-
题名塑封电子元器件温度失效机理研究
被引量：5
- 1
-
-
作者
路浩天
卢晓青
蔡良续
-
机构
中国航空综合技术研究所
-
出处
《装备环境工程》
CAS
2012年第6期36-39,43,共5页
-
文摘
应用非破坏性检测技术和破坏性显微分析技术对塑封电子元器件在温度循环试验中发生的失效进行了分析,通过研究缺陷发展的过程并结合现有检测标准要求,提出了对器件设计改进和完善现有检测标准的建议。
-
关键词
塑料封装
温度效应
缺陷
-
Keywords
plastic encapsulated
temperature effect
defects
-
分类号
V216.5
[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
-
-
题名晶体振荡器频率漂移失效分析
被引量：1
- 2
-
-
作者
杨洋
蔡良续
路浩天
卢晓青
-
机构
中国航空综合技术研究所
-
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2014年第3期34-37,共4页
-
文摘
通过对某型晶体振荡器失效模式进行分析,结合密封性检查、扫描电子显微镜检查和能谱分析等失效分析试验结果,对该晶体振荡器频率漂移的失效机理进行研究。发现器件密封性不良是导致器件失效的根本原因,并对器件密封性工艺的优化提出建议。
-
关键词
晶体振荡器
频率漂移
密封性
失效分析
-
Keywords
crystal oscillator
frequency drift
sealing
failure analysis
-
分类号
TN752
[电子电信—电路与系统]
-
-
题名贮存条件下电子油对电连接器插针表面的影响
- 3
-
-
作者
李鹏
蔡良续
郑剑锋
路浩天
卢晓青
-
机构
中国航空综合技术研究所
中航光电科技股份有限公司
-
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2014年第3期26-29,共4页
-
基金
航空基金项目(20110241001)资助
-
文摘
对电连接器的插针依次进行高温贮存和常温贮存,并在每个贮存阶段结束后对插针进行光学显微镜检查与扫描电子显微镜检查。试验结果表明:在贮存条件下,电子油会引起插针的腐蚀;并且在高温贮存与常温贮存条件下,电子油在腐蚀中所起的作用不完全相同。
-
关键词
插针
贮存试验
电子油
腐蚀
-
Keywords
contact pin
storage test
electronic oil
corrosion
-
分类号
TM503.5
[电气工程—电器]
TB114.37
[理学—概率论与数理统计]
-
-
题名TC21钛合金电子束焊接件疲劳断口定量反推研究
被引量：3
- 4
-
-
作者
郑志腾
有移亮
刘新灵
张峥
路浩天
-
机构
北京航空航天大学材料科学与工程学院
北京航空材料研究院
中航工业综合技术研究所
-
出处
《材料工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第11期50-56,共7页
-
文摘
对TC21钛合金电子束焊接接头的疲劳断口进行了基于宏观扩展区面积和微观疲劳条带的定量分析。结果表明:在断裂韧性大小相同的情况下,可由扩展区面积反推构件承受的应力,反推计算所得应力与实际加载疲劳应力的相对误差在10%以内;疲劳裂纹稳定扩展第二阶段的显微特征是疲劳条带,利用Paris公式反推焊接结构的原始疲劳质量,原始疲劳质量呈正态分布,实验结果对钛合金电子束焊接结构的工艺评定具有重要的工程意义。
-
关键词
钛合金
电子束焊接
断口定量反推
疲劳应力
原始疲劳质量
-
Keywords
titanium alloy
electron beam welding
fracture quantitative reverse deduction
fatiguestress initial fatigue quality
-
分类号
TG115.21
[金属学及工艺—物理冶金]
-
