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DPA(TCNQ)_2的烧孔阈值电压对脉宽的依赖关系
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作者 于学春 张然 +2 位作者 彭海琳 张莹莹 刘忠范 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2004年第6期561-564,共4页
合成了一种新的二元电荷转移复合物DPA(TCNQ)2(二丙胺-7,7,8,8-四氰基对亚甲基苯醌),并得到了其单晶ab面的STM高分辨图像,表面晶格常数与体相晶格常数的XRD数据完全一致.用STM成功地写入了5×5的信息点阵,并在5.1μm×5.1μm的... 合成了一种新的二元电荷转移复合物DPA(TCNQ)2(二丙胺-7,7,8,8-四氰基对亚甲基苯醌),并得到了其单晶ab面的STM高分辨图像,表面晶格常数与体相晶格常数的XRD数据完全一致.用STM成功地写入了5×5的信息点阵,并在5.1μm×5.1μm的面积上写入更大规模的信息点阵,写入的可靠性和稳定性都很高.实验发现,烧孔阈值电压强烈依赖于脉宽,这一现象不支持场致蒸发的机理.理论分析表明,它支持热化学烧孔的机理. 展开更多
关键词 DPA(TCNQ)2(dipropylamine tetracyanoquinodimethane) 高分辨STM图像 场致蒸发 热化学烧孔机理
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