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退火温度对ZnO/PZT薄膜结构及电阻率的影响
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作者 谌青青 高扬 +4 位作者 杨涛 杨成韬 文忠 张彩虹 孟祥钦 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2012年第2期262-264,共3页
采用射频反应磁控溅射法在Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)/Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备了ZnO薄膜,利用X线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)、霍尔效应测试系统等对不同退火温度下制备薄膜的结构、形貌及电阻率等进行了分析表征。结果表明,退火温度... 采用射频反应磁控溅射法在Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)/Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备了ZnO薄膜,利用X线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)、霍尔效应测试系统等对不同退火温度下制备薄膜的结构、形貌及电阻率等进行了分析表征。结果表明,退火温度600℃的ZnO薄膜(002)择优取向较好,晶粒大小均匀,表面平整致密。随着退火温度的增大,电阻率先下降后升高,600℃时ZnO薄膜电阻率达最小。 展开更多
关键词 ZNO薄膜 退火温度 X线衍射仪(XRD) 原子力显微镜(AFM)
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溅射功率对AlN薄膜结构形貌的影响 被引量:5
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作者 高扬 许绍俊 +5 位作者 谌青青 孟祥钦 张彩虹 文忠 杨涛 杨成韬 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2012年第2期276-278,282,共4页
采用直流反应磁控溅射法在Si(111)基片上制备了AlN薄膜,利用X线衍射(XRD)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)对不同溅射功率下制备的AlN薄膜的结构及形貌进行了分析表征。结果表明:在一定范围内,随着溅射功率的增大,薄... 采用直流反应磁控溅射法在Si(111)基片上制备了AlN薄膜,利用X线衍射(XRD)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)对不同溅射功率下制备的AlN薄膜的结构及形貌进行了分析表征。结果表明:在一定范围内,随着溅射功率的增大,薄膜厚度增加,晶粒逐渐长大,表面粗糙度也随之增大;AlN(002)择优取向改善明显,120W时达到最佳。 展开更多
关键词 ALN薄膜 溅射功率 结构 形貌
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我国绿色专利法律调控机制研究 被引量:7
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作者 刘雪凤 谌青青 《科技进步与对策》 CSSCI 北大核心 2013年第16期96-101,共6页
为应对气候变暖,发达国家通过不断完善绿色专利方面的法律法规、推行强制许可制度等措施,形成了绿色技术领域各具特色的保护模式,有力推动了绿色专利的发展。然而,目前我国绿色专利的立法、司法和国际制度环境均不完善,与发达国家相比... 为应对气候变暖,发达国家通过不断完善绿色专利方面的法律法规、推行强制许可制度等措施,形成了绿色技术领域各具特色的保护模式,有力推动了绿色专利的发展。然而,目前我国绿色专利的立法、司法和国际制度环境均不完善,与发达国家相比存在诸多不足。从法律调控角度出发,研究了美、日、英等绿色专利强国的实践,通过借鉴发达国家法律调控经验,结合我国绿色专利存在的问题,提出应从提高立法保障水平、完善执法保护体制、合理实施强制许可、建设快速通道等方面促进我国绿色专利发展。 展开更多
关键词 绿色专利 法律调控机制 强制许可
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衬底温度对AlN/ZnO复合薄膜结构形貌的影响
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作者 高扬 许绍俊 +5 位作者 谌青青 孟祥钦 杨涛 文忠 张彩虹 杨成韬 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2012年第5期753-755,759,共4页
采用直流反应磁控溅射法在ZnO/Si基片上制备了良好(002)(c轴)取向的AlN薄膜,利用XRD、AFM对不同衬底温度下制备的AlN薄膜的结构、形貌进行了分析表征。结果表明,在一定温度范围内(450~650℃),随着衬底温度的升高,晶粒逐渐长大,沉积速... 采用直流反应磁控溅射法在ZnO/Si基片上制备了良好(002)(c轴)取向的AlN薄膜,利用XRD、AFM对不同衬底温度下制备的AlN薄膜的结构、形貌进行了分析表征。结果表明,在一定温度范围内(450~650℃),随着衬底温度的升高,晶粒逐渐长大,沉积速率增大,表面粗糙度先减小后增大;AlN(002)择优取向呈改善趋势,取向度先增大后减小,600℃时达到最佳。 展开更多
关键词 AlN/ZnO复合薄膜 磁控溅射 衬底温度 结构 形貌
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