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基于C++的多通道RF-MEMS测试系统上位机软件设计
1
作者
睢林
曹咏弘
王耀利
《舰船电子工程》
2025年第2期172-177,共6页
为了提高RF-MEMS的发展,需要对RF-MEMS性能进行检测,为此针对RF-MEMS开发了无损测试系统,而为了解决对测试系统的控制及数据处理问题,利用VS(Microsoft Visual Studio)开发平台基于C++MFC库设计RF-MEMS测试系统上位机软件。该软件利用US...
为了提高RF-MEMS的发展,需要对RF-MEMS性能进行检测,为此针对RF-MEMS开发了无损测试系统,而为了解决对测试系统的控制及数据处理问题,利用VS(Microsoft Visual Studio)开发平台基于C++MFC库设计RF-MEMS测试系统上位机软件。该软件利用USB接口与GPIB(NI VISA)接口分别与RF-MEMS测试系统控制电路模块和测量模块实现信息交互,然后通过信号分析模块对数据进行处理,将这些数据波形显示在测试系统液晶屏上。该控制软件实现了测试系统的一体化和智能化,且运行流畅操作简单,满足了当下对测试系统智能化便捷化的需求具有应用推广价值。
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关键词
VSC++
上位机软件
RF-MEMS测试系统
通道控制
波形显示
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职称材料
基于各向异性导电膜的射频SP8T开关无损测试
2
作者
睢林
曹咏弘
+3 位作者
王耀利
张凯旗
张翀
程亚昊
《半导体技术》
北大核心
2024年第1期97-102,共6页
为了解决射频器件无损测试的难点,基于各向异性导电膜Z轴(ACF-Z)连接结构,设计并实现了射频器件无损测试技术。针对表面贴装式GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)单刀八掷(SP8T)开关,该测试技术使用ACF-Z轴连接结构实现器件与测试板的...
为了解决射频器件无损测试的难点,基于各向异性导电膜Z轴(ACF-Z)连接结构,设计并实现了射频器件无损测试技术。针对表面贴装式GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)单刀八掷(SP8T)开关,该测试技术使用ACF-Z轴连接结构实现器件与测试板的无损连接,通过矢量网络分析仪对GaAs MESFET SP8T开关性能进行测试,最多可同时测试SP8T开关的8个通道。测试结果显示,1~8 GHz内,器件的插入损耗为-15~-35 dB,回波损耗为-15~-35 dB,测试过程中未对器件造成损伤。
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关键词
射频器件
无损测试
各向异性导电膜Z轴(ACF-Z)连接结构
GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)
单刀八掷(SP8T)开关
插入损耗
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职称材料
题名
基于C++的多通道RF-MEMS测试系统上位机软件设计
1
作者
睢林
曹咏弘
王耀利
机构
中北大学仪器与电子学院
中北大学前沿交叉科学研究院
中北大学电气与控制工程学院
出处
《舰船电子工程》
2025年第2期172-177,共6页
文摘
为了提高RF-MEMS的发展,需要对RF-MEMS性能进行检测,为此针对RF-MEMS开发了无损测试系统,而为了解决对测试系统的控制及数据处理问题,利用VS(Microsoft Visual Studio)开发平台基于C++MFC库设计RF-MEMS测试系统上位机软件。该软件利用USB接口与GPIB(NI VISA)接口分别与RF-MEMS测试系统控制电路模块和测量模块实现信息交互,然后通过信号分析模块对数据进行处理,将这些数据波形显示在测试系统液晶屏上。该控制软件实现了测试系统的一体化和智能化,且运行流畅操作简单,满足了当下对测试系统智能化便捷化的需求具有应用推广价值。
关键词
VSC++
上位机软件
RF-MEMS测试系统
通道控制
波形显示
Keywords
VSC++
upper computer software
RF-MEMS test system
channel control
waveform display
分类号
TN707 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
基于各向异性导电膜的射频SP8T开关无损测试
2
作者
睢林
曹咏弘
王耀利
张凯旗
张翀
程亚昊
机构
中北大学仪器与电子学院
中北大学前沿交叉科学研究院
中北大学电气与控制学院
出处
《半导体技术》
北大核心
2024年第1期97-102,共6页
文摘
为了解决射频器件无损测试的难点,基于各向异性导电膜Z轴(ACF-Z)连接结构,设计并实现了射频器件无损测试技术。针对表面贴装式GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)单刀八掷(SP8T)开关,该测试技术使用ACF-Z轴连接结构实现器件与测试板的无损连接,通过矢量网络分析仪对GaAs MESFET SP8T开关性能进行测试,最多可同时测试SP8T开关的8个通道。测试结果显示,1~8 GHz内,器件的插入损耗为-15~-35 dB,回波损耗为-15~-35 dB,测试过程中未对器件造成损伤。
关键词
射频器件
无损测试
各向异性导电膜Z轴(ACF-Z)连接结构
GaAs金属半导体场效应晶体管(MESFET)
单刀八掷(SP8T)开关
插入损耗
Keywords
RF device
non-destructive testing
anisotropic conductive film Z axis(ACF-Z)con-nection structure
GaAs metal semiconductor field effect transistor(MESFET)
single-pole eight-throw(SP8T)switch
insertion loss
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于C++的多通道RF-MEMS测试系统上位机软件设计
睢林
曹咏弘
王耀利
《舰船电子工程》
2025
0
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职称材料
2
基于各向异性导电膜的射频SP8T开关无损测试
睢林
曹咏弘
王耀利
张凯旗
张翀
程亚昊
《半导体技术》
北大核心
2024
0
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职称材料
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参考文献
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