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BaO-Nd_2O_3-Sm_2O_3-TiO_2四元系微波介质陶瓷 被引量:17
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作者 杨传仁 叶耀红 +2 位作者 杨成韬 何进 游文南 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 1999年第2期48-51,共4页
本文研究了Bi2O3、PbO及Sm2O3对BaO-Nd2O3-TiO2(简称BNT)系陶瓷材料微波性能的影响。实验表明,在BNT系材料中掺入Bi2O3或PbO可降低材料的频率温度系数τf,但同时也使材料的tgδ增大。... 本文研究了Bi2O3、PbO及Sm2O3对BaO-Nd2O3-TiO2(简称BNT)系陶瓷材料微波性能的影响。实验表明,在BNT系材料中掺入Bi2O3或PbO可降低材料的频率温度系数τf,但同时也使材料的tgδ增大。采用Sm取代部分Nd,形成BaO-Nd2O3-Sm2O3-TiO2(简称BNST)四元系陶瓷材料,可有效降低材料的τf,改善频率温度稳定性,而不会降低材料的品质因素Q0。当Sm2O3∶Nd2O3=7∶3(mol比)时,可得到εr=80.80,tgδ=2.92×10-4(27GHz测),τf=23.63ppm/℃的高性能BNST四元系微波介质陶瓷材料。 展开更多
关键词 微波介质陶瓷 介质谐振器 钕钛钡 钐钛钡 陶瓷
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微波多层板基材的性能要求 被引量:8
2
作者 胡文成 杨传仁 +2 位作者 龙继东 邱滟 朱琳 《材料导报》 EI CAS CSCD 2004年第12期19-21,18,共4页
介绍了微波多层板所用基材的性能参数,重点阐述了材料的介电常数、介质损耗、热胀系数、特性阻抗对多层板性能的影响。通过对微带线特性阻抗公式的理论计算,得出了带线的线宽W、导体层的厚度t、介质的厚度h以及介电常数ε_r的精度对特... 介绍了微波多层板所用基材的性能参数,重点阐述了材料的介电常数、介质损耗、热胀系数、特性阻抗对多层板性能的影响。通过对微带线特性阻抗公式的理论计算,得出了带线的线宽W、导体层的厚度t、介质的厚度h以及介电常数ε_r的精度对特性阻抗Z_0的影响程度。这4个因素中,介质的厚度h和带线的线宽W对特性阻抗Z_0的精度影响最大。总结了国内外微波介质材料的研究情况,优选了适合于制造微波多层板的材料。 展开更多
关键词 多层板 特性阻抗 线宽 微带线 基材 介电常数 厚度 微波介质材料 研究情况 制造
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直接键合硅片的亲水处理及其表征 被引量:16
3
作者 何进 陈星弼 +1 位作者 杨传仁 王新 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第5期23-25,29,共4页
硅片直接键合(SDB) 技术的关键在于硅片表面的亲水处理, 本文分析了亲水处理之微观机理。从界(表) 面物理化学角度讨论了接触角对硅片表面亲水性的表征及其准确测量方法,
关键词 硅片直接键合 亲水处理 接触角 SDB技术
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基于FPGA的平板显示器件驱动电路的设计 被引量:11
4
作者 罗菊华 杨传仁 +1 位作者 张继华 陈宏伟 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期680-685,共6页
介绍了一种基于FPGA的平板显示器件驱动电路的设计方法。在FPGA内部设计了数字GAMMA校正、时基校正、时钟发生器、锁相环、I2C控制等模块,替代了各个专用集成芯片的功能,用数字技术取代传统模拟技术实现电路各模块,简化了电路;能够完成... 介绍了一种基于FPGA的平板显示器件驱动电路的设计方法。在FPGA内部设计了数字GAMMA校正、时基校正、时钟发生器、锁相环、I2C控制等模块,替代了各个专用集成芯片的功能,用数字技术取代传统模拟技术实现电路各模块,简化了电路;能够完成平板显示器件显示时序及控制方面的要求且控制灵活;能驱动大部分的平板显示器件,通用性好;设计了丰富的扩展信号接口,FPGA外挂SDRAM可应用于更大规模的平板显示驱动,可移植性强。采用高分辨率液晶投影显示屏LCX029CPT来验证所设计的驱动电路,通过电路实现,显示出质量很好的图像。 展开更多
关键词 平板显示器件 驱动电路 FPGA 伽玛校正
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Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3薄膜的微结构及铁电性能研究 被引量:4
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作者 陈宏伟 杨传仁 +2 位作者 符春林 赵莉 高志强 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期96-99,共4页
采用射频磁控溅射法制备了Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3(简称BST)薄膜材料,研究了BST薄膜的组成、晶体结构、表面形貌及介电性能。介电偏压特性曲线和电滞回线都表明其具有铁电性,厚度为500nm、晶粒尺寸为30nm的BST薄膜,介电系数电压变化率(... 采用射频磁控溅射法制备了Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3(简称BST)薄膜材料,研究了BST薄膜的组成、晶体结构、表面形貌及介电性能。介电偏压特性曲线和电滞回线都表明其具有铁电性,厚度为500nm、晶粒尺寸为30nm的BST薄膜,介电系数电压变化率(介电调谐率)为29.4%,矫顽场强(EC)约为12.1kV/cm,并讨论了介电偏压特性曲线和电滞回线之间的联系,解释了电滞回线不对称的原因。 展开更多
关键词 性能研究 微结构 射频磁控溅射法 BST薄膜 电滞回线 特性曲线 电压变化率 薄膜材料 晶体结构 介电性能 表面形貌 晶粒尺寸 介电系数 铁电性 电调谐 不对称 偏压
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钛酸锶钡(BST)薄膜的介电性能机理研究进展 被引量:10
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作者 符春林 杨传仁 +2 位作者 陈宏伟 胡文成 李文远 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2003年第3期187-194,共8页
钛酸锶钡 (BST)薄膜是一种重要的铁电薄膜 ,应用广泛 ,是高新技术研究的前沿和热点之一。简要介绍BST薄膜的制备方法和应用 ,重点讨论BST薄膜的极化、电压非线性、漏电流的机理、表征及影响因素 ,并综述了铁电薄膜的疲劳机制和消除疲劳... 钛酸锶钡 (BST)薄膜是一种重要的铁电薄膜 ,应用广泛 ,是高新技术研究的前沿和热点之一。简要介绍BST薄膜的制备方法和应用 ,重点讨论BST薄膜的极化、电压非线性、漏电流的机理、表征及影响因素 ,并综述了铁电薄膜的疲劳机制和消除疲劳措施等方面的研究进展 。 展开更多
关键词 钛酸锶钡 铁电薄膜 极化 电压非线性 漏电流 疲劳
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钛酸锶钡(BST)薄膜的介电性能研究 被引量:5
7
作者 陈宏伟 杨传仁 +2 位作者 符春林 赵莉 高志强 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期615-617,共3页
 采用射频磁控溅射法制备了BaxSr1-xTiO3(简称BST)薄膜材料,研究了不同膜厚、晶粒尺寸的BST薄膜的介电系数温度特性(εr T)、频率特性(εr f)、电压特性(εr U)及损耗的温度特性(tgδ T)、频率特性(tgδ f),找出了BST薄膜的非线性、损...  采用射频磁控溅射法制备了BaxSr1-xTiO3(简称BST)薄膜材料,研究了不同膜厚、晶粒尺寸的BST薄膜的介电系数温度特性(εr T)、频率特性(εr f)、电压特性(εr U)及损耗的温度特性(tgδ T)、频率特性(tgδ f),找出了BST薄膜的非线性、损耗随尺度变化的规律。 展开更多
关键词 钛酸锶钡 薄膜 膜厚 晶粒尺寸 介电性能
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钛酸锶钡(BST)薄膜的组成、结构与性能研究进展 被引量:12
8
作者 符春林 杨传仁 陈宏伟 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2003年第4期255-263,共9页
钛酸锶钡 (BST)薄膜是一种重要的铁电薄膜 ,应用广泛 ,是高新技术研究的前沿和热点之一。简要介绍了BST薄膜的制备方法和应用 ,对此薄膜的基片、电极、晶界、界面、热处理、膜厚及组成、结构、性能等方面作了重点讨论 。
关键词 钛酸锶钡 铁电薄膜 基片 电极 晶界 界面 介电性能
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铁电薄膜中的电畴研究进展 被引量:2
9
作者 符春林 杨传仁 +2 位作者 陈宏伟 王迎新 胡立业 《材料导报》 EI CAS CSCD 2004年第10期68-72,共5页
铁电薄膜是一类重要的功能材料,铁电畴是其物理基础。综述了铁电薄膜中电畴的表征方法(高分辨透射电镜、扫描力显微镜、X射线衍射、拉曼光谱等)、类型(c畴和a畴、180°畴和90°畴等)、临界尺寸(单畴临界尺寸和铁电临界尺寸)等... 铁电薄膜是一类重要的功能材料,铁电畴是其物理基础。综述了铁电薄膜中电畴的表征方法(高分辨透射电镜、扫描力显微镜、X射线衍射、拉曼光谱等)、类型(c畴和a畴、180°畴和90°畴等)、临界尺寸(单畴临界尺寸和铁电临界尺寸)等方面的研究进展,提出了研究中需要解决的一些问题。 展开更多
关键词 铁电薄膜 单畴 铁电畴 物理基础 X射线衍射 功能材料 高分辨透射电镜 拉曼光谱 扫描力显微镜 临界尺寸
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碳纳米管场发射机理述评 被引量:3
10
作者 张继华 杨传仁 王曦 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第2期13-16,共4页
较全面地介绍了碳纳米管场发射研究10年来在发射机理方面的研究结果,包括场发射能量分布、逸出功、发射模型以及发射稳定性和失效等问题,并介绍了相关方面的研究结果。
关键词 碳纳米管 场电子发射 发射机理 场发射能量分布 逸出功 能量分布 发射模型 场发射 稳定性
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遗传程序设计用于工业调优——炼钢转炉炉龄预测 被引量:2
11
作者 蔡煜东 程兆年 +3 位作者 陈念贻 杨传仁 许立 陆文聪 《自动化学报》 EI CSCD 北大核心 1997年第1期50-55,共6页
提出了炼钢转炉炉龄问题预测的遗传程序设计方法,并选取一组标样进行了研究.结果表明,该方法性能良好,可望成为钢铁工业预测。
关键词 工业调优 炼钢 转炉炉龄 遗传程序设计 预测
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表面覆铪改善碳纳米管膜发射性能 被引量:2
12
作者 张继华 王永进 +3 位作者 冯涛 于伟东 王曦 杨传仁 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期624-626,共3页
研究了表面沉积铪膜并进行后处理对碳纳米管膜场电子发射性能的影响。研究结果表明在适当的退火温度下碳纳米管表面形成了碳化铪,并显著提高了碳纳米管的发射电流密度、发射均匀性和发射稳定性。我们认为碳纳米管表面发射性能的提高归... 研究了表面沉积铪膜并进行后处理对碳纳米管膜场电子发射性能的影响。研究结果表明在适当的退火温度下碳纳米管表面形成了碳化铪,并显著提高了碳纳米管的发射电流密度、发射均匀性和发射稳定性。我们认为碳纳米管表面发射性能的提高归功于表面碳化铪膜良好的导电性、化学惰性和低逸出功。 展开更多
关键词 碳纳米管 场发射 碳化铪 薄膜
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钛酸锶钡薄膜C-V曲线不对称现象研究 被引量:2
13
作者 胡立业 杨传仁 +1 位作者 符春林 陈宏伟 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第11期1704-1705,1708,共3页
采用射频(RF)磁控溅射在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜。通过研究BST薄膜的电容-偏压(C-V)特性曲线发现,溅射过程中的离子注入引起底电极/铁电薄膜界面处产生了过渡层,从而导致C-V曲线不对称。最后我们通过改... 采用射频(RF)磁控溅射在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜。通过研究BST薄膜的电容-偏压(C-V)特性曲线发现,溅射过程中的离子注入引起底电极/铁电薄膜界面处产生了过渡层,从而导致C-V曲线不对称。最后我们通过改进溅射工艺对这一机理进行了实验验证。 展开更多
关键词 钛酸锶钡 薄膜 C-V曲线 不对称 界面
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钛酸锶钡(BST)薄膜的XPS研究 被引量:4
14
作者 陈宏伟 杨传仁 符春林 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2005年第2期149-151,共3页
采用射频磁控溅射法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了BaxSr1-xTiO3(BST)薄膜,对BST/Pt/Ti/SiO2/Si结构进行了XPS深度分析。研究结果表明:制备的BST薄膜内部化学成分基本一致;氧缺位在薄膜体内比表面更严重;Pt底电极向薄膜、衬底之间扩散,BST... 采用射频磁控溅射法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了BaxSr1-xTiO3(BST)薄膜,对BST/Pt/Ti/SiO2/Si结构进行了XPS深度分析。研究结果表明:制备的BST薄膜内部化学成分基本一致;氧缺位在薄膜体内比表面更严重;Pt底电极向薄膜、衬底之间扩散,BST/Pt及Pt/SiO2之间存在明显的界面过渡层。 展开更多
关键词 钛酸锶钡 薄膜 X-射线光电子能谱(XPS)
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化学镀镍液自动分析仪的研制 被引量:3
15
作者 胡文成 杨传仁 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第z2期124-125,共2页
采用连续流动分光光度的原理研制出了化学镀镍工艺过程镀液中硫酸镍和次磷酸钠在线自动分析仪,通过对标准硫酸镍和次磷酸钠浓度的测试得出了浓度与吸光度关系的回归方程。对不同镀液的测试,自动分析仪的标准偏差小于2%,与化学分析方法... 采用连续流动分光光度的原理研制出了化学镀镍工艺过程镀液中硫酸镍和次磷酸钠在线自动分析仪,通过对标准硫酸镍和次磷酸钠浓度的测试得出了浓度与吸光度关系的回归方程。对不同镀液的测试,自动分析仪的标准偏差小于2%,与化学分析方法相比的误差小于3%,并可将分析时间缩短至6min。 展开更多
关键词 化学镀镍 硫酸镍浓度 次磷酸钠浓度 自动分析
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一种新偏压结构的BST电容梳状滤波器设计 被引量:1
16
作者 王文君 张洪波 +3 位作者 赵强 陈宏伟 杨传仁 张继华 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2013年第4期552-555,共4页
介绍了一种五阶可调抽头式梳状线滤波器,设计采用共面方式接地,使用Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)铁电薄膜平板电容作为可调部件,并分析了平板电容结构的影响。针对梳状电调滤波器需单阶加压和外接大电阻繁琐的情况,提出利用集成在衬底上的大容量... 介绍了一种五阶可调抽头式梳状线滤波器,设计采用共面方式接地,使用Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)铁电薄膜平板电容作为可调部件,并分析了平板电容结构的影响。针对梳状电调滤波器需单阶加压和外接大电阻繁琐的情况,提出利用集成在衬底上的大容量BST电容作为隔离电容,将各阶谐振器的偏压线互连来简化加压过程。运用高频电磁仿真软件HFSS进行验证,设计出的滤波器中心频率可调范围为842~960 MHz(14%),3dB带宽为9%~10%。 展开更多
关键词 可调滤波器 铁电薄膜 BA0 6Sr0 4TiO3(BST) 偏压线互连 边缘效应
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LaAlO_3(110)基片上BST薄膜的制备及性能研究 被引量:1
17
作者 王波 杨传仁 +3 位作者 陈宏伟 张继华 余桉 张瑞婷 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2009年第1期106-108,122,共4页
采用射频磁控溅射法在LaAlO3(110)单晶基片上制备了钛酸锶钡薄膜材料。薄膜在800℃退火30 min,结晶优良,薄膜与基片匹配良好,同时由于基片的诱导作用,薄膜在(110)方向有一定的择优取向。测得薄膜的剩余极化强度Pr=1.37μC/cm2,矫顽电场... 采用射频磁控溅射法在LaAlO3(110)单晶基片上制备了钛酸锶钡薄膜材料。薄膜在800℃退火30 min,结晶优良,薄膜与基片匹配良好,同时由于基片的诱导作用,薄膜在(110)方向有一定的择优取向。测得薄膜的剩余极化强度Pr=1.37μC/cm2,矫顽电场强度EC=31.7 kV/cm。对比不同频率下的偏压特性,100 kHz时薄膜具有最高的优值因子F,为23.4。对介电损耗在1 MHz时的增大,作出了初步的解释。 展开更多
关键词 钛酸锶钡(BST) 射频磁控溅射 调谐率 优值因子
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高介电BST材料对MIS结构AlGaN/GaN HEMT器件性能的影响
18
作者 周建军 张继华 +5 位作者 陈堂胜 任春江 焦刚 李忠辉 陈辰 杨传仁 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第S1期98-101,共4页
采用衬底同步加热磁控溅射的高介电BST材料作为栅绝缘层,研制了BST/Al GaN/GaNMIS结构HEMT器件。通过对器件直流和高频特性的测试以及与同样厚度Si N MIS结构对比,分析了高介电BST材料作为栅绝缘层对Al GaN/GaN MIS HEMT器件性能的影响... 采用衬底同步加热磁控溅射的高介电BST材料作为栅绝缘层,研制了BST/Al GaN/GaNMIS结构HEMT器件。通过对器件直流和高频特性的测试以及与同样厚度Si N MIS结构对比,分析了高介电BST材料作为栅绝缘层对Al GaN/GaN MIS HEMT器件性能的影响。使用高介电BST材料作为栅绝缘层可以改善器件的线性特性和跨导特性,提高器件栅的正向工作电压,并有效降低Al GaN/GaN HEMT器件的夹断电压。同时,由于只引入很薄一层高介电材料作为栅绝缘层,器件的高频特性没有显著降低,BST/Al GaN/GaN MIS HEMT器件的电流增益截止频率达到23GHz。 展开更多
关键词 ALGAN/GAN HEMT BST MIS 高介电材料
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射频磁控溅射法制备BST薄膜及性能研究
19
作者 陈宏伟 杨传仁 +2 位作者 符春林 裴亚芳 胡立业 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2005年第3期297-299,302,共4页
采用射频磁控溅射法制备了钛酸锶钡薄膜材料,研究了薄膜的晶体结构和微观形貌,测试了其偏压特性曲线和电滞回线。初步探讨了εr-E曲线、电滞回线发生平移的原因:上下电极与钛酸锶钡薄膜间的界面势垒不对称。
关键词 射频磁控溅射 钛酸锶钡 铁电薄膜 εr-E曲线 电滞回线
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退火对BST薄膜光学特性影响的研究
20
作者 高志强 杨传仁 +3 位作者 陈宏伟 符春林 廖家轩 赵莉 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2006年第1期67-68,71,共3页
利用射频磁控溅射在硅和石英基片上制备了Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜。并用气氛炉和快速晶化炉对其进行退火,比较了退火前后的XRD谱和光致发光光谱,结果表明,退火后,氧缺位减少,发光光谱在紫外区的峰位发生红移,在可见光区的峰位却发生蓝... 利用射频磁控溅射在硅和石英基片上制备了Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜。并用气氛炉和快速晶化炉对其进行退火,比较了退火前后的XRD谱和光致发光光谱,结果表明,退火后,氧缺位减少,发光光谱在紫外区的峰位发生红移,在可见光区的峰位却发生蓝移,荧光峰半高宽变窄。同时,透射光谱表明,薄膜的禁带宽度变窄。 展开更多
关键词 BST 退火处理 XRD 光谱
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