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A large language model-powered literature review for high-angle annular dark field imaging
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作者 Wenhao Yuan Cheng Peng Qian He 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第9期76-81,共6页
High-angle annular dark field(HAADF)imaging in scanning transmission electron microscopy(STEM)has become an indispensable tool in materials science due to its ability to offer sub-°A resolution and provide chemic... High-angle annular dark field(HAADF)imaging in scanning transmission electron microscopy(STEM)has become an indispensable tool in materials science due to its ability to offer sub-°A resolution and provide chemical information through Z-contrast.This study leverages large language models(LLMs)to conduct a comprehensive bibliometric analysis of a large amount of HAADF-related literature(more than 41000 papers).By using LLMs,specifically ChatGPT,we were able to extract detailed information on applications,sample preparation methods,instruments used,and study conclusions.The findings highlight the capability of LLMs to provide a new perspective into HAADF imaging,underscoring its increasingly important role in materials science.Moreover,the rich information extracted from these publications can be harnessed to develop AI models that enhance the automation and intelligence of electron microscopes. 展开更多
关键词 large language models high-angle annular dark field imaging deep learning
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Scanning transmission electron microscopy: A review of high angle annular dark field and annular bright field imaging and applications in lithium-ion batteries 被引量:2
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作者 Yu-Xin Tong Qing-Hua Zhang Lin Gu 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第6期23-34,共12页
Scanning transmission electron microscopy(STEM) has been shown as powerful tools for material characterization,especially after the appearance of aberration-corrector which greatly enhances the resolution of STEM. H... Scanning transmission electron microscopy(STEM) has been shown as powerful tools for material characterization,especially after the appearance of aberration-corrector which greatly enhances the resolution of STEM. High angle annular dark field(HAADF) and annular bright field(ABF) imaging of the aberration-corrected STEM are widely used due to their high-resolution capabilities and easily interpretable image contrasts. However, HAADF mode of the STEM is still limited in detecting light elements due to the weak electron-scattering power. ABF mode of the STEM could detect light and heavy elements simultaneously, providing unprecedented opportunities for probing unknown structures of materials. Atomiclevel structure investigation of materials has been achieved by means of these imaging modes, which is invaluable in many fields for either improving properties of materials or developing new materials. This paper aims to provide a introduction of HAADF and ABF imaging techniques and reviews their applications in characterization of cathode materials, study of electrochemical reaction mechanisms, and exploring the effective design of lithium-ion batteries(LIBs). The future prospects of the STEM are also discussed. 展开更多
关键词 scanning transmission electron microscopy high angle annular dark field annular bright field lithium-ion batteries
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Development of X-ray dark-field imaging towards clinical application 被引量:1
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作者 ANDOMasami HASHIMOTOEiko +13 位作者 HASHIZUMEHiroyuki HYODOKazuyuki INOUEHajime ISHIKAWATetsuya KUNISADAToshiyuki MAKSIMENKOAnton PATTANASIRIWISAWAWanwisa RUBENSTEINEdward ROBERSONJoseph SHIMAODaisuke SUGIYAMAHiroshi TAKEDAKen UENOEi WADAHiroshi 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2004年第3期129-139,共11页
Review of X-ray dark-field imaging under development is presented. Its goal is its application to clinical diagnosis of organs that have been invisible by the ordinary techniques. In order to clinically visualize tiss... Review of X-ray dark-field imaging under development is presented. Its goal is its application to clinical diagnosis of organs that have been invisible by the ordinary techniques. In order to clinically visualize tissues in detail one needs high contrast and high spatial resolution say ~50 μm. This X-ray optics comprises a Bragg asymmetric monochro-collimator and a Bragg case or a Laue case filter with capability of analyzing angle in a parallel position. Their diffraction index is 4,4,0 and the X-ray energy 35 keV (λ= 0.0354 nm). The filter has 0.6 mm thickness in the Bragg case or 1.075 mm or 2.15 mm thickness in the Laue case. Under this condition only the refracted X-rays from object can transmit through the filter while the beam that may receive absorption and/or phase change will not. Soft tissues at human joints thus taken show high contrast images so that the DFI is promising for clinical diagnosis. Preliminary X-ray absorption images of another clinical candidates of ear bones are also shown. 展开更多
关键词 X射线暗场成像 X射线亮场成像 X射线诊断学 布拉格滤波器 布拉格不对称单色准直仪
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直接反射在线可视铁谱暗场显微成像特性分析
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作者 李博 袁勋 +3 位作者 尹智 吴伟 邵军 马富银 《西安交通大学学报》 北大核心 2025年第2期189-200,共12页
为评估直接反射在线可视铁谱(OLVF)暗场显微成像特性,提出了一种磨粒暗场显微成像模型。基于朗伯余弦和光后向散射理论建立了直接反射OLVF显微成像系统的反射光辐照度叠加模型,以实现磨粒暗场显微成像质量的定量评价;仿真计算互补金属... 为评估直接反射在线可视铁谱(OLVF)暗场显微成像特性,提出了一种磨粒暗场显微成像模型。基于朗伯余弦和光后向散射理论建立了直接反射OLVF显微成像系统的反射光辐照度叠加模型,以实现磨粒暗场显微成像质量的定量评价;仿真计算互补金属氧化物半导体(CMOS)像面的反差透视比,分析了光学倍率、油液衰减系数和后向散射角变化对磨粒暗场显微成像清晰度的影响规律,确定了磨粒暗场显微成像的最优光学倍率为2.2和油液衰减系数大于2.0;明确CMOS像面的反差透视比在0.210~0.846范围内变化,直接反射OLVF可通过暗场显微成像获得较高清晰度的磨粒图像,其磨粒探测精度约为10μm。磨粒图像采集实验测试结果表明:直接反射OLVF暗场显微成像不仅能够从油液衰减系数大于2.28的原油、柴油机油中可靠捕获磨粒视觉信息,而且可从油液衰减系数小于2.0的液压油、齿轮油中获取磨粒谱片图像,解决了不同油液中金属磨粒探测问题,为在线监测采油装备磨损提供了可能性。 展开更多
关键词 直接反射在线可视铁谱 暗场显微成像 反差透视比 原油 磨粒
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基于一维光子晶体的模块化暗场显微成像系统
5
作者 张斗国 赵伟 +6 位作者 范泽滔 谢书玥 尤新祥 李成恩 李秀芳 王中平 张增明 《物理实验》 2025年第3期11-17,38,共8页
搭建了模块化、明-暗场模式可切换的显微成像系统,可用于透明生物细胞(如洋葱皮细胞)的暗场与明场无标记成像.基于该光子晶体器件的平面特性,将其与微流控芯片进行有机结合,实现了微流通道中物体运动行为的实时成像.通过搭建光学显微镜... 搭建了模块化、明-暗场模式可切换的显微成像系统,可用于透明生物细胞(如洋葱皮细胞)的暗场与明场无标记成像.基于该光子晶体器件的平面特性,将其与微流控芯片进行有机结合,实现了微流通道中物体运动行为的实时成像.通过搭建光学显微镜,并对采集的图像进行数据分析与计算,可以加深学生对菲涅耳公式、明-暗场成像原理、成像系统放大率、数值孔径等物理概念的理解,锻炼学生的实验动手能力和科研实践能力,开阔其眼界,提升其探索前沿科学的兴趣和能力. 展开更多
关键词 暗场光学显微镜 一维光子晶体 模块化仪器
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Exact solution of phantom dark energy model
6
作者 王文福 税正伟 唐斌 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第11期712-716,共5页
We investigate the phantom dark energy model derived from the scalar field with a negative kinetic term. By assuming a particular relation between the time derivative of the phantom field and the Hubble function, an e... We investigate the phantom dark energy model derived from the scalar field with a negative kinetic term. By assuming a particular relation between the time derivative of the phantom field and the Hubble function, an exact solution of the model is constructed. Absence of the 'big rip' singularity is shown explicitly. We then derive special features of phantom dark energy model and show that its predictions are consistent with all astrophysical observations. 展开更多
关键词 COSMOLOGY dark energy phantom field exact solution
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高速大像素CMOS图像传感器中钳位光电二极管形状设计的研究进展
7
作者 张文轩 程正喜 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第6期514-523,共10页
采用钳位光电二极管(PPD)的CMOS图像传感器,由于其优异的性能,已成为图像传感领域中占主导地位的技术。然而,更大尺寸PPD的应用在电荷传输速度和效率方面存在挑战,特别是在微光、高速探测的场景中,传统的像素设计难以满足必要的性能标... 采用钳位光电二极管(PPD)的CMOS图像传感器,由于其优异的性能,已成为图像传感领域中占主导地位的技术。然而,更大尺寸PPD的应用在电荷传输速度和效率方面存在挑战,特别是在微光、高速探测的场景中,传统的像素设计难以满足必要的性能标准。一种有效的方法是通过PPD的形状设计来提升大像素性能。首先全面概述了产生PPD横向电场的两种机制:边缘电场设计和钳位电压调制,并探讨了基于这两种设计策略的各种设计改进。然后总结了传输栅-浮空扩散(TG-FD)节点收集结构及像素整体布局优化的相关研究进展。此外,还研究了PPD的形状设计对暗电流的影响。通过全面分析PPD形状设计中采用的方法,为提升大像素设计提供了参考。 展开更多
关键词 CMOS图像传感器 大尺寸像素 横向电场 电荷转移 暗电流
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基于接近接触式曝光机的暗场对准技术
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作者 王振宇 周卓跃 李康平 《电子工业专用设备》 2024年第5期47-51,共5页
为了解决接近接触式曝光机实际生产过程中标记范围较小的问题,设计一种气缸控制结构。配合显微镜的升降和显微镜的光路,形成一套适用于接近接触式曝光机的暗场对准的软硬件技术,实现了暗场掩膜对准的成本降低,提升了接近接触式曝光机的... 为了解决接近接触式曝光机实际生产过程中标记范围较小的问题,设计一种气缸控制结构。配合显微镜的升降和显微镜的光路,形成一套适用于接近接触式曝光机的暗场对准的软硬件技术,实现了暗场掩膜对准的成本降低,提升了接近接触式曝光机的对准效率和稳定性提升。 展开更多
关键词 曝光机 暗场对准 误差补偿
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全内反射照明光学元件损伤检测信噪比分析 被引量:16
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作者 彭志涛 魏晓峰 +5 位作者 元浩宇 傅学军 陈德怀 孙志红 刘华 徐隆波 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2011年第6期1111-1114,共4页
适合的光学元件照明对终端光学元件损伤检测成像至关重要。基于平板光学元件的全内反射原理,将阵列LED边缘照明光耦合进大口径光学元件,光学元件上疵点处的全内反射条件被破坏,光线从疵点出射,用相机对元件成像,散射光就会在相机CCD上... 适合的光学元件照明对终端光学元件损伤检测成像至关重要。基于平板光学元件的全内反射原理,将阵列LED边缘照明光耦合进大口径光学元件,光学元件上疵点处的全内反射条件被破坏,光线从疵点出射,用相机对元件成像,散射光就会在相机CCD上形成疵点的图像,它是暗背景中的亮点,因此图像信噪比很高,解决了损伤检测过程中疵点到底归属于光学系统中哪块光学元件的难题。建立了被检测元件损伤点的信噪比模型,分析了临近损伤元件损伤对检测结果的影响。离线验证结果表明:对于310 mm×310 mm口径的平面光学元件,全口径检测分辨率优于120μm×120μm。 展开更多
关键词 全内反射照明 损伤检测 暗场成像
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光学元件损伤在线检测装置及实验研究 被引量:20
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作者 任冰强 黄惠杰 +5 位作者 张维新 赵永凯 韩广礼 杜龙龙 王树森 路敦武 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第4期465-468,共4页
 利用暗场成像原理,研制成功一套应用于大型激光装置的光学元件损伤在线检测装置,并在多程放大系统上进行了实验研究。与传统的检测手段相比,该检测装置可以实现对光学系统的在线检测,并可对损伤点的图像进行分析处理,最后提出通过减...  利用暗场成像原理,研制成功一套应用于大型激光装置的光学元件损伤在线检测装置,并在多程放大系统上进行了实验研究。与传统的检测手段相比,该检测装置可以实现对光学系统的在线检测,并可对损伤点的图像进行分析处理,最后提出通过减小像差和扩大检测范围的方法来改进该装置的检测效果。 展开更多
关键词 光学元件 光学损伤检测 暗场成像技术
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在轨完成CCD非均匀性校正的方法 被引量:8
11
作者 李丙玉 王晓东 李哲 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2011年第2期255-259,共5页
为使空间遥感相机图像具有良好的均匀性,利用XQ2VP40FPGA在轨实时完成TDI-CCD非均匀性校正。首先对CCD非均匀性校正原理进行分析,提出了半饱和灰度值和暗场灰度值的两点校正法;然后,介绍了空间遥感相机的系统结构,利用FPGA实现了校正算... 为使空间遥感相机图像具有良好的均匀性,利用XQ2VP40FPGA在轨实时完成TDI-CCD非均匀性校正。首先对CCD非均匀性校正原理进行分析,提出了半饱和灰度值和暗场灰度值的两点校正法;然后,介绍了空间遥感相机的系统结构,利用FPGA实现了校正算法;最后,通过实验对均匀性校正的有效性进行了验证。实验结果证明:FPGA在轨实时完成CCD非均匀性校正的方法是可行的,对于非均匀性5%的TDI-CCD,校正后非均匀性控制在1%以内。 展开更多
关键词 在轨 实时 TDI-CCD 暗场 非均匀性
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光学元件损伤暗场图像中的目标自动提取研究 被引量:6
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作者 李付明 李大海 +3 位作者 彭志涛 张际 孙志红 曹益平 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期25-27,共3页
基于光学元件损伤暗场成像图像的特点以及每个像素与周边的梯度关系,选择灰度——梯度对共生矩阵为研究模型,该模型集中反映了损伤图像中两种最基本的要素——灰度信息和梯度信息(边缘)。利用该模型产生准则函数,在信息论中最大熵原理... 基于光学元件损伤暗场成像图像的特点以及每个像素与周边的梯度关系,选择灰度——梯度对共生矩阵为研究模型,该模型集中反映了损伤图像中两种最基本的要素——灰度信息和梯度信息(边缘)。利用该模型产生准则函数,在信息论中最大熵原理基础上,应用文中改进的二维最大熵算法能自动确定最佳分割阈值,实现了对暗场图像的分割。该算法能够准确的从光学元件损伤暗场图像中提取损伤目标,为目标识别、精确定位和损伤大小的精确计算等后续处理提供依据。为了验证该算法,试验中对多个光学元件损伤暗场图像进行了处理分析,试验表明,该算法分割得到的损伤目标与实际相符,误差在检测的范围之内,为大型光学系统中光学元件损伤的在线、自动化检测提供了一种有效的技术途径。 展开更多
关键词 灰度——梯度共生矩阵 二维最大熵 暗场成像 在线检测
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SiO_2包覆纳米CaCO_3的透射电镜表征 被引量:5
13
作者 施用晞 邵磊 陈建峰 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第3期103-105,共3页
在透射电子显微镜(TEM)电子衍射模式下,用适当孔径的物镜光阑选择非晶态S iO2的衍射区域,拍摄以溶胶-凝胶法制备的S iO2包覆纳米CaCO3的暗场像。与未经包覆S iO2的纳米CaCO3的暗场像作对比,可以看出经过S iO2包覆的纳米CaCO3粒子周围有... 在透射电子显微镜(TEM)电子衍射模式下,用适当孔径的物镜光阑选择非晶态S iO2的衍射区域,拍摄以溶胶-凝胶法制备的S iO2包覆纳米CaCO3的暗场像。与未经包覆S iO2的纳米CaCO3的暗场像作对比,可以看出经过S iO2包覆的纳米CaCO3粒子周围有一白色亮环,从而得到S iO2包覆层的暗场照片。用高分辨方法观察了包覆层与CaCO3粒子间的界面情况。 展开更多
关键词 SiO2-CaCO3 纳米复合材料 透射电子显微镜 暗场像
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超薄切片与高角环形暗场像联用表征Pd/Al_2O_3催化剂贵金属的分散性 被引量:5
14
作者 杨卫亚 凌凤香 +2 位作者 沈智奇 王少军 张会成 《精细石油化工》 CSCD 北大核心 2017年第4期1-4,共4页
通过超薄切片与高角环形暗场像联用表征蒽醌加氢制双氧水Pd/Al_2O_3催化剂贵金属的分散性,提出了以平均尺寸、尺寸分布、空间粒子密度及表面原子分散度4个指标全面评估负载型贵金属催化剂金属分散性质的方法。实验结果显示,Pd/Al_2O_3... 通过超薄切片与高角环形暗场像联用表征蒽醌加氢制双氧水Pd/Al_2O_3催化剂贵金属的分散性,提出了以平均尺寸、尺寸分布、空间粒子密度及表面原子分散度4个指标全面评估负载型贵金属催化剂金属分散性质的方法。实验结果显示,Pd/Al_2O_3催化剂切片厚度以30~40nm较为适宜,能够获得幅面更大的试样薄区,从而根据高角环形暗场像得到催化剂的平均尺寸、尺寸分布、空间粒子密度及表面原子分散度的信息。超薄切片与高角环形暗场像联用可以克服化学吸附法及普通TEM表征贵金属分散度的不足。所述的组合表征方法与氢氧滴定相比,不仅可以得到贵金属原子表面分散度,还可以更直观、全面评价贵金属在载体上的分散状态,尤其对不适合使用氢氧滴定法及常规TEM衬度成像难以区分的金属纳米粒子和载体的体系,具有较高应用价值。 展开更多
关键词 超薄切片 高角环形暗场像 贵金属催化剂 分散性
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大口径精密光学元件质量检测装置 被引量:3
15
作者 米曾真 谢志江 +3 位作者 袁晓东 刘长春 徐旭 楚红雨 《计量学报》 CSCD 北大核心 2012年第4期321-325,共5页
针对精密光学元件表面缺陷检测效率低、大口径元件不便于检测问题,设计了一种应用于大型激光装置的大口径光学元件缺陷检测装置。通过强光手电筒、LED灯及高亮度卤素灯3种光源对40mm×40mm的K9样片暗场成像对比实验,得知光照强度... 针对精密光学元件表面缺陷检测效率低、大口径元件不便于检测问题,设计了一种应用于大型激光装置的大口径光学元件缺陷检测装置。通过强光手电筒、LED灯及高亮度卤素灯3种光源对40mm×40mm的K9样片暗场成像对比实验,得知光照强度最大的卤素灯光源检测效果最佳。研究了基于线阵CCD扫描的三维电控平移台的运动机理,确保高精度图像的采集。在此基础上,分析了图像区域定位、二值化处理、缺陷的检测等关键技术,实现了元件的高精度、实时在线检测。 展开更多
关键词 计量学 精密光学元件 暗场成像 图像处理 激光惯性约束聚变 线阵CCD 三维平移台
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核/壳型Fe/Y_2O_3纳米复合粒子的制备及微结构分析 被引量:2
16
作者 俞快 黄昊 +2 位作者 张雪峰 王登科 董星龙 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第5期727-730,共4页
以Fe和Y2O3的微米粉为原料,压制成块体靶材,利用物理气相蒸发法原位合成了核/壳型Fe/Y2O3纳米复合粒子,并对其成分、形态和微结构进行了研究。高分辨透射电镜和暗场成像分析结果表明Fe/Y2O3纳米复合粒子具有清晰的"核/壳"结构... 以Fe和Y2O3的微米粉为原料,压制成块体靶材,利用物理气相蒸发法原位合成了核/壳型Fe/Y2O3纳米复合粒子,并对其成分、形态和微结构进行了研究。高分辨透射电镜和暗场成像分析结果表明Fe/Y2O3纳米复合粒子具有清晰的"核/壳"结构,其内核及外壳分别为-αFe和体心立方相Y2O3。通过"定量氧辅助-气-液-固"机制对纳米复合粒子的形成过程进行了探讨。实验结果表明,本文所采用的物理气相方法实现了稀土氧化物包覆异质金属纳米胶囊的合成,为多组元纳米结构的复合提供了实验依据。 展开更多
关键词 Fe/Y2O3 纳米粒子 核/壳 稀土 暗场成像
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基于LM98640的TDI-CCD暗场扣除方法 被引量:2
17
作者 宁永慧 郭汉洲 +1 位作者 余达 赵庆磊 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2019年第6期592-597,共6页
为了实现相关双采样模式下,视频处理器LM98640的暗电平扣除功能,设计了数字暗场扣除方法。通过获得TDI-CCD的暗场数据,进行统计分析,估算当前条件下的真实暗电平水平;通过设置LM98640的偏置寄存器,实现暗电平的模拟扣除功能;通过暗场灰... 为了实现相关双采样模式下,视频处理器LM98640的暗电平扣除功能,设计了数字暗场扣除方法。通过获得TDI-CCD的暗场数据,进行统计分析,估算当前条件下的真实暗电平水平;通过设置LM98640的偏置寄存器,实现暗电平的模拟扣除功能;通过暗场灰度动态检测和实时更新设置,保证暗场在不同的温度水平下具有0~3的灰度均值;通过时序控制,保证偏置参数加载不影响图像内容;通过偏置参数功能分区,保证暗场扣除和偏置调整功能的完整性。实验结果表明,该方法在TDI-CCD成像系统长时间工作时,能有效控制暗场均值在0~3量化灰度范围。通过检测更新扣除机制,实现了对噪声的帧扣除,避免了行扣除不准确带来的噪声,有效降低了沿轨方向高频分量。 展开更多
关键词 LM98640 暗电平扣除 数字反馈 偏置扣除 动态范围
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氧化铝表面Ti修饰对负载金属Mo分散性能的影响 被引量:2
18
作者 郭长友 沈智奇 +2 位作者 凌凤香 王少军 张会成 《石油炼制与化工》 CAS CSCD 北大核心 2017年第3期75-80,共6页
分别用扫描透射-高角环形暗场像(HAADF-STEM)和高分辨电子显微技术(HREM)表征了氧化态和硫化态Mo/Al_2O_3,Mo/6%TiO_2-Al_2O_3,Mo/12%TiO_2-Al_2O_3催化剂中MoO_3颗粒尺寸和MoS_2片晶的层数与长度,发现氧化态催化剂中MoO_3颗粒的平均尺... 分别用扫描透射-高角环形暗场像(HAADF-STEM)和高分辨电子显微技术(HREM)表征了氧化态和硫化态Mo/Al_2O_3,Mo/6%TiO_2-Al_2O_3,Mo/12%TiO_2-Al_2O_3催化剂中MoO_3颗粒尺寸和MoS_2片晶的层数与长度,发现氧化态催化剂中MoO_3颗粒的平均尺寸从Ti修饰前的0.7nm增加到修饰后的1.0nm;硫化态催化剂中MoS_2片晶的平均层数从1.1增加到1.2,平均长度从3.0nm增加到3.2nm。并从金属-载体相互作用理论解释了其形成机理。基于以上结果,根据MoO_3颗粒和MoS_2片晶中钼原子数变化,研究了催化剂硫化过程中金属晶粒的生长演变过程。 展开更多
关键词 TiO2修饰 Al2O3表面 扫描透射-高角环形暗场像 高分辨电子显微技术 金属分散性
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适用于微纳流控芯片对准连接的微装配系统 被引量:1
19
作者 徐征 王德佳 +2 位作者 刘云亮 王俊尧 刘冲 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2011年第3期194-198,共5页
针对微纳流控芯片等器件的对准装配问题,分析了具体操作要求,建立了一套包含显微光学观测单元、机械进给调整和器件吸取-放置等的微装配系统,采用暗场照明观测微纳结构,高精度移动平台精确调整基片与盖片之间的角度与位置,利用真空吸附... 针对微纳流控芯片等器件的对准装配问题,分析了具体操作要求,建立了一套包含显微光学观测单元、机械进给调整和器件吸取-放置等的微装配系统,采用暗场照明观测微纳结构,高精度移动平台精确调整基片与盖片之间的角度与位置,利用真空吸附的方法抓取和释放。采用该系统成功地制造了多种可用的微纳流控芯片,以玻璃微纳流控芯片的对准装配为示范开展了实验研究,对准结果表明,该系统能够完成宽53μm,深18μm的微通道与宽3μm,深50~260nm的纳通道的对准连接任务。采用本系统进行芯片对准装配的方法具有仪器成本低、使用灵活和易于互换的优点,适合实验室及小批量生产使用。 展开更多
关键词 微装配 微纳流控芯片 对准 暗场照明 真空吸附
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结合邻域信息的带钢表面明暗域缺陷图像配准 被引量:1
20
作者 魏玉兰 颜云辉 +1 位作者 李兵 董德威 《东北大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第11期1619-1622,共4页
为解决带钢表面明暗域缺陷图像检测方式采集到的同一位置处的图片之间存在位移及旋转问题,同时考虑到因板带振动及现场生产环境造成的噪声影响,提出采用结合邻域内像素间空间与灰度信息的互信息配准方法.在互信息配准计算中图像中每个... 为解决带钢表面明暗域缺陷图像检测方式采集到的同一位置处的图片之间存在位移及旋转问题,同时考虑到因板带振动及现场生产环境造成的噪声影响,提出采用结合邻域内像素间空间与灰度信息的互信息配准方法.在互信息配准计算中图像中每个像素的灰度值由其邻域内像素的灰度值按照距离及灰度变化关系分配不同的权值共同得到.实验证明,该方法的配准精度完全可满足带钢缺陷检测需求,有效减弱了噪声对配准精度的影响,为带钢表面缺陷识别及质量评价奠定了基础. 展开更多
关键词 带钢 明暗域 缺陷检测 邻域信息 互信息 图像配准
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