期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
被引量：
1
1
作者
王明虎
林大俊
+1 位作者
杨依忠
梁齐
《现代电子技术》
2004年第12期22-24,共3页
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他...
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他的因素 ,并针对其两个主要影响因素 crosstalk (串扰 )和 IR drop ( IR压降 )进行了分析讨论 ,并提出了解决的方案。
展开更多
关键词
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
被引量：
1
1
作者
王明虎
林大俊
杨依忠
梁齐
机构
合肥工业大学
出处
《现代电子技术》
2004年第12期22-24,共3页
文摘
随着工艺尺寸的缩小 ,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻。在超深亚微米 IC设计中 ,设计的复杂性会导致 SI(信号完整性 )问题更加突出 ,从而会影响整个产品的设计周期。本文在此基础上提出了 SI概念以及影响他的因素 ,并针对其两个主要影响因素 crosstalk (串扰 )和 IR drop ( IR压降 )进行了分析讨论 ,并提出了解决的方案。
关键词
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
Keywords
signal integrity
crosstalk
IR drop
UDSM
分类号
TN701 [电子电信—电路与系统]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
王明虎
林大俊
杨依忠
梁齐
《现代电子技术》
2004
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
