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xFe-Al2O3颗粒薄膜的XRD分析和GMR效应
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作者 艾尔肯·阿不列木 甫尔开提·夏尔丁 哈里木拉提·阿扎 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期637-638,642,共3页
对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可... 对rf溅射法制备的xFe-Al2O3颗粒薄膜,应用X射线衍射仪(XRD)进行了测试和分析,推算了不同样品中Fe粒子的大小和元素面积比.并使用4探针外加磁场法对薄膜的巨磁阻效应进行了分析和讨论.当Fe面积比约为25%时,样品的磁电阻率在1.5T磁场下可达-2.3%. 展开更多
关键词 溅射法 颗粒薄膜 巨磁阻 X-射线衍射
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