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纳米晶须的系列倾衍射及带轴夹角的精确测定
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作者 张义彬 程立森 《浙江大学学报(农业与生命科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1998年第S1期93-96,共4页
通过对以纳米碳管为媒介生长的一未知纳米晶须进行的系列倾电子衍射实验,测定了该晶须为正交结构的Si2N2O;针对常用的系列倾电子衍射实验的倾角计算公式,讨论了带轴间夹角与膜面法线转角的差异,并推导了其精确表达式。
关键词 双倾系统 电子衍射 倾角 Si2N2O
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