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基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
被引量:
1
1
作者
王明虎
林大俊
+1 位作者
杨依忠
梁齐
《现代电子技术》
2004年第12期22-24,共3页
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他...
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他的因素 ,并针对其两个主要影响因素 crosstalk (串扰 )和 IR drop ( IR压降 )进行了分析讨论 ,并提出了解决的方案。
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关键词
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
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职称材料
题名
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
被引量:
1
1
作者
王明虎
林大俊
杨依忠
梁齐
机构
合肥工业大学
出处
《现代电子技术》
2004年第12期22-24,共3页
文摘
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他的因素 ,并针对其两个主要影响因素 crosstalk (串扰 )和 IR drop ( IR压降 )进行了分析讨论 ,并提出了解决的方案。
关键词
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
Keywords
signal integrity
crosstalk
IR drop
UDSM
分类号
TN701 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
王明虎
林大俊
杨依忠
梁齐
《现代电子技术》
2004
1
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