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集成电路封装级失效及其定位 被引量:5
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作者 张蓬鹤 陈选龙 +2 位作者 刘丽媛 林道谭 何胜宗 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2015年第6期455-459,477,共6页
失效分析中有许多类型的封装级失效。由于封装材料限制或者无损检测要求,无法从外观直接观察到失效点,需要借助于设备进行失效定位才能快速、准确地进行分析。总结了集成电路封装级失效的几种常见失效机理和失效原因,提出三种有效的分... 失效分析中有许多类型的封装级失效。由于封装材料限制或者无损检测要求,无法从外观直接观察到失效点,需要借助于设备进行失效定位才能快速、准确地进行分析。总结了集成电路封装级失效的几种常见失效机理和失效原因,提出三种有效的分析手段和分析方法进行失效定位:X射线检测、超声扫描声学显微镜以及热激光激发光致电阻变化(OBIRCH)技术,分别用于元器件结构观察、不同材料界面特性分析和键合损伤位置定位。从倒装芯片封装、陶瓷封装、塑料封装和金铝键合短路四个失效分析的实际案例出发,阐明三种封装级失效定位手段应用的领域、特点和局限性。结果表明在封装级失效中,通孔断裂开路、焊料桥连短路、键合损伤和界面分层等缺陷能够准确地被定位进而分析。 展开更多
关键词 集成电路 封装级失效 光致电阻变化(OBIRCH) 失效分析 失效定位 扫描声学显微镜 ( SAM)
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16位高速A/D转换器在高速DSP中的应用 被引量:5
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作者 张蓬鹤 米德伟 《电子产品世界》 2003年第09A期39-40,共2页
介绍ADS7805与DSP的一种简洁、新颖的接口方法,同时用C语言编写了数据采集应用程序。
关键词 A/D转换器 DSP ADS7805 接口方法 C语言 数据采集 程序设计
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热敏打印机与高速数字处理器DSP的接口应用 被引量:1
3
作者 张蓬鹤 王殊 +2 位作者 王勤 吕玲 王宇 《国外电子元器件》 2005年第5期29-31,共3页
分析了仪器仪表领域的发展趋势,详细介绍了微型热敏打印机的工作原理及应用,给出了热敏打印机同DSP的简单接口方法以及相应的打印机初始化程序。
关键词 微型热敏打印机 DSP 接口 程序
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RTL8019型控制器与高速数字信号处理器的接口设计及编程技巧 被引量:4
4
作者 张蓬鹤 王群 张东辉 《国外电子元器件》 2006年第8期47-49,共3页
基于美国TI公司的高速数字信号处理器(DSP),详细描述RTL8019型以太网控制器的性能特点和引脚功能。同时给出DSP与RTL8019的硬件电路接口设计方法及DSP控制RTL8019进行网络传输的相应软件编程方法。
关键词 闪速存储器 接口 DSP TMS320F206 RTL8019
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图形点阵式液晶显示器MSP-G320240在高速处理器DSP中的应用 被引量:6
5
作者 张蓬鹤 米德伟 《国外电子元器件》 2004年第2期31-33,共3页
介绍了内置SED1335控制器的图形液晶显示器MSP-G320240的工作原理及应用方法,给出了MSP-G320240液晶显示器同DSP的简单接口电路 ,同时给出了相应的液晶显示器的初始化和清显示区的具体程序。
关键词 液晶显示器 图形点阵式 MSP-G320240 DSP 处理器
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AT93C46/56/66串行EEPROM及其在单片机中的应用程序 被引量:4
6
作者 张蓬鹤 《国外电子元器件》 2003年第12期66-68,共3页
AT93C46/56 /66是Atmel公司生产的低功耗、低电压、电可擦除、可编程只读存储器 ,采用CMOS工艺技术制造并带有3线串行接口 ,其容量分别为1kB/4kB ,可重复写100万次 ,数据可保存100年以上。文中介绍了该存储器的引脚功能和指令时序 ,给出... AT93C46/56 /66是Atmel公司生产的低功耗、低电压、电可擦除、可编程只读存储器 ,采用CMOS工艺技术制造并带有3线串行接口 ,其容量分别为1kB/4kB ,可重复写100万次 ,数据可保存100年以上。文中介绍了该存储器的引脚功能和指令时序 ,给出了AT93C46/56/66和单片机的接口应用电路和软件程序。 展开更多
关键词 EEPROM 单片机 AT93C46/56/66 存储器 CMOS 串行接口
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SST28SF040与高速数字处理器的接口设计及编程技巧
7
作者 张蓬鹤 邵霞 《世界电子元器件》 2004年第6期36-38,共3页
基于TI公司的高速数字信号处理器芯片,详细描述SST公司推出的28SF040闪存芯片的性能特点、引脚功能,同时给出用其扩展DSP芯片的数据存储器空间的硬件设计电路及相应的软件编程方法。
关键词 SST28SF040 数字处理器 接口 编程
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高速数字信号处理器扩展存储空间的设计方案
8
作者 李映辉 王宇 张蓬鹤 《现代电子技术》 2004年第9期55-56,61,共3页
基于 TI公司的高速数字信号处理器芯片 ,详细描述美国 SST公司推出的 2 8SF0 40闪存芯片的性能特点、引脚功能 ,同时给出用其扩展 DSP芯片的程序存储器空间的硬件设计电路与软件编程方法。
关键词 存储器 接口 DSP 信号处理器
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Experiments and SPICE simulations of double MgO-based perpendicular magnetic tunnel junction 被引量:1
9
作者 Qiuyang Li Penghe Zhang +10 位作者 Haotian Li Lina Chen Kaiyuan Zhou Chunjie Yan Liyuan Li Yongbing Xu Weixin Zhang Bo Liu Hao Meng Ronghua Liu Youwei Du 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2021年第4期518-525,共8页
We investigate properties of perpendicular anisotropy magnetic tunnel junctions(pMTJs) with a stack structure MgO/CoFeB/Ta/CoFeB/MgO as the free layer(or recording layer),and obtain the necessary device parameters fro... We investigate properties of perpendicular anisotropy magnetic tunnel junctions(pMTJs) with a stack structure MgO/CoFeB/Ta/CoFeB/MgO as the free layer(or recording layer),and obtain the necessary device parameters from the tunneling magnetoresistance(TMR) vs.field loops and current-driven magnetization switching experiments.Based on the experimental results and device parameters,we further estimate current-driven switching performance of pMTJ including switching time and power,and their dependence on perpendicular magnetic anisotropy and damping constant of the free layer by SPICE-based circuit simulations.Our results show that the pMTJ cells exhibit a less than 1 ns switching time and write energies <1.4 pJ;meanwhile the lower perpendicular magnetic anisotropy(PMA) and damping constant can further reduce the switching time at the studied range of damping constant α <0.1.Additionally,our results demonstrate that the pMTJs with the thermal stability factor■73 can be easily transformed into spin-torque nano-oscillators from magnetic memory as microwave sources or detectors for telecommunication devices. 展开更多
关键词 magnetic tunnel junctions magnetic tunnel junction(MTJ)model switching time spin torque nano-oscillator
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基于低频噪声检测锂亚电池可靠性的研究 被引量:1
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作者 王乐 张蓬鹤 +3 位作者 成达 卢炽华 向志斌 李先怀 《电子器件》 CAS 北大核心 2019年第6期1444-1448,共5页
为对锂亚电池进行快速有效的可靠性性能研究,将试验前及试验18个月后的锂亚电池采用低频噪声进行检测,检测结果表明1Hz频率下噪声频谱幅值出现1个数量级~5个数量级的变化,比容量测试更能无损反应出锂亚电池的当前性能情况,且基于低频噪... 为对锂亚电池进行快速有效的可靠性性能研究,将试验前及试验18个月后的锂亚电池采用低频噪声进行检测,检测结果表明1Hz频率下噪声频谱幅值出现1个数量级~5个数量级的变化,比容量测试更能无损反应出锂亚电池的当前性能情况,且基于低频噪声检测锂亚电池的可靠性研究,具有重要的实用价值。 展开更多
关键词 锂亚电池 可靠性 低频噪声 容量
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