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电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计
被引量：
5
1
作者
何为
何传红
刘斌
《重庆大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期1274-1279,1290,共7页
电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的数字相敏检波器(digital phase-sensitive detector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上,...
电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的数字相敏检波器(digital phase-sensitive detector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上,推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系。给出了测量系统的实现方案,提出了基于直接数字频率合成(direct digitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)时钟设计方法。采用高速多通道ADC芯片,辅以低抖动ADC时钟电路,最终由FPGA实现实时DPSD算法。实验测试结果显示,测量准确度可达0.03%,系统信噪比可达85dB。琼脂模型成像实验证明其性能可以较好地满足电阻抗成像的要求。
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关键词
电阻抗成像
数字相敏检波器
信噪比
现场可编程门阵列
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职称材料
题名
电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计
被引量：
5
1
作者
何为
何传红
刘斌
机构
重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室
出处
《重庆大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期1274-1279,1290,共7页
基金
国家高技术研究发展计划(863计划)资助项目(2006AA02Z4B7)
中俄国际合作项目(ISCP2007DFR30080)
文摘
电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的数字相敏检波器(digital phase-sensitive detector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上,推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系。给出了测量系统的实现方案,提出了基于直接数字频率合成(direct digitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)时钟设计方法。采用高速多通道ADC芯片,辅以低抖动ADC时钟电路,最终由FPGA实现实时DPSD算法。实验测试结果显示,测量准确度可达0.03%,系统信噪比可达85dB。琼脂模型成像实验证明其性能可以较好地满足电阻抗成像的要求。
关键词
电阻抗成像
数字相敏检波器
信噪比
现场可编程门阵列
Keywords
electrical impedance tomography （EIT）
digital phase-sensitive detector （dpsd）
signal-tonoise ratio（SNR）
field programmable gate array（FPGA）
分类号
TM930 [电气工程—电力电子与电力传动]
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出处
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被引量
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1
电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计
何为
何传红
刘斌
《重庆大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
5
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