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                题名电沉积CuS镀液的电化学性能及镀膜相组成
                    被引量:2
            
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                            作者
                                石璐丹
                                刘科高
                                张力
                                高稳成
                
            
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                    机构
                    
                            山东建筑大学材料科学与工程学院
                    
                
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                出处
                
                
                    《表面技术》
                    
                            EI
                            CAS
                            CSCD
                            北大核心
                    
                2014年第4期92-96,共5页
            
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                        基金
                        
                                    国家自然科学基金(51272140)
                                    山东省高校科技计划资助项目(J11LD10)~~
                        
                    
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                    文摘
                        目的获得结晶好、连续均匀的CuS薄膜。方法采用电沉积方法制备CuS薄膜,研究络合剂、硫源及铜硫离子比例对镀液电化学性能的影响,分析不同沉积电位下所得薄膜的相组成。结果柠檬酸钠的络合效果最好,EDTA最差;硫代硫酸钠作为硫源时,其还原电位较硫脲为硫源时正,氧化电位较负,水平距离值较小,更容易实现共沉积;铜硫离子比例为1时,施镀最合适。沉积电位为-0.8 V时,薄膜的XRD图谱中有氧化亚铜的衍射峰;当沉积电位在-0.9 V时,生成了Cu2S相;沉积电位在-0.9^-1.2V时,生成了目标产物CuS,并且-1.2 V时的衍射峰强度比较高,结晶良好。结论最佳沉积条件如下:柠檬酸钠为络合剂,硫代硫酸钠为硫源,铜硫离子比为1,沉积电位为-1.2 V。
                        
                    
            
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                    关键词
                    
                            电沉积
                            CUS
                            薄膜
                            镀液性能
                    
                
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                    Keywords
                    
                            electrodeposition
                            CuS thin films
                            performance of plating solution
                    
                
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                    分类号
                    
                            
                                
                                    TQ153.3
[化学工程—电化学工业]                                
                            
                    
                
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                题名电沉积工艺对氧化亚铜薄膜成相的影响
            
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                            作者
                                石璐丹
                                刘科高
                                石磊
                                张敏
                                杜长全
                
            
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                    机构
                    
                            山东建筑大学材料科学与工程学院
                    
                
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                出处
                
                
                    《电镀与精饰》
                    
                            CAS
                            北大核心
                    
                2015年第2期24-27,共4页
            
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                        基金
                        
                                    国家自然科学基金(No.51272140)
                        
                    
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                    文摘
                        利用电沉积的方法制备氧化亚铜薄膜,研究了络合剂的种类、浓度、后处理工艺及沉积时间对薄膜成相的影响。研究表明,络合剂柠檬酸钠有利于形成氧化亚铜薄膜;随着柠檬酸钠的浓度增加,薄膜中氧化亚铜含量降低,铜单质含量升高;沉积薄膜后,后处理对薄膜成相影响很大,烘干前不清洗薄膜中含有溶液中物质;随着沉积时间变长,薄膜变厚,然后出现掉膜现象。实验结果表明,选用柠檬酸钠为络合剂,柠檬酸钠的浓度为0.015 mol/L,沉积t为30 min,沉积薄膜后用蒸馏水清洗,制备出结晶良好,表面呈均匀纯相的氧化亚铜薄膜。
                        
                    
            
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                    关键词
                    
                            氧化亚铜
                            电沉积
                            柠檬酸钠
                            纯相
                    
                
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                    Keywords
                    
                            cuprous oxide 
                             electro-deposition 
                             sodium citrate 
                             pure phase
                    
                
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                    分类号
                    
                            
                                
                                    TQ153
[化学工程—电化学工业]                                
                            
                    
                
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