和涂层中铅、镉和铬含量均按梯度分布。涂层的厚度采用GB/T 13448-2019标准所推荐的DJH法测定和定值。分析这系列样品时,测定涂层中铅、镉和总铬时用IEC 62321-5的微波法溶解后,按电感耦合等离子体原... 自行制备了12块校准样品,其涂层厚度和涂层中铅、镉和铬含量均按梯度分布。涂层的厚度采用GB/T 13448-2019标准所推荐的DJH法测定和定值。分析这系列样品时,测定涂层中铅、镉和总铬时用IEC 62321-5的微波法溶解后,按电感耦合等离子体原子发射光谱法定值。应用上述校正样品试验,并提出了直接测定彩涂板涂层中铅、镉和总铬含量的X射线荧光光谱法(XFS)彩涂板的基板为冷轧板,在其外表面有镀锌层。在这2种材料中都可能含有与有机涂层中待测定的含量近似的相同元素,将对测定造成干扰。此外,有机涂层中的基体元素钛及硅也对测定造成干扰。利用XRF仪器自带的薄层分析软件和基本参数法软件对上述干扰分别予以校正,使铅、镉、铬校准曲线的线性相关系数达到0.9。所提出方法测定铅、镉、铬的检出限(3s)依次为5×10^-4%,3×10^-4%,5×10^-4%。随机取3个校正样品,按所提出方法测定其中铅、镉与总铬的含量,并用IEC 62321-5标准方法进行校对分析。结果表明:两种方法的结果相互一致,所得测定值的相对标准偏差(n=6)为8.5%(铅),9.2%(镉)和11%(铬),均分别小于IEC标准方法测定值的相对标准偏差(n=6)为29%,14%,17%。本方法达到快速、准确的要求,适合用于RoHS规定对彩涂层的检量检测。 展开更多
关键词 彩涂板涂层 铅、镉、总铬 基本参数法
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便携式X荧光仪测定铅黄铜合金中主元素的研究应用 被引量:1
11
作者 谢希成 赖万昌 +1 位作者 李军 吴和喜 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期689-693,共5页
讨论了便携式能量色散X荧光仪在测量铜合金中主元素的研究应用中[1],便携式能量色散X荧光仪测量铜合金中主量元素的最佳条件。通过实验研究证明,在测量运用中采用0.2 mm纯Al的滤片能够大大改善原级谱低能射线产生的本底,过滤效果良好。... 讨论了便携式能量色散X荧光仪在测量铜合金中主元素的研究应用中[1],便携式能量色散X荧光仪测量铜合金中主量元素的最佳条件。通过实验研究证明,在测量运用中采用0.2 mm纯Al的滤片能够大大改善原级谱低能射线产生的本底,过滤效果良好。当X光管管压和管流分别选择22 k V和8μA时可获得最佳峰背比,得到最佳激发电压和管电流。此外,针对经验系数法和基本参数法各自缺陷,利用经验系数法计算出基本参数法中的荧光相对强度和迭代所需的首次元素含量值后代入到基本参数法的流程中进行迭代。实验结果表明,应用此法进行定量分析Cu、Zn、Pb的平均相对误差1.04%、3.3%、6.22%,可见该方法能得到较好的定量结果。 展开更多
关键词 X荧光 铅黄铜合金 滤光片 最佳峰背比 经验系数-基本参数法定量 定量分析
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X射线荧光光谱基本参数法测定水泥生料组分 被引量:8
12
作者 张磊 王益民 +1 位作者 刘明博 刘小东 《中国建材科技》 2007年第4期12-16,共5页
采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足... 采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足。分析结果表明:基本参数法速度稍慢,测试结果满足水泥生产要求,需要标样的数量较少,适合对水泥生料的基体效应进行校正。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 基本参数法 基体效应 生料
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基于分源预测法的瓦斯涌出量预测共享平台的构建 被引量:7
13
作者 齐庆杰 夏世羽 《矿业安全与环保》 北大核心 2018年第2期59-64,共6页
为了能方便快捷、实时准确地对矿井瓦斯涌出量进行预测,以分源预测法为基础,利用数据库技术将瓦斯涌出量预测所涉及的数据划分为瓦斯基础参数实体、瓦斯源实体、瓦斯涌出量实体,将测点信息、影响瓦斯涌出量的工艺参数、瓦斯涌出量等分... 为了能方便快捷、实时准确地对矿井瓦斯涌出量进行预测,以分源预测法为基础,利用数据库技术将瓦斯涌出量预测所涉及的数据划分为瓦斯基础参数实体、瓦斯源实体、瓦斯涌出量实体,将测点信息、影响瓦斯涌出量的工艺参数、瓦斯涌出量等分别抽象为实体的属性,并利用MYSQL Workbench数据库建模工具构建瓦斯涌出量预测相关实体的EER(强化的实体关系)图;以采区为矿井瓦斯涌出量预测算法的基本单元,将矿井瓦斯涌出量预测算法过程划分为采区、回采工作面、掘进工作面、邻近层等4个循环体,将每一个瓦斯源瓦斯涌出量预测设计为函数,从而构建基于B/S(浏览器/服务器)模式的预测准确和易于扩展的瓦斯涌出量预测共享平台。 展开更多
关键词 瓦斯涌出量 分源预测法 瓦斯基础参数实体 瓦斯源实体关系 瓦斯源函数 B/S模式
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六重对称PC光纤结构参数对基模损耗影响研究
14
作者 汤炳书 刘丽丽 +1 位作者 殷恭维 沈廷根 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2007年第5期461-464,共4页
用多极方法数值研究构成六重对称全内反射型光子晶体光纤各种结构参数对1.55μm处基模限制损耗的调节,数值结果表明包层空气孔层数、空气孔直径、间距、相对孔径对限制损耗都有影响,其中空气孔层数的影响极大,在其他参数不变时层数越多... 用多极方法数值研究构成六重对称全内反射型光子晶体光纤各种结构参数对1.55μm处基模限制损耗的调节,数值结果表明包层空气孔层数、空气孔直径、间距、相对孔径对限制损耗都有影响,其中空气孔层数的影响极大,在其他参数不变时层数越多限制损耗越小。层数与间距一定时,包层空气孔直径越大限制损耗越小;层数与包层空气孔直径一定时,间距越大限制损耗越大;在层数与相对孔径一定时,限制损耗随空气孔半径与间距的同比增大而减小。 展开更多
关键词 六重对称全内反射型光子晶体光纤 多极方法 基模限制损耗 结构参数
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微束微区X探针分析仪在大气颗粒监测中的应用
15
作者 宋卫杰 葛良全 殷经鹏 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第10期1394-1397,共4页
探讨了一种微束微区X探针分析仪在大气颗粒监测中的应用,通过对成都理工大学校园内及附近高速路口大气单颗粒的外貌结构及其无机成分的分析,探索其分布规律。表明了微束微区X探针分析仪是大气单颗粒无机成分分析的有力工具,对进一步认... 探讨了一种微束微区X探针分析仪在大气颗粒监测中的应用,通过对成都理工大学校园内及附近高速路口大气单颗粒的外貌结构及其无机成分的分析,探索其分布规律。表明了微束微区X探针分析仪是大气单颗粒无机成分分析的有力工具,对进一步认识大气颗粒物的环境行为有重要的作用,在大气环境监测中具有广阔的前景。 展开更多
关键词 X射线微区分析 基本参数法 环境监测 大气单颗粒 无机成分
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C_(6v)TIR-PCF基模有效面积数值研究
16
作者 汤炳书 秦家千 沈廷根 《光通信研究》 北大核心 2007年第3期45-47,共3页
用多极方法数值研究了六重对称全内反射型光子晶体光纤(C6vTIR-PCF)在1.55μm波长处基模有效面积与包层空气孔层数、直径、间距和相对孔径的关系。结果表明层数的影响较小,在单一参数变化时有效面积随空气孔直径的变大而减小,随间距的... 用多极方法数值研究了六重对称全内反射型光子晶体光纤(C6vTIR-PCF)在1.55μm波长处基模有效面积与包层空气孔层数、直径、间距和相对孔径的关系。结果表明层数的影响较小,在单一参数变化时有效面积随空气孔直径的变大而减小,随间距的增大而变大,在层数与相对孔径一定时有效面积随空气孔半径与间距的同比增大而增大。 展开更多
关键词 六重对称全内反射型光子晶体光纤 多极方法 基模有效面积 结构参数
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n阶变系数非齐线性方程P(x,D)y=cose^x(或sine^x)的特解
17
作者 徐千里 《益阳师专学报》 1999年第6期13-16,共4页
利用Lagrange参数交易法和初等行变换相结合的方法,给出了n阶变系数非齐线性方程p(x,D)y=cosex(或sinex)的特解.
关键词 Lagrange参数变易法 初等行变换 基本解组 特解 变系数非齐线性方程 常微分方程
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EDXRF无标样分析未知样品含量的算法研究 被引量:2
18
作者 白海涛 葛良全 +4 位作者 张庆贤 刘永利 程锋 张罡 赵奎 《同位素》 CAS 2018年第1期14-19,共6页
针对未知样品能量色散X射线荧光分析(energy dispersive X-ray fluorescence analysis,EDXRFA)方法开展无标样分析,通过测量Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样,得到Rh靶材原级谱中Kα峰的相干与非相干散射峰强度比值R,并建立R... 针对未知样品能量色散X射线荧光分析(energy dispersive X-ray fluorescence analysis,EDXRFA)方法开展无标样分析,通过测量Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样,得到Rh靶材原级谱中Kα峰的相干与非相干散射峰强度比值R,并建立R与对应单元素标样有效原子序数的关系,得到Zeff-R的拟合曲线。求解未知样品基体时,测量未知样,得到其R,将R代入Zeff-R拟合曲线得到未知样有效原子序数,再通过基本参数法迭代计算其质量衰减系数。利用Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样刻度仪器获取Gi参数,求解未知样品基体时用于相应元素的基本参数迭代。为验证算法可靠性,采用本算法分析15个国家土壤标准样品,结果表明,Ti、Fe、Ni、Cu、Zn元素的计算含量与标准含量接近,部分低含量元素受到散射本底等因素影响,含量误差较大。结果表明,该方法能够用于现场能量色散X射线荧光分析。 展开更多
关键词 能量色散X射线荧光分析 基本参数法 有效原子序数 质量衰减系数
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Tchebychev近似基本解的边界元法在结构边界条件识别中的应用
19
作者 朱继梅 相小宁 《上海机械学院学报》 1992年第3期55-59,共5页
本文用边界元法的数值计算与动态测试相结合的方法来识别结构的边界条件。在导出边界积分方程时,文中采用了近似基本解技术,用Tchebychev多项式组成的级数来逼近解析的基本解。文中以薄板结构作为研究对象,用计算机仿真算例识别了矩形... 本文用边界元法的数值计算与动态测试相结合的方法来识别结构的边界条件。在导出边界积分方程时,文中采用了近似基本解技术,用Tchebychev多项式组成的级数来逼近解析的基本解。文中以薄板结构作为研究对象,用计算机仿真算例识别了矩形板的弹性支承刚度。仿真结果说明方法是有效和可靠的。 展开更多
关键词 边界元法 识别 边界条件 结构
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铝青铜合金样品的X射线荧光光谱分析 被引量:2
20
作者 侯丽华 刘海东 《化学分析计量》 CAS 2011年第1期68-70,共3页
建立了X射线光谱测定铝青铜系列铜合金中Al、Mn、Fe、Si、Ni、Zn、Sn和Pb 8种元素的方法,探讨电流、电压对荧光强度的影响,基体效应校正采用基本参数法。用该方法对实际样品进行分析,分析结果与化学法分析结果相吻合。各元素测定结果的... 建立了X射线光谱测定铝青铜系列铜合金中Al、Mn、Fe、Si、Ni、Zn、Sn和Pb 8种元素的方法,探讨电流、电压对荧光强度的影响,基体效应校正采用基本参数法。用该方法对实际样品进行分析,分析结果与化学法分析结果相吻合。各元素测定结果的相对标准偏差为0.10%~5.56%(n=10)。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 铝青铜合金 基本参数法
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