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1
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太赫兹光谱技术在表征双相无机钙钛矿材料特性中的应用 |
常青
程士嘉
侯文鑫
王引书
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《半导体技术》
CAS
北大核心
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2024 |
0 |
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2
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四探针技术测量薄层电阻的原理及应用 |
刘新福
孙以材
刘东升
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
54
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3
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化学染色法测量B,Al及P扩散结深 |
佟丽英
赵权
史继祥
王聪
李亚光
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2009 |
7
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4
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电感耦合等离子体光谱法测定高纯镓中的痕量元素 |
朱连德
刘杰
李瑛琇
陈杭亭
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《分析科学学报》
CAS
CSCD
北大核心
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2001 |
4
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5
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低维纳米材料的力学性能测试技术研究进展 |
张段芹
刘建秀
褚金奎
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《微纳电子技术》
CAS
北大核心
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2014 |
6
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6
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电容式微机械陀螺品质因子测试方法研究 |
李锦明
张文栋
李林
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《中北大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
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2006 |
6
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7
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分布布喇格反射镜的反射特性 |
李林
钟景昌
苏伟
晏长岭
张永明
郝永琴
刘文莉
赵英杰
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《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
3
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8
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Kelvin四线连接电阻测试技术及应用 |
赵英伟
庞克俭
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
20
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9
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电阻率两种测试方法间几何效应修正的相关性 |
孙以材
范兆书
孙新宇
宁秋凤
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2000 |
10
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10
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硅中微体缺陷激光测试技术的理论与实验研究 |
陈军
尤政
周兆英
刘兴占
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《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1997 |
2
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11
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测量计算金属-半导体接触电阻率的方法 |
李鸿渐
石瑛
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2008 |
13
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12
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基于单片机的半导体激光器应用控制技术 |
张运春
肖文
伊小素
韩艳玲
刘德文
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《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
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2006 |
2
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13
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氮化硅薄膜的应力与性能控制 |
周东
许向东
王志
王晓梅
蒋亚东
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《电子器件》
CAS
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2010 |
4
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14
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欧姆接触中接触电阻率的计算 |
甄聪棉
李秀玲
潘成福
聂向富
王印月
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《大学物理》
北大核心
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2005 |
8
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15
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电化学C-V法测量化合物半导体载流子浓度的研究进展 |
李晓云
牛萍娟
郭维廉
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《微纳电子技术》
CAS
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2007 |
5
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16
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特征提取在近红外激光检测半导体内微缺陷中的应用 |
尤政
李颖鹏
李滨
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《红外技术》
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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17
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SiC MESFET工艺在片检测技术 |
商庆杰
潘宏菽
陈昊
李亮
杨霏
霍玉柱
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2008 |
1
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18
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Cd扩散对InSb晶体质量的影响 |
刘豫东
邹红英
杜红燕
董硕
朱继满
马莒生
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《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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19
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PVT生长掺V SiC单晶的扫描电镜二次电子像衬度 |
王香泉
洪颖
章安辉
冯玢
郝建民
严如岳
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2010 |
1
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20
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边界扫描SRAM簇板级互连测试研究 |
李桂祥
刘明云
杨江平
项建涛
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
1
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