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1
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基于新型BIST的LUT测试方法研究 |
林晓会
解维坤
宋国栋
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《现代电子技术》
北大核心
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2024 |
2
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2
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
高平
成立
王振宇
祝俊
史宜巧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
15
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3
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约束输入精简的多扫描链BIST方案 |
梁华国
刘军
蒋翠云
欧阳一鸣
易茂祥
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2007 |
15
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4
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基于二维测试数据压缩的BIST方案 |
周彬
叶以正
李兆麟
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2009 |
8
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5
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并行折叠计数器的BIST方案 |
梁华国
李鑫
陈田
王伟
易茂祥
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2012 |
4
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6
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一种针对3D芯片的BIST设计方法 |
王伟
高晶晶
方芳
陈田
兰方勇
李杨
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《电子测量与仪器学报》
CSCD
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2012 |
8
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7
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基于MRV原理的锁相环抖动BIST电路优化与实现 |
蔡志匡
徐亮
任力争
许浩博
时龙兴
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《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2014 |
1
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8
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一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法 |
刘铁桥
邝继顺
蔡烁
尤志强
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2014 |
1
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9
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多相测试时钟低功耗BIST调度 |
张弘
徐东明
李玉山
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《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
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2004 |
1
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10
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电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现 |
赵建武
师奕兵
王志刚
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《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2010 |
1
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11
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基于折叠计算的多扫描链BIST方案 |
梁华国
李扬
李鑫
易茂祥
王伟
常郝
李松坤
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2013 |
0 |
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12
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一种高效的混合Test-Per-Clock测试方法 |
刘铁桥
牛小燕
杨洁
毛峰
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《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
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2017 |
0 |
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13
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一种基于测试数据两维压缩的BIST新方案 |
刘军
梁华国
李扬
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《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
0 |
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14
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基于折叠重排的低功耗BIST技术研究 |
谈恩民
詹琰
刘建军
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《计算机应用研究》
CSCD
北大核心
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2011 |
0 |
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15
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一种基于轮流扫描捕获的低功耗低费用BIST方法 |
王伟征
邝继顺
尤志强
刘鹏
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2012 |
0 |
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16
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基于折叠技术和统计码优化的BIST方案 |
方祥圣
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《计算机工程与应用》
CSCD
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2013 |
0 |
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17
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芯片级BIST控制器的设计与实现 |
孟觉
樊晓光
邬蒙
夏海宝
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《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
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2011 |
2
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18
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一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案 |
吴义成
梁华国
李松坤
黄正峰
易茂祥
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2010 |
1
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19
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BIST测试激励的聚类压缩方法 |
涂吉
王子龙
李立健
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2014 |
2
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20
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应用于逻辑核的BIST关键技术研究 |
李吉
徐勇军
韩银和
李晓维
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《计算机工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
1
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