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铅同位素比值的飞行时间二次离子质谱法测量被引量：1: 1; 作者宋玲根蔡磊 +4 位作者任云珠李白云陶莹曹永明宗祥福《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第4期39-44,共6页; 介绍了用飞行时间二次离子质谱法对器物中的铅同位素比值的测量。在仔细地讨论了质量干扰、二次离子产额的同位素分馆效应等对测量结果的影响后，认为本工作无需标准样品，可以实现对样品无损的高质量分辨的二次离子质谱分析。铅同位素... 展开更多; 关键词铅同位素比值 TOF-SIM法样品; 在线阅读下载PDF 职称材料

一种利用变通的离子散射谱测量进行浓度定标的二次离子质谱深度剖析定量方法: 2; 作者宋玲根张永夏 +1 位作者蔡磊宗祥福《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第3期68-77,共10页; 本工作利用一台不作任何较大改动的ＣＡＭＥＣＡ－ＩＭＳ－３ｆ扇形磁铁型二次离子质谱仪对传统的离子散射谱（ＩＳＳ）分析技术进行了适当的变通，并对二次离子质谱分析（ＳＩＭＳ）的深度剖析谱进行了浓度定标。在保留ＳＩＭＳ分析高... 展开更多; 关键词离子散射谱二次离子质谱定量分析浓度标定; 在线阅读下载PDF 职称材料

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