期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
半导体探测器封前外观自动光学检验系统研究
被引量：
4
1
作者
梁师国
曾志红
+4 位作者
陈晓莉
何俊
梁飞
张颉
罗勇
《光通信研究》
北大核心
2019年第3期47-52,共6页
同轴晶体管外形(TO)封装的半导体探测器年出货量高达千万只,其质量控制与检测是非常重要的。传统的人工借助显微镜的目视检验因受主观判断和视觉疲劳影响,误检率和漏检率较高。为了解决此问题,文章提出了一种适用于同轴型半导体探测器...
同轴晶体管外形(TO)封装的半导体探测器年出货量高达千万只,其质量控制与检测是非常重要的。传统的人工借助显微镜的目视检验因受主观判断和视觉疲劳影响,误检率和漏检率较高。为了解决此问题,文章提出了一种适用于同轴型半导体探测器封前外观自动光学检验(AOI)的方案,运用视觉检测将合格品和不合格品自动识别并分拣,引入景深合成技术实现线弧的高度检测。样机测试结果表明,所提方案具备良好的检测适应性和较低的误检率,适合生产线批量检测任务,可以取代人工目视检验。
展开更多
关键词
同轴晶体管外形半导体探测器
视觉检测
景深合成
自动光学检验
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
半导体探测器封前外观自动光学检验系统研究
被引量：
4
1
作者
梁师国
曾志红
陈晓莉
何俊
梁飞
张颉
罗勇
机构
武汉光迅科技股份有限公司
华中科技大学文华学院
出处
《光通信研究》
北大核心
2019年第3期47-52,共6页
基金
工信部智能制造综合标准化与新模式应用资助项目(WBS2018B0026)
文摘
同轴晶体管外形(TO)封装的半导体探测器年出货量高达千万只,其质量控制与检测是非常重要的。传统的人工借助显微镜的目视检验因受主观判断和视觉疲劳影响,误检率和漏检率较高。为了解决此问题,文章提出了一种适用于同轴型半导体探测器封前外观自动光学检验(AOI)的方案,运用视觉检测将合格品和不合格品自动识别并分拣,引入景深合成技术实现线弧的高度检测。样机测试结果表明,所提方案具备良好的检测适应性和较低的误检率,适合生产线批量检测任务,可以取代人工目视检验。
关键词
同轴晶体管外形半导体探测器
视觉检测
景深合成
自动光学检验
Keywords
coaxial TO semiconductor detector
visual detection
field depth synthesis
AOI
分类号
TN36 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
半导体探测器封前外观自动光学检验系统研究
梁师国
曾志红
陈晓莉
何俊
梁飞
张颉
罗勇
《光通信研究》
北大核心
2019
4
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
