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题名集成电路测试原理和向量生成方法分析
被引量：14
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作者
宋尚升
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机构
中国空空导弹研究院
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出处
《现代电子技术》
2014年第6期122-124,128,共4页
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基金
国家星火计划重点项目(2010GA690078)
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文摘
测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发,介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台,在仿真验证后,按照ATE向量格式,直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例,验证了此方法的可行性,并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性,对进一步研究测试向量生成,也有一定的参考意义。
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关键词
集成电路测试
自动测试设备
测试向量
向量生成
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Keywords
IC test
ATE
test vector
vector generation
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分类号
TN964-34
[电子电信—信号与信息处理]
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