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In/Nb共掺杂TiO_(2)薄膜结构特性的电子显微学研究
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作者 路璐 李博宸 +1 位作者 成绍鸫 米少波 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第6期740-747,共8页
本文研究了In/Nb共掺杂TiO_(2)(TINO)薄膜在LaAlO_(3)(001)和m面α⁃Al_(2)O_(3)衬底上的生长行为和显微结构特征。研究发现TINO薄膜在LaAlO_(3)衬底上呈现锐钛矿结构(A⁃TINO),在m面α⁃Al_(2)O_(3)衬底上呈现金红石结构(R⁃TINO)。薄膜与... 本文研究了In/Nb共掺杂TiO_(2)(TINO)薄膜在LaAlO_(3)(001)和m面α⁃Al_(2)O_(3)衬底上的生长行为和显微结构特征。研究发现TINO薄膜在LaAlO_(3)衬底上呈现锐钛矿结构(A⁃TINO),在m面α⁃Al_(2)O_(3)衬底上呈现金红石结构(R⁃TINO)。薄膜与衬底的晶体学取向关系分别为:(001)[100]A⁃TINO//(001)[100]LaAlO_(3)和(001)[100]R⁃TINO//(1100)[0001]α⁃Al_(2)O_(3)。通过原子分辨率扫描透射高角环形暗场像技术确定了A⁃TINO/LaAlO_(3)和R⁃TINO/α⁃Al_(2)O_(3)异质界面以及薄膜中孪晶和晶界的精细结构。本工作有助于理解TiO_(2)基薄膜的外延生长行为以及掺杂元素在材料中的偏聚特征。 展开更多
关键词 二氧化钛 薄膜材料 掺杂 缺陷 界面结构
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