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基于NiosⅡ的真空断路器触头磨损无线检测系统 被引量:4
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作者 闫朋飞 杨帆 柳春茹 《电测与仪表》 北大核心 2010年第12期53-56,共4页
真空灭弧室内的触头是影响真空断路器可靠工作的关键部件,本文针对真空断路器灭弧室触头特点,设计了一种基于SOPC的智能触头检测系统。检测系统以Altera公司的Cyclone系列FPGA为硬件资源,Nios Ⅱ为控制器,采用接触式微位移传感器、TLC2... 真空灭弧室内的触头是影响真空断路器可靠工作的关键部件,本文针对真空断路器灭弧室触头特点,设计了一种基于SOPC的智能触头检测系统。检测系统以Altera公司的Cyclone系列FPGA为硬件资源,Nios Ⅱ为控制器,采用接触式微位移传感器、TLC2543模数转换器、nRF905通信模块、380×240液晶显示终端,实现了真空灭弧室触头磨损在线检测功能,将真空灭弧室内触头磨损情况及时的显示给监控人员,保障了真空断路器可靠的工作。并引入了"一主多从通信协议"、"变化数据存储方法"。系统精度高、速度快、体积小、成本低,可多个从机联网使用,实现触头检测智能化、网络化。 展开更多
关键词 NiosⅡ 断路器 触头检测 NRF905 无线组网
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基于EIT技术的微区薄层电阻测试系统研究 被引量:1
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作者 任献普 刘新福 +3 位作者 黄宇辉 柳春茹 赵晓然 赵丽敏 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第10期949-952,共4页
分析了各种半导体材料电阻率测量方法的优缺点及适用性,利用电阻抗成像技术(EIT),探究了一种用来检测Si片内微区薄层电阻率均匀性的无接触测试技术。实现这种测试技术的硬件电路系统主要由激励模块恒流源、驱动模块多路模拟开关、信号... 分析了各种半导体材料电阻率测量方法的优缺点及适用性,利用电阻抗成像技术(EIT),探究了一种用来检测Si片内微区薄层电阻率均匀性的无接触测试技术。实现这种测试技术的硬件电路系统主要由激励模块恒流源、驱动模块多路模拟开关、信号处理模块前置放大电路、A/D转换器件和DSP(数字信号处理器)芯片、计算机等构成。分别介绍了各模块的构成与功能,并略述了用一种图像重建算法等位线反投影法进行阻抗分布图像的重建。 展开更多
关键词 半导体测试 数字信号处理器 电阻抗成像技术 薄层电阻
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