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Au(111)表面自组装硫醇单分子膜的STM成像机理 被引量:1
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作者 李斌 曾长淦 +3 位作者 李群祥 杨金龙 侯建国 朱清时 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第3期189-193,共5页
本文利用基于密度泛函理论的算法模拟Au(1 1 1 )表面紧密堆构型的烷烃硫醇自组装单分子层膜 (SAMs)中单分子的扫描隧道显微镜 (STM)图像 ,发现图像细节依赖于偏压和烃链链长 ,主要由受电子效应影响的形貌效应决定。同时进行了电子结构... 本文利用基于密度泛函理论的算法模拟Au(1 1 1 )表面紧密堆构型的烷烃硫醇自组装单分子层膜 (SAMs)中单分子的扫描隧道显微镜 (STM)图像 ,发现图像细节依赖于偏压和烃链链长 ,主要由受电子效应影响的形貌效应决定。同时进行了电子结构分析以研究硫醇SAMs的STM成像机制 。 展开更多
关键词 自组装单分子层膜 烷烃硫醇 扫描隧道显微镜 STM 电子效应 形貌效应 吸附模式 纳米技术
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分子取向的高分辨率扫描隧道显微术(英文)
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作者 李斌 曾长淦 侯建国 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期306-310,共5页
本文介绍了一种借助于扫描隧道显微镜的空间高分辨能力探测单个分子取向的方法。利用这种方法 ,我们研究了以下四种体系中的分子取向 :二维C6 0 分子阵列 ;C6 0 (1 1 1 )多层膜表面 ;吸附在Si(1 1 1 ) (7× 7)表面的C6 0 单分子 ;A... 本文介绍了一种借助于扫描隧道显微镜的空间高分辨能力探测单个分子取向的方法。利用这种方法 ,我们研究了以下四种体系中的分子取向 :二维C6 0 分子阵列 ;C6 0 (1 1 1 )多层膜表面 ;吸附在Si(1 1 1 ) (7× 7)表面的C6 0 单分子 ;Au(1 1 1 )表面的硫醇自组装单分子层膜。结合局域密度近似方法理论计算 。 展开更多
关键词 高分辨率扫描隧道显微术 扫描隧道显微镜 分子取向 C60 分子阵列 多层膜 单层膜
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LaAlO_3/SrTiO_3界面导电性的近场成像(英文)
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作者 成龙 王冬利 +4 位作者 戴思远 严跃冬 范晓东 魏来明 曾长淦 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第5期534-537,共4页
铝酸镧/钛酸锶(LaALO_3/SrTiO_3)异质界面被发现具有二维导电性并呈现出其他一些有趣的呈展现象.而此前,LaAlO_3/SrTiO_3异质界面的导电性主要都是通过电学方法进行表征.这里作者首次提出利用散射式扫描近场光学显微镜(s-SNOM)对LaAlO_3... 铝酸镧/钛酸锶(LaALO_3/SrTiO_3)异质界面被发现具有二维导电性并呈现出其他一些有趣的呈展现象.而此前,LaAlO_3/SrTiO_3异质界面的导电性主要都是通过电学方法进行表征.这里作者首次提出利用散射式扫描近场光学显微镜(s-SNOM)对LaAlO_3/SrTiO_3界面的导电性进行空间成像,这为研究过渡金属氧化物异质界面体系的物理现象提供了一个新的手段. 展开更多
关键词 过渡金属氧化物异质界面 铝酸镧/钛酸锶 界面导电性 散射式扫描近场光学显微镜
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利用介电环境调控石墨烯等离激元和基底声子的耦合 被引量:2
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作者 曾凯 范晓东 +2 位作者 王冬利 李晓光 曾长淦 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第2期138-143,共6页
石墨烯等离激元在中红外到太赫兹波段有广阔应用前景。以往研究多关注于石墨烯等离激元和基底声子的耦合,但如何调控这种耦合的报道却很少。一种可能的调控耦合的方式是改变石墨烯条带周围的介电环境。数值模拟表明,与放置在平整二氧化... 石墨烯等离激元在中红外到太赫兹波段有广阔应用前景。以往研究多关注于石墨烯等离激元和基底声子的耦合,但如何调控这种耦合的报道却很少。一种可能的调控耦合的方式是改变石墨烯条带周围的介电环境。数值模拟表明,与放置在平整二氧化硅基底上的石墨烯条带相比,放置在凹槽中的石墨烯条带的等离激元和声子耦合增强。此外,在远离声子频率处色散曲线明显下移,低频段两个色散分支的最大光吸收率也有显著提高。而将石墨烯条带放置在凸台上则结果相反。研究结果表明石墨烯等离激元和基底声子的耦合可以通过改变石墨烯条带边缘介电环境这种简单方式得到有效调控。 展开更多
关键词 等离激元 石墨烯 条带 色散 声子 耦合
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Van der Waals Epitaxy of Anatase TiO2 on mica and Its Application as Buffer Layer
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作者 Han Xu Zhen-Lin Luo +1 位作者 Chang-Gan Zeng Chen Gao 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2019年第7期107-110,共4页
MICAtronics, based on the functional oxide/mica heterostructures, has recently attracted much attention due to its potential applications in transparent, flexible electronics and devices. However, the weak van der Waa... MICAtronics, based on the functional oxide/mica heterostructures, has recently attracted much attention due to its potential applications in transparent, flexible electronics and devices. However, the weak van der Waals interaction decreases the tolerable lattice mismatch and thus limits the species of function oxides that are able to be epitaxially grown on mica. We successfully fabricate relatively high-quality epitaxial anatase TiO2 thin films on mica substrates. Structural analyses reveal that the carefully chosen growth temperature(650℃) and suitable crystalline phase(anatase phase) of TiO2 are the key issues for this van der Waals epitaxy. Moreover, as a buffer layer, the TiO2 layer successfully suppresses the decomposition of BiFeO3 and the difficulty of epitaxial growth of BiFeO3 is decreased. Therefore, relatively high-quality anatase TiO2 is proved to be an effective buffer layer for fabricating more functional oxides on mica. 展开更多
关键词 MICAtronics oxide/mica HETEROSTRUCTURES functional OXIDES on MICA
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Contrasting Transport Performance of Electron-and Hole-Doped Epitaxial Graphene for Quantum Resistance Metrology
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作者 万歆祎 范晓东 +5 位作者 翟昌伟 杨镇宇 郝立龙 李林 鲁云峰 曾长淦 《Chinese Physics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第10期89-94,共6页
Epitaxial graphene grown on silicon carbide(Si C/graphene)is a promising solution for achieving a highprecision quantum Hall resistance standard.Previous research mainly focused on the quantum resistance metrology of ... Epitaxial graphene grown on silicon carbide(Si C/graphene)is a promising solution for achieving a highprecision quantum Hall resistance standard.Previous research mainly focused on the quantum resistance metrology of n-type Si C/graphene,while a comprehensive understanding of the quantum resistance metrology behavior of graphene with different doping types is lacking.Here,we fabricated both n-and p-type Si C/graphene devices via polymer-assisted molecular adsorption and conducted systematic magneto-transport measurements in a wide parameter space of carrier density and temperature.It is demonstrated that n-type devices show greater potential for development of quantum resistance metrology compared with p-type devices,as evidenced by their higher carrier mobility,lower critical magnetic field for entering quantized Hall plateaus,and higher robustness of the quantum Hall effect against thermal degeneration.These discrepancies can be reasonably attributed to the weaker scattering from molecular dopants for n-type devices,which is further supported by the analyses on the quantum interference effect in multiple devices.These results enrich our understanding of the charged impurity on electronic transport performance of graphene and,more importantly,provide a useful reference for future development of graphene-based quantum resistance metrology. 展开更多
关键词 SCATTERING DOPANT METROLOGY
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Scanning Tunnelling Microscope Tip-Induced Reconstruction on Si(111)√3×√3 R30°-Ag Surface
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作者 LI Bin ZENG Chang-Gan +2 位作者 WANG Hai-Qian WANG Bing HOU Jian-Guo 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2001年第2期181-183,共3页
The reconstruction process of the Si(111)√3 ×√3 R30°-Ag surface is studied by using a scanning tunnelling microscope at 78K.By applying a strong interaction between the tip and the surface,a tip-induced re... The reconstruction process of the Si(111)√3 ×√3 R30°-Ag surface is studied by using a scanning tunnelling microscope at 78K.By applying a strong interaction between the tip and the surface,a tip-induced reconstruction corresponding to the mergence of two Si(111)√3 ×√3 R30°-Ag domains is observed.Based on the inequivalent trimers(IET)model,this reconstruction process is attributed to a transition between the clockwise and counterclockwise IET domains.With this transition,the honeycomb-chained-trimer Si(111)√3 ×√3 R30°-Ag anti-phase boundary disappears and changes to the IET structure. 展开更多
关键词 SI(111) structure TRANSITION
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