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1
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
高平
成立
王振宇
祝俊
史宜巧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
15
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2
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模拟退火算法在低功耗BIST中的应用 |
胡晨
张哲
史又华
杨军
时龙兴
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《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
6
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3
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基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 |
吴继娟
孙媛媛
刘桂艳
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《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
5
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4
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基于状态空间模型的线性模拟电路BIST方法 |
杨拥民
温熙森
胡政
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《国防科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
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1997 |
2
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5
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基于March C+算法的SRAM BIST设计 |
张志超
侯立刚
吴武臣
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《现代电子技术》
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2011 |
4
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6
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一种选择折叠计数状态转移的BIST方案 |
梁华国
方祥圣
蒋翠云
欧阳一鸣
易茂祥
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2006 |
12
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7
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基于March C-算法的SRAM BIST电路的设计 |
须自明
苏彦鹏
于宗光
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2007 |
11
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8
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CLA加法器混合式BIST方案 |
曾平英
毛志刚
叶以正
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
1
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9
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一种低功耗SoC芯片的综合BIST方案 |
方祥圣
梁华国
曹先霞
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《计算机工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2006 |
5
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10
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BIST可测性设计的低功耗技术 |
李金凤
汪滢
辛晓宁
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
2
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11
|
基于二维测试数据压缩的BIST方案 |
周彬
叶以正
李兆麟
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2009 |
8
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12
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基于扫描链结构重组的低功耗BIST方案 |
李俊
成立
徐志春
韩庆福
张荣标
张慧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2007 |
2
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13
|
约束输入精简的多扫描链BIST方案 |
梁华国
刘军
蒋翠云
欧阳一鸣
易茂祥
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2007 |
15
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14
|
几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术 |
成立
王振宇
张兵
朱漪云
范木宏
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
1
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15
|
改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术 |
朱敏
王石记
杨春玲
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《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2010 |
2
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16
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嵌入式DRAM的BIST测试方法的研究 |
张必超
蒋大文
于鹏
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《中国测试技术》
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2005 |
3
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17
|
并行折叠计数器的BIST方案 |
梁华国
李鑫
陈田
王伟
易茂祥
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2012 |
4
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18
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用于存储器测试的“透明”的可编程BIST方法(英文) |
王颖
陈和
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《电子测量技术》
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2007 |
2
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19
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基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究 |
夏继军
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《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
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2017 |
3
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20
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系统芯片IP核间互联总线串扰故障检测模型的BIST实现 |
张金林
陈朝阳
沈绪榜
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2004 |
0 |
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