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SiO_2/Ge:SiO_2/SiO_2夹层结构红外光发射的起源 被引量:3
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作者 沈今楷 吴兴龙 +3 位作者 袁仁宽 谭超 邓树胜 鲍希茂 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期339-342,共4页
我们借助傅立叶变换红外光谱(FT-IR)以及光致激发谱(PLE),研究了 SiO_2/Ge:SiO_2/SiO_2夹层结构红外光发射的起源。谱分析表明,该红外光发射并非起源于纳米锗、硅的量子限制效应以及锗、硅的中性氧空位... 我们借助傅立叶变换红外光谱(FT-IR)以及光致激发谱(PLE),研究了 SiO_2/Ge:SiO_2/SiO_2夹层结构红外光发射的起源。谱分析表明,该红外光发射并非起源于纳米锗、硅的量子限制效应以及锗、硅的中性氧空位,而与锗的氧化物紧密相关。PLE的结果证实它们来源于GeO色心TⅡ’→S0的光学跃迁,给出的GeO电子态模型描述了载流子激发和复合的过程。 展开更多
关键词 光荧光 磁控溅射 红外光发射 GeO色心 SiO2/Ge:SiO2/SiO2夹层结构 二氧化硅 混合物薄膜 氧化锗
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压力传感器芯片的低温玻璃封接技术 被引量:5
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作者 沈今楷 孙以材 +4 位作者 常志宏 贾德贵 孟庆浩 高振斌 杨瑞霞 《传感器技术》 CSCD 1999年第1期10-12,共3页
在硅杯背面制备过渡层,然后用低温玻璃焊料将压力传感器芯片与玻璃基座封接在一起,有效地降低了热应力。采用这种新工艺制造出的压力传感器,性能良好,封接强度达7MPa,提高了可靠性与稳定性。
关键词 压力传感器 芯片封接技术 低温玻璃
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