破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高 被引量：9

1

作者 徐爱斌 刘发 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第5期58-60,共3页

简要介绍了破坏性物理分析（DPA）技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所DPA实验室应用DPA技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子。

关键词 DPA 质量提高 破坏性物理分析 电子元器件 缺陷模式控制

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PCB的腐蚀失效及其分析 被引量：9

2

作者 徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第2期28-30,共3页

通过一个电子辞典用PCB腐蚀失效的分析案例,介绍了PCB的失效现象、分析过程和分析技术,阐述了其失效机理,并提出了相应的改进措施。

关键词 印制电路板 软包封 离子玷污 腐蚀失效

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国产光电耦合器主要故障模式和失效机理 被引量：3

3

作者 徐爱斌 李少平 +1 位作者 欧叶芳 郑廷珪 《电子产品可靠性与环境试验》 2000年第3期7-10,共4页

通过对 6种型号 2 0多只国产光电耦合器失效样品的失效分析 ,分析研究了国产光电耦合器的

关键词 光电耦合器 故障模式 失效机理

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基片焊接不良导致微波功率器件热烧毁 被引量：2

4

作者 徐爱斌 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年第1期15-19,共5页

利用声学扫描检测技术,提示了热烧毁的微波功率器件氧化铍陶瓷基片与底座金属散热片的焊接不良现象;通过对样品的研磨与剥离,验证了焊接界面存在大面积空隙的状况;分析了其失效机理,并提出了建议。

关键词 微波功率器件 界面空隙 热烧毁

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密封电子元器件内部水汽含量问题探讨 被引量：8

5

作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第6期26-28,共3页

提出了国产密封电子元器件封装内部水汽含量高的问题,阐述了内部水汽对元器件性能与可靠性的 影响,探讨了降低内部水汽含量的主要技术途径。

关键词 密封电子元器件 内部水汽含量 达标

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SEM在电子元器件破坏性物理分析中的应用 被引量：1

6

作者 徐爱斌 施明哲 《电子产品可靠性与环境试验》 2006年第4期14-15,共2页

探讨了在电子元器件破坏性物理分析(DPA)中,如何利用扫描电子显微镜(SEM)的高分辨、景深深、放大倍数高和立体感强等一系列技术特点,对微电子器件的互连金属化层异常缺陷进行定位观察、成像和分析的技术。实践证明,SEM可以很好地解决光... 探讨了在电子元器件破坏性物理分析(DPA)中,如何利用扫描电子显微镜(SEM)的高分辨、景深深、放大倍数高和立体感强等一系列技术特点,对微电子器件的互连金属化层异常缺陷进行定位观察、成像和分析的技术。实践证明,SEM可以很好地解决光学显微镜无法解决的一些技术问题,可以提高DPA结果的准确性。 展开更多

关键词 扫描电子显微镜 破坏性物理分析 微电子器件 互连金属化层 缺陷

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半导体器件参数退化失效分析 被引量：1

7

作者 徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第4期38-42,共5页

1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但... 1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但要对参漂或退化的器件进行分析时,由于这类失效的原因复杂,失效部位难寻,不像分析致命失效那样较直观,往往不易找到其失效原因。因此,如何准确确定这类失效器件的失效原因,是半导体器件生产厂家和用户长期以来乃至今依然十分关注的问题.本文通过两种型号晶体管的失效分析实例,介绍了对半导体器件参数退化失效原因的诊断分析方法。 展开更多

关键词 半导体器件 参数退化 失效 可靠性

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内部水汽对半导体器件可靠性影响的研究 被引量：4

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作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1994年第2期49-54,共6页

由于各种原因,国内对器件内腔水汽的危害还没给予充分重视和有效控制,器件内部水汽含量较高,使之在环境温度低于封装内水汽露点温度的条件下工作与贮存时容易发生失效,对器件可靠性直接造成威胁,是个急待解决的问题。本研究目的在于了... 由于各种原因,国内对器件内腔水汽的危害还没给予充分重视和有效控制,器件内部水汽含量较高,使之在环境温度低于封装内水汽露点温度的条件下工作与贮存时容易发生失效,对器件可靠性直接造成威胁,是个急待解决的问题。本研究目的在于了解国产军用密封半导体器件内部水汽现状及其对可靠性的影响,探讨揭示内部水汽问题的有效试验方法,寻求降低水汽影响,提高器件可靠性的主要途径。 展开更多

关键词 半导体器件 可靠性 内部水汽 水汽

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工艺缺陷引起霍尔器件功能失效 被引量：2

9

作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第4期36-38,共3页

通过对失效霍尔器件的分析,揭示了芯片金属电极脱边形成位移金属丝的工艺缺陷,导致桥接相邻内电极引起漏电或短路的失效机理。

关键词 霍尔器件 工艺缺陷 功能失效

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引线镀层材料不当造成塑封器件漏电失效 被引量：1

10

作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年第6期11-14,共4页

对漏电失效的塑封三极管,通过显微观察、去除异物前后的电性能对比分析、能谱成分分析等技术手段,揭示了因引线镀层材料采用不当引起银迁移致使器件漏电失效的失效模式及失效机理,并提出了相应的建议措施。

关键词 引线镀层 银迁移 漏电 失效

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国产A/D(模/数)、D/A/(数/模)转换器失效模式和失效机理研究

11

作者 徐爱斌 郑廷圭 +3 位作者 施明哲 罗宏伟 谭超元 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年第1期23-26,33,共5页

国产Ａ／Ｄ（模／数）、Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴露存在问题... 国产Ａ／Ｄ（模／数）、Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴露存在问题，总结经验教训，寻找改进措施，促进该类产品研制与生产水平的提高，以利于国产Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的进一步开发和发展。 展开更多

关键词 A/D转换器 失效模式 失效机理 D/A转换器

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国产直流电源变换器厚膜功率模块失效分析及对策

12

作者 徐爱斌 郑廷珪 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第1期23-27,共5页

1 前言DC—DC电源变换器厚膜功率模块是“八五”期间为国家重点工程和军事应用而研制的新品。国防科工委94年专门下文要求几种主要工程配套用的新型关键元器件要进行评审,DC—DC是其中的一种。电子部五所研究分析中心通过评审过程的失... 1 前言DC—DC电源变换器厚膜功率模块是“八五”期间为国家重点工程和军事应用而研制的新品。国防科工委94年专门下文要求几种主要工程配套用的新型关键元器件要进行评审,DC—DC是其中的一种。电子部五所研究分析中心通过评审过程的失效分析,准确找到了与DC—DC设计、工艺相关的存在问题和薄弱环节,并进行了对策研究,提出了7条改进措施。在1995年3月由科工委和电子部军工基础局召开的DC—DC评审总结会上,该项失效分析工作及其分析结果得到了研制单位、有关专家和上级部门的一致肯定与共识。 展开更多

关键词 直流电源 变换器 厚膜 功率模块

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国产半导体器件贮存10年的可靠性

13

作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1994年第6期69-70,共2页

电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设... 电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设备可靠性预计手册》.我国电子产品的贮存可靠性也越来越被大家所关注.近年来,电子部五所数据中心开展了我国电子设备和元器件非工作可靠性与贮存失效率有关数据的收集、研究工作,正在编制出版《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》. 展开更多

关键词 半导体器件 中国 电子设备 可靠性 贮存期

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机载电子设备用集成运放失效分析

14

作者 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年第1期22-25,共4页

本文介绍了某机载电子设备用F007通用型运算放大器失效样品的分析过程与方法、提出了有关的失效模式和失效机理，并据此指出了解决问题的途径。

关键词 机载电子设备 运算放大器 失效分析 电子产品

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MCM-D多层金属布线互连退化模式和机理 被引量：2

15

作者 何小琦 徐爱斌 章晓文 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第5期6-10,共5页

介绍了MCM-D多层金属互连结构的工艺及材料特点,并就Cu薄膜布线导体的结构特点和元素扩散特性,说明了多层布线互连退化的模式和机理,以及防止互连退化的技术措施。实验分析表明,Au/Ni/Cu薄膜布线结构的互连退化原因是,Cu元素沿导带缺陷... 介绍了MCM-D多层金属互连结构的工艺及材料特点,并就Cu薄膜布线导体的结构特点和元素扩散特性,说明了多层布线互连退化的模式和机理,以及防止互连退化的技术措施。实验分析表明,Au/Ni/Cu薄膜布线结构的互连退化原因是,Cu元素沿导带缺陷向表层扩散后,被氧化腐蚀,导致互连电阻增大,而Cu元素在温度应力作用下向PI扩散,导致PI绝缘电阻下降。 展开更多

关键词 MCM-D 多层金属布线 多芯片组件 通孔 退化

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监理造价控制与跟踪审计关系探讨 被引量：2

16

作者 徐爱斌 《建设监理》 2013年第11期28-29,57,共3页

随着社会主义市场经济的迅速发展,我国目前工程造价管理逐步发展为监理和跟踪审计共同控制的管理模式。这种模式存在的主要弊端有监理在造价控制上甩包袱、跟踪审计人员权力过大、监理对工程结算审核失控。监理要正确认识自身的位置和角... 随着社会主义市场经济的迅速发展,我国目前工程造价管理逐步发展为监理和跟踪审计共同控制的管理模式。这种模式存在的主要弊端有监理在造价控制上甩包袱、跟踪审计人员权力过大、监理对工程结算审核失控。监理要正确认识自身的位置和角色,要加强对设计阶段的造价控制,要严格现场签证和支付管理、行使工程竣工结算的审核权。因此,在跟踪审计参与的模式下,监理仍然要按照规范和自身职责要求,真正有效地从监理角度为业主控制好工程造价。 展开更多

关键词 工程造价 控制 跟踪审计 问题 对策

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电子元器件失效分析实例 被引量：1

17

作者 郑廷圭 李少平 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年第4期19-21,共3页

关键词 电子元器件 失效分析 电子模块

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光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策

18

作者 徐爱斌 李少平 +1 位作者 欧叶芳 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年第2期22-24,共3页

研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。

关键词 光电耦合器 电流传输比 退化机理 控制对策

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国产光电耦合器密封试验和内部水汽含量检测结果分析

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作者 徐爱斌 李少平 +1 位作者 欧叶芳 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年第4期20-21,共2页

本文对国内三个光电耦合器主要生产厂家的多种型号品种气密封装光电耦合产品开展了密封试验和内部水汽含量检测，并着重对试验结果进行了分析讨论。

关键词 光电耦合器 密封试验 内部水汽含量 检测

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也谈城市旧城道路改造工程的监理

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作者 徐爱斌 赵龙 《建设监理》 2013年第10期22-24,共3页

通过分析盐城城市市区开发大道旧城道路改造工程的特点和难点,介绍了旧城道路改造工程监理过程中几个要点。

关键词 旧城道路 改造工程 监理

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