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基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术 被引量:4
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作者 王伟 韩银和 +1 位作者 李晓维 张佑生 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第2期282-286,共5页
众所周知,CMO S电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关... 众所周知,CMO S电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应.然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定位(X位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法.实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流. 展开更多
关键词 漏电流 不确定位 遗传算法
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双游程编码的无关位填充算法 被引量:6
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作者 方昊 姚博 +1 位作者 宋晓笛 程旭 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第1期1-6,共6页
双游程编码是集成电路测试数据压缩的一种重要方法,可分为无关位填充和游程编码压缩两个步骤.现有文献大都着重在第二步,提出了各种不同的编码压缩算法,但是对于第一步的无关位填充算法都不够重视,损失了一定的潜在压缩率.本文首先分析... 双游程编码是集成电路测试数据压缩的一种重要方法,可分为无关位填充和游程编码压缩两个步骤.现有文献大都着重在第二步,提出了各种不同的编码压缩算法,但是对于第一步的无关位填充算法都不够重视,损失了一定的潜在压缩率.本文首先分析了无关位填充对于测试数据压缩率的重要性,并提出了一种新颖的双游程编码的无关位填充算法,可以适用于不同的编码方法,从而得到更高的测试数据压缩率.该算法可以与多种双游程编码算法结合使用,对解码器的硬件结构和芯片实现流程没有任何的影响.在ISCAS89的基准电路的实验表明,对于主流的双游程编码算法,结合该无关位填充算法后能提高了6%-9%的测试数据压缩率. 展开更多
关键词 集成电路测试 测试数据压缩 游程编码 无关位填充
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检测含无关项特殊布尔函数的表格算法 被引量:1
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作者 邵梁 《科技通报》 2018年第6期15-18,共4页
从冗余函数、线性函数、自反函数、自双反函数四类特殊布尔函数的定义出发,讨论了检测含无关项特殊布尔函数的表格算法。该算法应用表格列出布尔函数1值最小项及无关项的二进制编码,取反1值最小项及无关项二进制编码中的相应位产生新项... 从冗余函数、线性函数、自反函数、自双反函数四类特殊布尔函数的定义出发,讨论了检测含无关项特殊布尔函数的表格算法。该算法应用表格列出布尔函数1值最小项及无关项的二进制编码,取反1值最小项及无关项二进制编码中的相应位产生新项。通过比较新项与原最小项之间的异同实现特殊布尔函数的检测。应用实例表明,表格算法具有快速便捷、适用于多变量函数及易于计算机编程操作等优点。 展开更多
关键词 无关项 冗余函数 线性函数 自反函数 自双反函数 表格算法
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基于数据相关性的测试数据压缩方法
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作者 王志杰 毛志刚 《现代电子技术》 2009年第16期8-11,共4页
为了减少测试数据量,提出一种利用数据中大量无关位的特殊相关性进行编码压缩的方法,压缩步骤分两步,先选定参考数据,然后利用相关性将与参考数据兼容的数据块编码为"11",数据互补的数据块编码为"10",弥补了FDR码... 为了减少测试数据量,提出一种利用数据中大量无关位的特殊相关性进行编码压缩的方法,压缩步骤分两步,先选定参考数据,然后利用相关性将与参考数据兼容的数据块编码为"11",数据互补的数据块编码为"10",弥补了FDR码单一编码的不足。解压结构包括一个与参考数据等长的循环移位寄存器和一个有限状态机,结构简单,与Golomb码和FDR码中需要一个与测试向量等长的循环移位寄存器相比,消耗的硬件资源小。针对ISCAS-89标准电路测试向量集的压缩实验结果表明,该方法可以有效地压缩测试数据,且效果比Golomb码和FDR码更好,硬件开销更小。 展开更多
关键词 数据块兼容/互补 测试向量压缩 解压 无关位
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