期刊文献+
共找到5篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
一种测量高压气体中离子漂移速度的方法 被引量:3
1
作者 王振涛 沈毅雄 +2 位作者 安继刚 王立强 郝朋飞 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第3期476-480,共5页
利用脉冲X射线机作为离子触发源,用高频数字示波器记录负载电阻上的电压信号,通过曲线拟合得出离子在高压气体中的漂移速度。用该方法实测氙离子在1.5MPa氙气中的漂移速度,结果表明,该方法可简便有效地测量高压气体中的离子漂移速度。
关键词 漂移速度 高压气体 氙离子
在线阅读 下载PDF
凸度仪电离室探测器时间响应特性研究 被引量:2
2
作者 王振涛 沈毅雄 +1 位作者 王立强 郝朋飞 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第9期1128-1131,共4页
本文利用脉冲X射线机发射宽度很短的脉冲射线,通过分析数字示波器记录的电离室负载电阻上的电压信号,测量电离室内的离子漂移时间。利用该方法对凸度仪电离室探测器的时间响应特性进行了研究,给出了不同内部结构、不同电压及不同气压的... 本文利用脉冲X射线机发射宽度很短的脉冲射线,通过分析数字示波器记录的电离室负载电阻上的电压信号,测量电离室内的离子漂移时间。利用该方法对凸度仪电离室探测器的时间响应特性进行了研究,给出了不同内部结构、不同电压及不同气压的电离室离子漂移时间的测量结果,并分析了误差产生的原因。实验结果表明,凸度仪电离室的时间响应满足在线测量热轧钢板的要求。 展开更多
关键词 时间响应特性 电离室 凸度仪 离子漂移
在线阅读 下载PDF
基于ElecNet的凸度仪电离室电场分布模拟 被引量:1
3
作者 郝朋飞 吴志芳 +1 位作者 王振涛 沈毅雄 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第7期1269-1273,共5页
凸度仪对探测器响应时间有很高的要求,对于高压充气电离室探测器,电离室内电场分布是决定其响应时间的一个重要因素。本文通过有限元电场模拟软件ElecNet对凸度仪电离室内部的电场分布进行了仿真,根据仿真结果从理论上分析了高压充气电... 凸度仪对探测器响应时间有很高的要求,对于高压充气电离室探测器,电离室内电场分布是决定其响应时间的一个重要因素。本文通过有限元电场模拟软件ElecNet对凸度仪电离室内部的电场分布进行了仿真,根据仿真结果从理论上分析了高压充气电离室电场分布对其输出波形信号的影响,解释了出现"拖尾"现象的机理,为凸度仪电离室的设计和改进提供了指导。 展开更多
关键词 凸度仪 高压充气电离室 电场分布模拟 ElecNet
在线阅读 下载PDF
利用MCNP对阵列电离室电极片电子发射产额的影响研究
4
作者 蒙亚龙 沈毅雄 谈春明 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第11期1347-1352,共6页
本文通过对7种材质(C、Al、Fe、Cu、Ag、W、Pb)电极片在1.25 Me V入射光子束作用下的电子发射产额进行模拟计算,研究了厚度和材质对阵列电离室电极片电子发射产额的影响关系。研究结果表明:阵列电离室电极片在辐射光子作用下的电子发射... 本文通过对7种材质(C、Al、Fe、Cu、Ag、W、Pb)电极片在1.25 Me V入射光子束作用下的电子发射产额进行模拟计算,研究了厚度和材质对阵列电离室电极片电子发射产额的影响关系。研究结果表明:阵列电离室电极片在辐射光子作用下的电子发射产额在电极片厚度较厚时(特别是大于0.01 mm时),随着电极片厚度或电子密度的增大而明显减小。另外,电极片长度的选取需要结合电极的材质适当考虑。 展开更多
关键词 阵列电离室 电极片厚度和材质 电子发射产额 MCNP模拟研究
在线阅读 下载PDF
Enhancement in Energy Loss of MeV Silicon Clusters in C Films
5
作者 SHEN Yi-Xiong JIANG Dong-Xing +1 位作者 LU Xi-Ting SHEN Ding-Yu 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2001年第4期525-527,共3页
Energy losses of 0.63-1.03MeV/atom Sin(n≤3)clusters in thin carbon films(2-12μg/cm^(2))have been measured by using a special experimental setup with Rutherford backscattering(RBS)technique.The experimental results s... Energy losses of 0.63-1.03MeV/atom Sin(n≤3)clusters in thin carbon films(2-12μg/cm^(2))have been measured by using a special experimental setup with Rutherford backscattering(RBS)technique.The experimental results show that for a given energy per atom,the energy loss of Si^(+)_(2) ions,as well as Si^(+)_(3) ions,is significantly larger than that of Si+ions.This is the first observation of energy loss enhancement in the measurements with RBS technique.The enhancement in energy loss(i.e.the cluster effect)is evident when the effective thickness of the carbon target is thin enough,but not evident when it is thick.The effect will not be obvious until the energy of the projectile is over a certain limit for a special target.This suggests that the cluster effect only occurs in the first layers of the target film,and that the energy of the projectile must be large enough for the effect to be seen. 展开更多
关键词 technique. CLUSTER evident
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部