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ICP-AES测定高浓度基体下杂质元素的偏最小二乘法研究 被引量:1
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作者 王衍鹏 龚琦 +1 位作者 喻盛容 刘幽燕 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2012年第4期1098-1102,共5页
建立了ICP-AES测定高浓度基体中微量杂质元素的偏最小二乘方法(PLS)。研究表明,PLS能有效校正高浓度基体干扰引起的测量误差,比多元光谱拟合法(MSF)能承受的基体浓度更高。当基体与杂质的含量比为1 000∶1~20 000∶1时,该方法的加标回... 建立了ICP-AES测定高浓度基体中微量杂质元素的偏最小二乘方法(PLS)。研究表明,PLS能有效校正高浓度基体干扰引起的测量误差,比多元光谱拟合法(MSF)能承受的基体浓度更高。当基体与杂质的含量比为1 000∶1~20 000∶1时,该方法的加标回收率在95%~105%之间。对于干扰效应与基体浓度呈非线性相关的体系,普通PLS的预测准确度不高,但使用基于样品浓度矩阵变换的偏最小二乘法(LIN-PPLS),则明显改善了预测的准确度。分别用MSF、普通PLS和LIN-PPLS对水系沉积物国家标准物质GBW07312中的Co,Pb和Ga进行测定,结果表明,LIN-PPLS的预测准确度优于普通PLS,而普通PLS的预测准确度优于MSF。 展开更多
关键词 ICP-AES 偏最小二乘法 高浓度 基体 干扰效应
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