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题名一种用于大信号测试的矢量校准快速修正方法
被引量：3
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作者
苏江涛
郭庭铭
刘军
许吉
郑兴
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机构
杭州电子科技大学射频电路与系统教育部重点实验室
浙江省大规模集成电路设计重点实验室
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出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2019年第8期652-658,共7页
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基金
国家自然科学基金资助项目(61727804,61701147,61827806,61871161)
浙江省自然科学基金资助项目(LY17F010016,LY17F010017,LZ17F010001)
电子测试技术重点实验室开放基金项目(614200101010517)
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文摘
大信号测试系统是评估GaN功率器件的非线性特性的重要手段,而精准的矢量校准是获得稳定可信测试数据的第一步。为了解决毫米波频段矢量校准易随时间增加而失效的难题,对不同的校准方法进行了讨论,并以直通-反射-匹配负载(TRM)校准方法为基础,对校准过程中的误差系数随时间变化的趋势进行了数据分析,提出了一种可以实时快速修正校准模型中误差系数的方法。采用这种方法,失效的校准状态可以在1 min内得到快速修正而恢复初始校准状态;矢量校准的时间稳定度与传统方法相比,可延长10倍以上。该方法有力地保证了大信号测试中数据的一致性,可广泛应用于器件建模和电路设计等领域。
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关键词
GAN器件
负载牵引
矢量校准
直通-反射-匹配负载(TRM)校准技术
矢量网络分析仪(VNA)
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Keywords
GaN device
load pull
vector calibration
thru-reflect-match(TRM) calibration technique
vector network analyzer(VNA)
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分类号
TN323.4
[电子电信—物理电子学]
TM307
[电气工程—电机]
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