期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于DE-QPSO算法的MKRVM对电容式RF-MEMS开关的寿命预测方法 被引量:5
1
作者 何怡刚 白月皎 鲁力 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2020年第12期66-75,共10页
为进一步研究电容式RF-MEMS开关在实际应用中存在的可靠性问题,提出一种基于差分进化的量子粒子群算法(DE-QPSO)的多核相关向量机(MKRVM)方法对开关寿命进行预测。首先采用了限制带宽经验模态分解(BREMD)来对实验过程中获得的寿命数据... 为进一步研究电容式RF-MEMS开关在实际应用中存在的可靠性问题,提出一种基于差分进化的量子粒子群算法(DE-QPSO)的多核相关向量机(MKRVM)方法对开关寿命进行预测。首先采用了限制带宽经验模态分解(BREMD)来对实验过程中获得的寿命数据进行去噪处理,提高数据的可靠性;其次采用DE-QPSO获取MKRVM的最优稀疏权重,并利用MKRVM算法对此类开关进行寿命预测;最后利用实验获取的实际数据对所用方法的准确性进行测试。实验结果表明,MKRVM能在0.21 s的时间内得到预测结果,所得数据的均方根为3.1043×10^(6)s,最接近原始数据的3.0657×10^(6)s;DE-QPSO能在0.45 s内得到优化结果,方差为7×10^(-5)。同时得到弹性系数在4~16 N/m的范围内取值时开关寿命最长的结论。 展开更多
关键词 电容式RF-MEMS开关 BREMD MKRVM DE-QPSO 寿命预测
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部