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FPGA中的空间辐射效应及加固技术
被引量：
10
1
作者
李冬梅
王志华
+1 位作者
高文焕
张尊侨
《电子技术应用》
北大核心
2000年第8期4-6,共3页
介绍空间辐射环境对FPGA造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型的FPGA中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型FPGA中，其辐射效应主要是介质的绝缘击穿，加固措施主要是增加反熔丝厚度，采用三模冗余等技术。在...
介绍空间辐射环境对FPGA造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型的FPGA中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型FPGA中，其辐射效应主要是介质的绝缘击穿，加固措施主要是增加反熔丝厚度，采用三模冗余等技术。在基于SRAM型FPGA中的辐射效应会造成配置失效，加固措施主要是采用监测电路，当配置发生错误时，通过重新配置来恢复系统。
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关键词
FPGA
辐射效应
加固
集成电路
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职称材料
题名
FPGA中的空间辐射效应及加固技术
被引量：
10
1
作者
李冬梅
王志华
高文焕
张尊侨
机构
北京清华大学电子工程系
出处
《电子技术应用》
北大核心
2000年第8期4-6,共3页
文摘
介绍空间辐射环境对FPGA造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型的FPGA中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型FPGA中，其辐射效应主要是介质的绝缘击穿，加固措施主要是增加反熔丝厚度，采用三模冗余等技术。在基于SRAM型FPGA中的辐射效应会造成配置失效，加固措施主要是采用监测电路，当配置发生错误时，通过重新配置来恢复系统。
关键词
FPGA
辐射效应
加固
集成电路
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
FPGA中的空间辐射效应及加固技术
李冬梅
王志华
高文焕
张尊侨
《电子技术应用》
北大核心
2000
10
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