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1
|
一种选择折叠计数状态转移的BIST方案 |
梁华国
方祥圣
蒋翠云
欧阳一鸣
易茂祥
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
|
2006 |
12
|
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2
|
数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
高平
成立
王振宇
祝俊
史宜巧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2003 |
15
|
|
|
3
|
约束输入精简的多扫描链BIST方案 |
梁华国
刘军
蒋翠云
欧阳一鸣
易茂祥
|
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2007 |
15
|
|
|
4
|
基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 |
吴继娟
孙媛媛
刘桂艳
|
《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2004 |
5
|
|
|
5
|
基于二维测试数据压缩的BIST方案 |
周彬
叶以正
李兆麟
|
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2009 |
8
|
|
|
6
|
并行折叠计数器的BIST方案 |
梁华国
李鑫
陈田
王伟
易茂祥
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2012 |
4
|
|
|
7
|
CLA加法器混合式BIST方案 |
曾平英
毛志刚
叶以正
|
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
1999 |
1
|
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8
|
基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 |
夏继军
|
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
|
2017 |
3
|
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9
|
基于MRV原理的锁相环抖动BIST电路优化与实现 |
蔡志匡
徐亮
任力争
许浩博
时龙兴
|
《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2014 |
1
|
|
|
10
|
一种高效的混合Test-Per-Clock测试方法 |
刘铁桥
牛小燕
杨洁
毛峰
|
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2017 |
0 |
|
|
11
|
基于折叠计算的多扫描链BIST方案 |
梁华国
李扬
李鑫
易茂祥
王伟
常郝
李松坤
|
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2013 |
0 |
|
|
12
|
一种基于测试数据两维压缩的BIST新方案 |
刘军
梁华国
李扬
|
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
|
2006 |
0 |
|
|
13
|
基于折叠重排的低功耗BIST技术研究 |
谈恩民
詹琰
刘建军
|
《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
|
2011 |
0 |
|
|
14
|
基于折叠技术和统计码优化的BIST方案 |
方祥圣
|
《计算机工程与应用》
CSCD
|
2013 |
0 |
|
|
15
|
芯片级BIST控制器的设计与实现 |
孟觉
樊晓光
邬蒙
夏海宝
|
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
|
2011 |
2
|
|
|
16
|
一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案 |
吴义成
梁华国
李松坤
黄正峰
易茂祥
|
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
|
2010 |
1
|
|
|
17
|
BIST在可信性嵌入式软件测试中的应用 |
凌良合
丁志刚
宗宇伟
|
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
|
2006 |
1
|
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18
|
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器 |
汪昱
邝继顺
|
《计算机工程与科学》
CSCD
|
2005 |
2
|
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19
|
一种基于结构和可测性分析的BIST部分扫描算法 |
谢永明
李锐
杨军
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《应用科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
|
2005 |
0 |
|
|
20
|
基于BIST软件测试思想的单元测试框架 |
杨艳芳
徐拾义
|
《计算机工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2005 |
0 |
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