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硅微条探测器X射线成像研究 被引量:1
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作者 曹卫刚清华大学工程物理系 陈伯显 李毅强 《核电子学与探测技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第1期38-42,共5页
本文描述了在硅微条探测器动态性能研究基础上,将硅微条探测器用于 X 射线成像的研究工作。硅微条探测器的条距为200μm。完成了64路读出电路、64路甄别器阵列、64路多通道计数器的研制,实现了成像数据的采集,建立了硅微条探测器成像应... 本文描述了在硅微条探测器动态性能研究基础上,将硅微条探测器用于 X 射线成像的研究工作。硅微条探测器的条距为200μm。完成了64路读出电路、64路甄别器阵列、64路多通道计数器的研制,实现了成像数据的采集,建立了硅微条探测器成像应用研究的实验装置。在此基础上,得到了一维成像图像,并提出了用一维扫描的方法,在一维硅微条探测器条件下,实现了二维成像的设想,得到了满意的图像结果,这个设想的实现具有重要的实用价值。 展开更多
关键词 硅微条 探测器 X射线 辐射成像 半导体
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