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1
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
高平
成立
王振宇
祝俊
史宜巧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
15
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2
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模拟退火算法在低功耗BIST中的应用 |
胡晨
张哲
史又华
杨军
时龙兴
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《东南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
6
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3
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基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法 |
吴继娟
孙媛媛
刘桂艳
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《哈尔滨工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
5
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4
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一种低功耗BIST测试产生器方案 |
何蓉晖
李晓维
宫云战
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2003 |
11
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5
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基于March X算法的SRAM BIST的设计 |
冯国臣
沈绪榜
刘春燕
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2005 |
4
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6
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一种有效的双矢量测试BIST实现方案 |
张金林
陈朝阳
沈绪榜
张晨
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2004 |
2
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7
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SOC测试中BIST的若干思考 |
王新安
吉利久
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2003 |
5
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8
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基于状态空间模型的线性模拟电路BIST方法 |
杨拥民
温熙森
胡政
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《国防科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
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1997 |
2
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9
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基于March C+算法的SRAM BIST设计 |
张志超
侯立刚
吴武臣
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《现代电子技术》
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2011 |
4
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10
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基于低功耗及加权优化的BIST测试生成器设计实现 |
谈恩民
叶宏
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2006 |
3
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11
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一种用于低功耗BIST的多重抑制LFSR结构(英文) |
许舸夫
张哲
胡晨
毛武晋
刘锋
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《电子器件》
CAS
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2002 |
1
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12
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CLA加法器混合式BIST方案 |
曾平英
毛志刚
叶以正
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《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
1
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13
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片上网络存储器的BIST电路设计 |
许川佩
陶意
吴玉龙
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2013 |
1
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14
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并行BIST可测性设计 |
叶波
郑增钰
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《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
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1996 |
1
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15
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一种新的低功耗BIST测试生成器设计 |
陈卫兵
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《电子质量》
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2004 |
4
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16
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用于SOC测试的一种有效的BIST方法 |
须自明
刘战
王国章
于宗光
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《电子器件》
CAS
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2007 |
0 |
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17
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系统芯片SOC的BIST测试研究 |
方祥圣
曹先霞
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《安徽建筑工业学院学报（自然科学版）》
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2006 |
1
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18
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一种新型混合模式BIST的低功耗设计 |
赵明
陈卫兵
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《电子质量》
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2006 |
0 |
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19
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一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计 |
陈卫兵
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《电子质量》
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2007 |
0 |
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20
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基于折叠集的混合模式BIST的低功耗设计 |
陈卫兵
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《电子质量》
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2005 |
0 |
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