星载抗辐射多频多模导航器件单粒子效应(SEE)数据获取为器件能否在轨可靠使用提供重要参考。在介绍公司自研导航器件组成结构和抗辐照加固设计的基础上,通过设计专用试验板,在FPGA上进行DFT-SCAN、MBIST向量测试。利用重离子加速器完成...星载抗辐射多频多模导航器件单粒子效应(SEE)数据获取为器件能否在轨可靠使用提供重要参考。在介绍公司自研导航器件组成结构和抗辐照加固设计的基础上,通过设计专用试验板,在FPGA上进行DFT-SCAN、MBIST向量测试。利用重离子加速器完成空间单粒子辐照的地面模拟实验,以此确定导航器件的单粒子数据。通过实验数据计算得到导航器件SEE指标数据:抗单粒子锁定LET≥81.4 MeV·cm^(2)/mg,在GEO轨道、ADAMS 90%最坏环境模型、3 mm Al屏蔽条件下,器件SCAN链模式单粒子翻转概率为6.80×10^(-8)次/(天·位),SRAM模式单粒子翻转概率为5.61×10^(-11)次/(天·位),单粒子功能中断概率为5.75×10^(-5)次/(天·器件),为在轨航天器导航接收机使用提供依据和参考。展开更多
文摘星载抗辐射多频多模导航器件单粒子效应(SEE)数据获取为器件能否在轨可靠使用提供重要参考。在介绍公司自研导航器件组成结构和抗辐照加固设计的基础上,通过设计专用试验板,在FPGA上进行DFT-SCAN、MBIST向量测试。利用重离子加速器完成空间单粒子辐照的地面模拟实验,以此确定导航器件的单粒子数据。通过实验数据计算得到导航器件SEE指标数据:抗单粒子锁定LET≥81.4 MeV·cm^(2)/mg,在GEO轨道、ADAMS 90%最坏环境模型、3 mm Al屏蔽条件下,器件SCAN链模式单粒子翻转概率为6.80×10^(-8)次/(天·位),SRAM模式单粒子翻转概率为5.61×10^(-11)次/(天·位),单粒子功能中断概率为5.75×10^(-5)次/(天·器件),为在轨航天器导航接收机使用提供依据和参考。
