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脉冲激光沉积法制备Ge-Se-Bi硫系玻璃薄膜的结构(英文)
1
作者
潘瑞琨
臧浩春
+3 位作者
林常规
陶海征
赵修建
章天金
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期688-692,共5页
采用脉冲激光沉积法制备了(GeSe2)100-x-Bix(x=0~12)硫系玻璃薄膜。测量了薄膜的光学透射谱、吸收谱和拉曼光谱。薄膜的光学短波吸收边对应于电子的间接带间跃迁,并由此计算出其光学带隙。拉曼光谱分析表明Bi含量的增加,减小了玻璃的平...
采用脉冲激光沉积法制备了(GeSe2)100-x-Bix(x=0~12)硫系玻璃薄膜。测量了薄膜的光学透射谱、吸收谱和拉曼光谱。薄膜的光学短波吸收边对应于电子的间接带间跃迁,并由此计算出其光学带隙。拉曼光谱分析表明Bi含量的增加,减小了玻璃的平均键能,导致光学带隙由1.94 eV减小到1.11 eV。Tauc斜率由486 cm-1/2eV-1/2减小到178 cm-1/2eV-1/2。退火过程中的热漂白效应减小了玻璃的结构无序性,使得薄膜的光学带隙和Tauc斜率相应增大。
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关键词
硫系玻璃薄膜
光学带隙
拉曼光谱
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职称材料
题名
脉冲激光沉积法制备Ge-Se-Bi硫系玻璃薄膜的结构(英文)
1
作者
潘瑞琨
臧浩春
林常规
陶海征
赵修建
章天金
机构
湖北大学材料科学与工程学院
武汉理工大学硅酸盐材料教育部重点实验室
出处
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期688-692,共5页
基金
supported by the National Natural Science Foundation of China(50972040)
the Fund of Morning Programof Wuhan Science and Technology Bureau(200950431161)
文摘
采用脉冲激光沉积法制备了(GeSe2)100-x-Bix(x=0~12)硫系玻璃薄膜。测量了薄膜的光学透射谱、吸收谱和拉曼光谱。薄膜的光学短波吸收边对应于电子的间接带间跃迁,并由此计算出其光学带隙。拉曼光谱分析表明Bi含量的增加,减小了玻璃的平均键能,导致光学带隙由1.94 eV减小到1.11 eV。Tauc斜率由486 cm-1/2eV-1/2减小到178 cm-1/2eV-1/2。退火过程中的热漂白效应减小了玻璃的结构无序性,使得薄膜的光学带隙和Tauc斜率相应增大。
关键词
硫系玻璃薄膜
光学带隙
拉曼光谱
Keywords
chalcogenides films
optical Band gap
Raman spectra
分类号
TQ171.734 [化学工程—玻璃工业]
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1
脉冲激光沉积法制备Ge-Se-Bi硫系玻璃薄膜的结构(英文)
潘瑞琨
臧浩春
林常规
陶海征
赵修建
章天金
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2010
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