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电子倍增型GaAs光阴极实验研究
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作者 胡仓陆 郭晖 +6 位作者 焦岗成 彭岔霞 冯驰 徐晓兵 周玉鉴 成伟 王书菲 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第8期1549-1554,共6页
电子倍增型GaAs光阴极是利用雪崩倍增效应的一种新型光阴极组件,通过在常规GaAs光阴极中引入雪崩电子倍增层制备了GaAs光阴极/电子倍增器一体化组件,研究了该组件的热清洗温度、电子增益等性能.对组件热清洗工艺前后的I-V特性进行了对... 电子倍增型GaAs光阴极是利用雪崩倍增效应的一种新型光阴极组件,通过在常规GaAs光阴极中引入雪崩电子倍增层制备了GaAs光阴极/电子倍增器一体化组件,研究了该组件的热清洗温度、电子增益等性能.对组件热清洗工艺前后的I-V特性进行了对比测试,结果表明,该组件可以承受580℃的热清洗温度,并获得了12.6倍的电子增益;880nm处的探测灵敏度≥3.87mA/w;暗电流密度≤6.79×10-5mA/cm2. 展开更多
关键词 砷化镓 光阴极 雪崩倍增 电子增益 负电子亲和势
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用X射线衍射研究缓冲层对GaInAs材料的影响
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作者 焦岗成 刘正堂 +2 位作者 石峰 徐晓兵 胡仓陆 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第4期288-290,325,共4页
用分子束外延方法制备了具有GaInAs组分渐变缓冲层和不具有GaInAs组分渐变缓冲层的Ga0.9In0.1As/GaAs结构的外延材料。利用高分辨率X射线衍射法(HRXRD)对制备的两种样品分别进行了测试分析。实验结果表明,GaInAs组分渐变缓冲层对外延生... 用分子束外延方法制备了具有GaInAs组分渐变缓冲层和不具有GaInAs组分渐变缓冲层的Ga0.9In0.1As/GaAs结构的外延材料。利用高分辨率X射线衍射法(HRXRD)对制备的两种样品分别进行了测试分析。实验结果表明,GaInAs组分渐变缓冲层对外延生长在GaAs衬底上的Ga0.9In0.1As外延材料的晶体质量具有显著的改善作用,极大降低了由于外延层与衬底晶格不匹配所带来的影响。从X射线倒易空间衍射(RSM)二维图谱结果来看,具有GaInAs组分渐变缓冲层结构的样品,其Ga0.9In0.1As外延层与GaInAs组分渐变缓冲层接近完全弛豫,Ga0.9In0.1As外延层的应变降低,表面残留应力小于0.06%,同时,GaAs衬底与Ga0.9In0.1As外延层之间的偏移夹角明显变小。 展开更多
关键词 X射线衍射 晶格失配 GAINAS 渐变缓冲层 倒易空间衍射
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InP/InGaAs转移电子光阴极吸收层厚度设计与计算 被引量:1
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作者 任彬 石峰 +5 位作者 郭晖 焦岗成 胡仓陆 成伟 徐晓兵 王书菲 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2015年第10期3010-3014,共5页
采用基于密度泛函理论的第一性原理平面波赝势法计算了InP/InGaAs转移电子光阴极吸收层材料的电学结构和光学性质,交换关联能采用杂化泛函HSE06来描述。首先对闪锌矿结构GaAs材料能带图进行计算验证,接着建立标准InGaAs材料体结构模型,... 采用基于密度泛函理论的第一性原理平面波赝势法计算了InP/InGaAs转移电子光阴极吸收层材料的电学结构和光学性质,交换关联能采用杂化泛函HSE06来描述。首先对闪锌矿结构GaAs材料能带图进行计算验证,接着建立标准InGaAs材料体结构模型,并对模型进行了动力学的自洽优化,在优化后的基础上进行了非自洽的计算,得到标准InGaAs材料的复介电函数,然后根据KramersKronig关系推出标准InGaAs材料光吸收系数。最后,结合转移电子光阴极量子效率模型,在给定P型标准InGaAs材料非平衡少子扩散长度分别是0.8、1.0、1.2、1.4、1.6和2.0mm的条件下,得到对能量在0.780260~0.820273eV区间内、间距为0.002eV的不同光子能量优化的InP/InGaAs转移电子光阴极吸收层厚度。 展开更多
关键词 标准InGaAs 转移电子光阴极 密度泛函理论
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The optimal thickness of a transmission-mode GaN photocathode
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作者 王晓晖 石峰 +6 位作者 郭晖 胡仓陆 程宏昌 常本康 任玲 杜玉杰 张俊举 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第8期517-521,共5页
A 150-nm-thick CaN photocathode with a Mg doping concentration of 1.6 × 1017 cm-3 is activated by Cs/O in an ultrahigh vacuum chamber, and a quantum efficiency (QE) curve of the negative electron affinity trans... A 150-nm-thick CaN photocathode with a Mg doping concentration of 1.6 × 1017 cm-3 is activated by Cs/O in an ultrahigh vacuum chamber, and a quantum efficiency (QE) curve of the negative electron affinity transmission-mode (t-mode) of the GaN photocathode is obtained. The maximum QE reaches 13.0% at 290 nm. According to the t-mode QE equation solved from the diffusion equation, the QE curve is fitted. From the fitting results, the electron escape probability is 0.32, the back-interface recombination velocity is 5 ×104 cm. s^-1, and the electron diffusion length is 116 nm. Based on these parameters, the influence of CaN thickness on t-mode QE is simulated. The simulation shows that the optimal thickness of GaN is 90 nm, which is better than the 150-nm GaN. 展开更多
关键词 gallium nitride transmission-mode quantum efficiency optimal thickness
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