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基于神经网络的集成电路生产过程建模与优化被引量：1: 1; 作者王向东陈咏梅 +1 位作者王守觉石林初《自动化学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第3期289-295,共7页; 以提高半导体生产线的成品率为目标 ,利用神经网络对半导体芯片生产过程进行了建模和优化 .首先使用神经网络方法建立模型 ,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系 ,构造多维映射函数曲面 ;随后对多维映射函数曲面进行搜索 ,搜索... 展开更多; 关键词集成电路生产过程建模优化神经网络半导体芯片; 在线阅读下载PDF 职称材料

晶体管发射极电流集边效应物理意义之探讨被引量：7: 2; 作者石林初《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期14-18,共5页; 由基区电阻的自偏压引起的晶体管发射极电流集边效应，是限制晶体管承载电流能力的因素之一［１～４］。本文以发射极电流集边效应发生的程度，分为四个区域，详细探讨了归一化电位和电流密度分布的特点，指出：在Ⅰ～Ⅱ区，发射极电流... 展开更多; 关键词晶体管发射极电流集边效应; 在线阅读下载PDF 职称材料

数理统计方法在IC大生产中的应用──试论工序能力指数与成品率的关系被引量：2: 3; 作者石林初《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期125-128,共4页; 单道工序能力指数Cp和单道工序的成品率y是全面质量管理TQC（TotalQualityControl）的两个关键参数．本文利用余误差函数表和线性插值修正法计算了不同Cp的y值，并给出了对应表格，从而大大方便了数理统计方法在工业化大生产中的实际应用．; 关键词工序能力指数成品率数理统计 IC 制造; 在线阅读下载PDF 职称材料

电阻网络元模拟算法及其在IC设计中的应用被引量：2: 4; 作者石林初《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期20-23,共4页; 提出了一种模拟任意形状的薄层电阻的方法——电阻网络元模拟算法。将模拟值和计算值进行比较表明，该方法具有精度高和操作简单的优点，从而在ＩＣ的设计中获得广泛的应用。; 关键词薄层电阻模拟算法电阻网络元 IC 集成电路; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于神经网络的集成电路生产过程建模与优化被引量：1: 1; 作者王向东陈咏梅王守觉石林初; 机构中国科学院半导体研究所华晶电子集团公司双极设计所; 出处《自动化学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第3期289-295,共7页; 文摘以提高半导体生产线的成品率为目标 ,利用神经网络对半导体芯片生产过程进行了建模和优化 .首先使用神经网络方法建立模型 ,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系 ,构造多维映射函数曲面 ;随后对多维映射函数曲面进行搜索 ,搜索成品率最高的最优点 ,据此确定工艺参数的规范值 ;最后 ,根据优化后的工艺参数规范进行实际生产 .采用这种优化建议 ,半导体生产线的平均成品率由 51 .7%提高到了 57.5% .; 关键词集成电路生产过程建模优化神经网络半导体芯片; Keywords Feedforward neural networks Learning algorithms Manufacture Mathematical programming Optimization Production control VLSI circuits; 分类号 TP183 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程] TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名晶体管发射极电流集边效应物理意义之探讨被引量：7: 2; 作者石林初; 机构中国华晶电子集团公司; 出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期14-18,共5页; 基金国家自然科学基金; 文摘由基区电阻的自偏压引起的晶体管发射极电流集边效应，是限制晶体管承载电流能力的因素之一［１～４］。本文以发射极电流集边效应发生的程度，分为四个区域，详细探讨了归一化电位和电流密度分布的特点，指出：在Ⅰ～Ⅱ区，发射极电流集边效应不明显，晶体管承载电流能力主要由发射区面积决定；在Ⅰ～Ⅲ区，发射极电流集边效应明显，晶体管承载电流能力由发射区面积和发射区有效周长共同决定；在Ⅰ～Ⅳ区发射极电流集边效应已非常突出，晶体管承载电流能力由发射区有效周长决定。; 关键词晶体管发射极电流集边效应; Keywords Principle of transistor Edge crouding effect of emitter current Base resistor Effective peripheral length of emitter Effective width of emitter; 分类号 TN320.1 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名数理统计方法在IC大生产中的应用──试论工序能力指数与成品率的关系被引量：2: 3; 作者石林初; 机构中国华晶电子集团公司; 出处《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期125-128,共4页; 文摘单道工序能力指数Cp和单道工序的成品率y是全面质量管理TQC（TotalQualityControl）的两个关键参数．本文利用余误差函数表和线性插值修正法计算了不同Cp的y值，并给出了对应表格，从而大大方便了数理统计方法在工业化大生产中的实际应用．; 关键词工序能力指数成品率数理统计 IC 制造; Keywords Processing capability index, Yield, Mathematic-statistical method; 分类号 TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学] F426.63 [经济管理—产业经济]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名电阻网络元模拟算法及其在IC设计中的应用被引量：2: 4; 作者石林初; 机构中国华晶电子集团公司; 出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期20-23,共4页; 基金国家自然科学基金; 文摘提出了一种模拟任意形状的薄层电阻的方法——电阻网络元模拟算法。将模拟值和计算值进行比较表明，该方法具有精度高和操作简单的优点，从而在ＩＣ的设计中获得广泛的应用。; 关键词薄层电阻模拟算法电阻网络元 IC 集成电路; Keywords Sheet resistor Simulating algorithm Resistor net cell; 分类号 TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	基于神经网络的集成电路生产过程建模与优化	王向东陈咏梅王守觉石林初	《自动化学报》 EI CSCD 北大核心	2001	1	在线阅读下载PDF 职称材料
2	晶体管发射极电流集边效应物理意义之探讨	石林初	《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心	1999	7	在线阅读下载PDF 职称材料
3	数理统计方法在IC大生产中的应用──试论工序能力指数与成品率的关系	石林初	《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心	1998	2	在线阅读下载PDF 职称材料
4	电阻网络元模拟算法及其在IC设计中的应用	石林初	《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心	1999	2	在线阅读下载PDF 职称材料