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采用FAN算法的组合电路测试生成系统
1
作者
王新玲
王占宁
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1991年第2期46-50,共5页
鉴于测试产生的重要性和可测性设计技术尚未完善,测试生成系统的研究仍很重要。FAN 算法是近年来提出的比以往的测试码产生方法更加有效的一种算法。本文给出一个组合电路测试生成系统CCTGS,用FAN 算法产生测试码,采用并行故障模拟、故...
鉴于测试产生的重要性和可测性设计技术尚未完善,测试生成系统的研究仍很重要。FAN 算法是近年来提出的比以往的测试码产生方法更加有效的一种算法。本文给出一个组合电路测试生成系统CCTGS,用FAN 算法产生测试码,采用并行故障模拟、故障模型为单固定故障。该系统从使用者提供的电路描述和用户参数文件出发,能求得在给定测试序列下所获得的故障覆盖率,也可求出给定电路的完全测试集,系统在VAX-11机上运行。
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关键词
FAN算法
组合电路
测试
生成系统
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职称材料
题名
采用FAN算法的组合电路测试生成系统
1
作者
王新玲
王占宁
机构
北京邮电学院电信系
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1991年第2期46-50,共5页
文摘
鉴于测试产生的重要性和可测性设计技术尚未完善,测试生成系统的研究仍很重要。FAN 算法是近年来提出的比以往的测试码产生方法更加有效的一种算法。本文给出一个组合电路测试生成系统CCTGS,用FAN 算法产生测试码,采用并行故障模拟、故障模型为单固定故障。该系统从使用者提供的电路描述和用户参数文件出发,能求得在给定测试序列下所获得的故障覆盖率,也可求出给定电路的完全测试集,系统在VAX-11机上运行。
关键词
FAN算法
组合电路
测试
生成系统
分类号
TN791.07 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
采用FAN算法的组合电路测试生成系统
王新玲
王占宁
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1991
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