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用中子活化分析镀膜厚度及其探测极限研究
被引量：
1
1
作者
姚茂莹
徐家云
+4 位作者
高党忠
张地大
杨尊勇
姚振强
王明秋
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第12期1509-1512,共4页
本工作提出用中子活化分析有基底的单层或多层镀膜厚度的方法。用Am-Be中子源对Au、Al、Cu等薄膜活化后,用HPGe探测器测量被活化薄膜放出的特征γ射线全能峰面积,并用蒙特卡罗方法模拟计算HPGe探测器对不同特征γ射线的探测效率,得到用...
本工作提出用中子活化分析有基底的单层或多层镀膜厚度的方法。用Am-Be中子源对Au、Al、Cu等薄膜活化后,用HPGe探测器测量被活化薄膜放出的特征γ射线全能峰面积,并用蒙特卡罗方法模拟计算HPGe探测器对不同特征γ射线的探测效率,得到用反应堆中子源活化分析不同元素镀膜厚度的方法和探测极限。与目前广泛使用的X射线荧光方法相比,其分析灵敏度可提高几个量级。
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关键词
镀膜厚度
中子活化
测量灵敏度
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职称材料
题名
用中子活化分析镀膜厚度及其探测极限研究
被引量：
1
1
作者
姚茂莹
徐家云
高党忠
张地大
杨尊勇
姚振强
王明秋
机构
四川大学物理科学与技术学院
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第12期1509-1512,共4页
基金
国家自然科学基金-中国工程物理研究院联合基金资助项目(10476017)
文摘
本工作提出用中子活化分析有基底的单层或多层镀膜厚度的方法。用Am-Be中子源对Au、Al、Cu等薄膜活化后,用HPGe探测器测量被活化薄膜放出的特征γ射线全能峰面积,并用蒙特卡罗方法模拟计算HPGe探测器对不同特征γ射线的探测效率,得到用反应堆中子源活化分析不同元素镀膜厚度的方法和探测极限。与目前广泛使用的X射线荧光方法相比,其分析灵敏度可提高几个量级。
关键词
镀膜厚度
中子活化
测量灵敏度
Keywords
coating film thickness
neutron activation
measuring sensitivity
分类号
TL364.5 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用中子活化分析镀膜厚度及其探测极限研究
姚茂莹
徐家云
高党忠
张地大
杨尊勇
姚振强
王明秋
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
1
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