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PCVD法合成的无定形Si_3N_4纳米粉末和薄膜的红外特性比较
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作者 陆忠乾 江东亮 谭寿洪 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期435-439,共5页
用等离子冷放电化学气相法(PCVD)合成的高纯、超细的无定形Si3N4粉末,储放了不同时间和在红外灯下烘烤短时间后,进行红外光谱的测定.发现合成的粉末刚暴露于空气中就产生了氧化,而后随着储放时问的延长,表面氧化愈来愈严重,Si-... 用等离子冷放电化学气相法(PCVD)合成的高纯、超细的无定形Si3N4粉末,储放了不同时间和在红外灯下烘烤短时间后,进行红外光谱的测定.发现合成的粉末刚暴露于空气中就产生了氧化,而后随着储放时问的延长,表面氧化愈来愈严重,Si-O键的吸收峰强度明显增强,而Si-N-Si键,Si-H键的吸收峰则愈来愈弱,直至仅有极小的吸收.而用低温PCVD法合成的无定形薄膜的特征吸收峰宽且强,与刚合成的粉末的红外谱有许多相同之处,但峰的形状,强度不随时间的变化而变化. 展开更多
关键词 氧化 红外光谱 氮化硅陶瓷 纳米粉末 PCVD法
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化学气相沉积法制备SiC纳米粉 被引量:19
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作者 梁博 黄政仁 +2 位作者 江东亮 谭寿洪 陆忠乾 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第3期441-447,共7页
本工作采用二甲基二氯硅烷和氢气为原料,在1100~1400℃温度条件下,通过化学气相沉积制备出了高纯、低氧含量的纳米SiC粉体·实验结果指出,在1100~1300℃;制备得到的粉体颗粒由无定型相和β-SiC微晶组... 本工作采用二甲基二氯硅烷和氢气为原料,在1100~1400℃温度条件下,通过化学气相沉积制备出了高纯、低氧含量的纳米SiC粉体·实验结果指出,在1100~1300℃;制备得到的粉体颗粒由无定型相和β-SiC微晶组成;而在1400℃则粉体颗粒主要由β-SiC微晶无序取向组成.随反应条件的改变,粉体平均粒径和β-SiC微晶的平均尺寸分别在40~70nm和1.8~7.3nm范围内变化.同时,产物粉体的C/Si摩尔比由低温1100℃的0.5提高到1400℃的1.05.通过控制沉积条件如反应温度和反应物浓度,可以得到C/Si摩尔比保持在0.95~1.05范围的、符合化学计量比的SiC粉体.最后,用各种手段如化学分析,X射线衍射、透射电镜、高分辩电镜和红外吸收光谱等,对粉体性能和结构进行了表征. 展开更多
关键词 化学气相沉积 纳米材料 碳化硅陶瓷
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六甲基二硅胺烷(HMDS)为原料CVD制备硅基纳米粉体的研究 被引量:7
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作者 江东亮 陆忠乾 +1 位作者 黄政仁 严东生 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期356-362,共7页
以六甲基二硅胺烷作原料,用CVD法合成的纳米粉体,在1000~1500℃温度范围内合成的均属无定形,1000℃合成的纳米颗粒呈圆球形,粒径8~10nm,少量25~30nm.在1400℃高温下合成的颗粒较均匀,为8~10nm的圆球形.经高温晶化处理后,... 以六甲基二硅胺烷作原料,用CVD法合成的纳米粉体,在1000~1500℃温度范围内合成的均属无定形,1000℃合成的纳米颗粒呈圆球形,粒径8~10nm,少量25~30nm.在1400℃高温下合成的颗粒较均匀,为8~10nm的圆球形.经高温晶化处理后,低温时合成的粉末呈晶须状,SiC和Si3N4相共存,以SiC相为主.较高温度下合成的粉体颗粒长大成20~40nm,以β-SiC相为主伴有α-SiC相,颗粒外表面有1~2nm的非晶层包裹,当在大气中存放三个月以后,则观测到原来品化的结构变成了无定形. 展开更多
关键词 晶化 甲基二硅胺烷 纳米粉体 气相沉积
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纳米SiC蓝光发射的研究 被引量:5
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作者 刘渝珍 黄允兰 +7 位作者 石万全 刘世祥 姚德成 张庶元 韩一琴 陆忠乾 谭寿洪 江东亮 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第1期50-54,共5页
在4.68eV的激光激发下,室温CVD合成的纳米SiC粉体,可发射475nm的蓝光,经600~1100℃在N2气氛下进行快速退火(RTA)处理,其荧光强度随退火温度升高而增强,当T≥900℃时,荧光强度下降,但发光峰... 在4.68eV的激光激发下,室温CVD合成的纳米SiC粉体,可发射475nm的蓝光,经600~1100℃在N2气氛下进行快速退火(RTA)处理,其荧光强度随退火温度升高而增强,当T≥900℃时,荧光强度下降,但发光峰位与退火温度无关.通过XRD、IR、TEM、XPS等研究。 展开更多
关键词 蓝色荧光 快速热退火 纳米级 碳化硅粉体
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PCVD法对碳化硅陶瓷的表面改性研究 被引量:1
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作者 谭寿洪 陆忠乾 +2 位作者 黄玉珍 沈月华 钟伯强 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第1期73-77,共5页
利用等离子辉光放电化学气相沉积技术(PCVD),控制甲烷与磋烷质量流量比、硅烷与氨质量流量比,在碳化硅基体表面分别沉积上无定形碳化硅和氨化硅薄膜,研究其膜的组成、沉积工艺、厚度等对碳化硅陶瓷的强度改性影响.在一定的沉... 利用等离子辉光放电化学气相沉积技术(PCVD),控制甲烷与磋烷质量流量比、硅烷与氨质量流量比,在碳化硅基体表面分别沉积上无定形碳化硅和氨化硅薄膜,研究其膜的组成、沉积工艺、厚度等对碳化硅陶瓷的强度改性影响.在一定的沉积条件下沉积的碳化硅薄膜可以使基体强度提高20%达到850MPa,沉积氮化硅薄膜使强度提高30%达到900MPa,改性的效果很明显. 展开更多
关键词 氮化硅 表面改性 PCVD法 碳化硅陶瓷
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非晶薄膜的硬度测量
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作者 钟伯强 朱文娟 陆忠乾 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第3期380-381,共2页
用努普(Knoop)压痕法测量了沉积在普通玻璃上的 ITO,SnO_2和非晶硅薄膜的硬度。在0.245N 负荷下测得它们的硬度分别是7232、7987和4929MPa。这些薄膜材料的硬度取决于薄膜制备方法和制备时的工艺条件,同时也与测量方法有关。不同衬底温... 用努普(Knoop)压痕法测量了沉积在普通玻璃上的 ITO,SnO_2和非晶硅薄膜的硬度。在0.245N 负荷下测得它们的硬度分别是7232、7987和4929MPa。这些薄膜材料的硬度取决于薄膜制备方法和制备时的工艺条件,同时也与测量方法有关。不同衬底温度时沉积的非晶硅薄膜,其硬度随温度降低而减小,这与非晶硅薄膜中所含的氢的多少有关。 展开更多
关键词 ITO SNO2 薄膜 非晶硅 硬度
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