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Mg膜厚度对Mg_2Si半导体薄膜结构及方块电阻的影响: 1; 作者杨云良廖杨芳 +4 位作者姚震震肖清泉张宝晖章竞予谢泉《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2015年第7期525-530,共6页; 采用射频磁控溅射系统和热处理系统制备了Mg2Si半导体薄膜。首先在Si衬底上溅射不同厚度的Mg膜,然后在真空退火炉中进行低真空热处理4 h制备一系列Mg2Si半导体薄膜。采用台阶仪、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对Mg2Si薄膜样品... 展开更多; 关键词磁控溅射热处理 Mg2Si薄膜薄膜厚度方块电阻; 在线阅读下载PDF 职称材料

A1掺杂半导体Mg_2Si薄膜的制备及光学带隙研究被引量：5: 2; 作者王善兰廖杨芳 +4 位作者房迪吴宏仙肖清泉杨云良谢泉《量子电子学报》 CSCD 北大核心 2017年第5期635-640,共6页; 用磁控溅射方法在Si衬底上制备了A1掺杂Mg_2Si薄膜,通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和分光光度计研究了掺杂含量对Mg2Si薄膜组分、表面形貌、粗糙度及光学带隙值的影响。XRD结果表明随着A1掺杂量的增加,Mg2Si... 展开更多; 关键词材料 MgzSi薄膜 A1掺杂光学带隙显微; 在线阅读下载PDF 职称材料

关于换算系数（K）计算公式的讨论: 3; 作者杨云良《铀矿冶》 CAS 1996年第1期62-66,共5页; 换算系数（Ｋ）的公式是否合理，直接影响出窿矿石铀含量的分析质量和矿石的分选质量。本文对换算系数（Ｋ）计算公式进行了讨论。; 关键词换算系数计算公式铀矿石分选质量; 在线阅读下载PDF 职称材料

复合桥面混凝土铺装质量控制: 4; 作者杨云良潘维新《城市道桥与防洪》 2011年第9期209-210,222,共3页; 该文列举复合桥面水泥混凝土铺装的质量通病,并分析原因,提出解决方案。; 关键词复合桥面水泥混凝土铺装铺装厚度质量控制; 在线阅读下载PDF 职称材料

地下室外墙单面模板支撑施工设计: 5; 作者武长勇杨云良 +2 位作者孙志军蔡志勇李艳芳《建筑施工》 2008年第9期814-814,816,共2页; 在地下室中模板只能单面支撑时,介绍了外墙内侧单面模板支撑体系,既确保混凝土垂直度满足规范要求,又省工、省料,且不影响施工进度的施工方案。; 关键词地下室单面支撑模板支撑体系; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名Mg膜厚度对Mg_2Si半导体薄膜结构及方块电阻的影响: 1; 作者杨云良廖杨芳姚震震肖清泉张宝晖章竞予谢泉; 机构贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所; 出处《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2015年第7期525-530,共6页; 基金国家自然科学基金资助项目(61264004) 贵州省科技攻关资助项目(黔科合GY字[2011]3015) +9 种基金 [2013]7003) 贵州省科技厅贵州大学研究生创新基金资助项目(研理工2014004); 文摘采用射频磁控溅射系统和热处理系统制备了Mg2Si半导体薄膜。首先在Si衬底上溅射不同厚度的Mg膜,然后在真空退火炉中进行低真空热处理4 h制备一系列Mg2Si半导体薄膜。采用台阶仪、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对Mg2Si薄膜样品的结构、表面形貌、剖面进行表征,研究了Mg膜厚度对Mg2Si半导体薄膜生成的影响。结果表明,在Si衬底上制备出以Mg2Si(220)为主的单一相Mg2Si薄膜,且Mg2Si(220)的衍射峰强度随着Mg膜厚度的增加先增大后减小,Mg膜为2.52μm时,制备的Mg2Si薄膜表现出了良好的结晶度和平整度。最后,研究了Mg膜厚度对Mg2Si薄膜方块电阻的影响。; 关键词磁控溅射热处理 Mg2Si薄膜薄膜厚度方块电阻; Keywords magnetron sputtering heat treatment Mg2Si film film thickness sheet resistance; 分类号 TN304.055 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名A1掺杂半导体Mg_2Si薄膜的制备及光学带隙研究被引量：5: 2; 作者王善兰廖杨芳房迪吴宏仙肖清泉杨云良谢泉; 机构贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所贵州师范大学物理与电子科学学院; 出处《量子电子学报》 CSCD 北大核心 2017年第5期635-640,共6页; 基金国家自然科学基金 61264004 +6 种基金贵州省自然科学基金 [2014]2052 [2013]2209 贵州省国际科技合作项目 [2013]7003 贵州大学研究生创新基金 2016068~~; 文摘用磁控溅射方法在Si衬底上制备了A1掺杂Mg_2Si薄膜,通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和分光光度计研究了掺杂含量对Mg2Si薄膜组分、表面形貌、粗糙度及光学带隙值的影响。XRD结果表明随着A1掺杂量的增加,Mg2Si衍射峰先增强后减弱。SEM及AFM的结果表明随掺杂量的增加,结晶度先增加后降低,晶粒尺寸减小,粗糙度先增加后降低.得到掺杂后薄膜间接跃迁带隙范围为0.423~0.495 eV,直接跃迁带隙范围为0.72~0.748 eV,掺杂前薄膜间接跃迁带隙和直接跃迁带隙分别为0.53 eV、0.833 eV.; 关键词材料 MgzSi薄膜 A1掺杂光学带隙显微; Keywords materials Mg2Si thin films Al doping optical band gap microscopy; 分类号 TB303 [一般工业技术—材料科学与工程]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名关于换算系数（K）计算公式的讨论: 3; 作者杨云良; 机构核工业总公司七一九矿; 出处《铀矿冶》 CAS 1996年第1期62-66,共5页; 文摘换算系数（Ｋ）的公式是否合理，直接影响出窿矿石铀含量的分析质量和矿石的分选质量。本文对换算系数（Ｋ）计算公式进行了讨论。; 关键词换算系数计算公式铀矿石分选质量; Keywords Conversion coefficient Calculation formula; 分类号 TD926.3 [矿业工程—选矿] TD958 [矿业工程—选矿]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名复合桥面混凝土铺装质量控制: 4; 作者杨云良潘维新; 机构义乌市宏胜市政工程有限公司; 出处《城市道桥与防洪》 2011年第9期209-210,222,共3页; 文摘该文列举复合桥面水泥混凝土铺装的质量通病,并分析原因,提出解决方案。; 关键词复合桥面水泥混凝土铺装铺装厚度质量控制; Keywords compound deck,cement concrete pavement,pavement thickness,quality control; 分类号 U443.33 [建筑科学—桥梁与隧道工程]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名地下室外墙单面模板支撑施工设计: 5; 作者武长勇杨云良孙志军蔡志勇李艳芳; 机构浙江中成建工集团有限公司; 出处《建筑施工》 2008年第9期814-814,816,共2页; 文摘在地下室中模板只能单面支撑时,介绍了外墙内侧单面模板支撑体系,既确保混凝土垂直度满足规范要求,又省工、省料,且不影响施工进度的施工方案。; 关键词地下室单面支撑模板支撑体系; 分类号 TU755.2 [建筑科学—建筑技术科学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	Mg膜厚度对Mg_2Si半导体薄膜结构及方块电阻的影响	杨云良廖杨芳姚震震肖清泉张宝晖章竞予谢泉	《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心	2015	0	在线阅读下载PDF 职称材料
2	A1掺杂半导体Mg_2Si薄膜的制备及光学带隙研究	王善兰廖杨芳房迪吴宏仙肖清泉杨云良谢泉	《量子电子学报》 CSCD 北大核心	2017	5	在线阅读下载PDF 职称材料
3	关于换算系数（K）计算公式的讨论	杨云良	《铀矿冶》 CAS	1996	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	复合桥面混凝土铺装质量控制	杨云良潘维新	《城市道桥与防洪》	2011	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	地下室外墙单面模板支撑施工设计	武长勇杨云良孙志军蔡志勇李艳芳	《建筑施工》	2008	0	在线阅读下载PDF 职称材料