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平面圆形线圈的磁弹性屈曲 被引量:8
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作者 谢慧才 方葛丰 王德满 《力学学报》 EI CSCD 北大核心 1991年第6期706-711,共6页
本文以 Tokamak 装置中的角向场线圈为背景,导出了平面圆形线圈在周向和横向磁场作用下的磁弹性屈曲条件。发展了 F.C.Moon 的结果。
关键词 磁弹性 屈曲 线圈 托卡马克
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3种改进型LMS算法在噪声抵消中的仿真比较 被引量:8
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作者 曹斌芳 何怡刚 +2 位作者 李建奇 方葛丰 刘慧 《电声技术》 2007年第9期66-69,共4页
介绍了噪声抵消的原理和从强背景噪声中采用自适应滤波提取有用信号的方法;对基于Sigmind函数的变步长算法、基于箕舌线和基于抽样函数的变步长算法进行了对比研究。计算机仿真结果表明,这3种算法都能通过有效抑制各种干扰来提高强噪声... 介绍了噪声抵消的原理和从强背景噪声中采用自适应滤波提取有用信号的方法;对基于Sigmind函数的变步长算法、基于箕舌线和基于抽样函数的变步长算法进行了对比研究。计算机仿真结果表明,这3种算法都能通过有效抑制各种干扰来提高强噪声背景中的信号检测特性;输出均方误差曲线和信噪比表明:基于抽样函数的变步长LMS算法具有良好的收敛性能、更小的权噪声和更大的抑噪能力。 展开更多
关键词 自适应滤波 噪声抵消 算法 仿真
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大规模集成电路相关测试标准的剖析 被引量:6
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作者 杜社会 阳辉 +3 位作者 方葛丰 何怡刚 陈建华 张洪波 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第9期737-741,共5页
集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战。重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题... 集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战。重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准。总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测。 展开更多
关键词 集成电路 测试标准 信号电路
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基于主方程单电子晶体管模拟新方法 被引量:1
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作者 何怡刚 彭浴辉 +3 位作者 李必安 李亨 刘慧 方葛丰 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2007年第1期18-23,共6页
在对单电子晶体管主方程模型及主方程的解法详细的分析的基础上,把单电子晶体管主方程模型和SP ICE的ABM功能结合,提出了基于主方程的单电子晶体管SP ICE模型。该模型由一个非线性电压控制电流源、非线性电压控制电压源、电容构成。并... 在对单电子晶体管主方程模型及主方程的解法详细的分析的基础上,把单电子晶体管主方程模型和SP ICE的ABM功能结合,提出了基于主方程的单电子晶体管SP ICE模型。该模型由一个非线性电压控制电流源、非线性电压控制电压源、电容构成。并利用该模型对单电子晶体管V-I特性进行SP ICE模拟,同直接解主方程解法相比,仿真结果表明该模型具有合理的精确度。 展开更多
关键词 单电子晶体管 主方程模型 SPICE模型 伏安特性
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基于影响因子的频域盲源分离排序算法 被引量:8
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作者 薄祥雷 何怡刚 +3 位作者 尹柏强 方葛丰 樊晓腾 李中群 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第2期360-365,共6页
卷积混合信号盲源分离可以在频域得到有效解决,但频域盲源分离必须解决排序问题.本文研究了频点距离和各频点分离质量对基于相邻频点幅度相关性的排序算法的影响,提出了改进的频域盲源分离排序算法.改进算法通过影响因子来控制频点距离... 卷积混合信号盲源分离可以在频域得到有效解决,但频域盲源分离必须解决排序问题.本文研究了频点距离和各频点分离质量对基于相邻频点幅度相关性的排序算法的影响,提出了改进的频域盲源分离排序算法.改进算法通过影响因子来控制频点距离和各频点分离质量对排序的影响,距离小且分离质量好的频点设置较大影响因子,距离大或分离质量不好的频点则设置较小影响因子.文中详细讨论了影响因子的设定函数.最后对瞬时混合信号、卷积混合信号、实际房间采集信号分别进行盲源分离实验.实验结果表明了本文算法的有效性. 展开更多
关键词 盲源分离 信号处理 排序 幅度相关 影响因子
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存储器故障诊断算法的研究与改进 被引量:3
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作者 郝延红 王家礼 方葛丰 《现代电子技术》 2005年第10期85-88,共4页
由于存储器的结构比较复杂,应用又十分广泛,所以一直是国内外测试领域重点研究的课题之一。在研究经典的存储器故障诊断算法的基础上,吸取经典算法的思想,并结合实际需要,提出了一种基于地址移位的存储器故障诊断方法。他克服了以往算... 由于存储器的结构比较复杂,应用又十分广泛,所以一直是国内外测试领域重点研究的课题之一。在研究经典的存储器故障诊断算法的基础上,吸取经典算法的思想,并结合实际需要,提出了一种基于地址移位的存储器故障诊断方法。他克服了以往算法占用计算机存储空间大、诊断耗时长的缺点,简单易行。实践证明,他的故障覆盖率完全满足要求。 展开更多
关键词 存储器 故障诊断 算法 故障覆盖率
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微处理器系统功能测试 被引量:3
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作者 张峰 王家礼 方葛丰 《现代电子技术》 2005年第10期108-110,共3页
针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法。详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成。该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分... 针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法。详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成。该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分为固定0和固定1两种,开路故障分为开路为0、开路为1以及开路为Z三种。为了验证该方法的有效性,本文针对一块以MC6 80 0为微处理器的电路板进行了测试程序开发。实验结果表明,故障覆盖率取得了满意的结果。 展开更多
关键词 微处理器系统 功能测试 故障覆盖率 结构故障模型
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