期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
真空高温热退火对单晶磷化铟纳米孔阵列的形貌、微结构影响
1
作者 曾安生 郑茂俊 +1 位作者 马荔 沈文忠 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第A02期894-895,共2页
利用真空热退火的方法,研究了单晶InP方形纳米孔阵列退火后的形貌和晶相等特征。发现随着退火温度的不断升高,单晶InP中P的挥发性也越来越剧烈,到650℃后P完全挥发,样品变成h单质,而单晶InP方形纳米孔阵列的形貌也逐渐变得不均一... 利用真空热退火的方法,研究了单晶InP方形纳米孔阵列退火后的形貌和晶相等特征。发现随着退火温度的不断升高,单晶InP中P的挥发性也越来越剧烈,到650℃后P完全挥发,样品变成h单质,而单晶InP方形纳米孔阵列的形貌也逐渐变得不均一,当退火温度高于550℃,整个纳米孔阵列被完全破坏。 展开更多
关键词 单晶磷化铟纳米孔阵列 真空热退火 形貌与微结构
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部