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SiN插入层对GaN外延膜应力和光学质量的影响(英文) 被引量:3
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作者 宋世巍 梁红伟 +4 位作者 申人升 柳阳 张克雄 夏晓川 杜国同 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第8期1017-1021,共5页
研究了MOCVD系统中原位SiN插入层对GaN薄膜应力和光学性质的影响。采用SiN插入层后,GaN薄膜的裂纹数量大大减少,薄膜所承受的张应力得到了一定的释放。同时,GaN薄膜的缺陷密度降低一倍,晶体质量得到了极大的改善。研究表明,位错密度的... 研究了MOCVD系统中原位SiN插入层对GaN薄膜应力和光学性质的影响。采用SiN插入层后,GaN薄膜的裂纹数量大大减少,薄膜所承受的张应力得到了一定的释放。同时,GaN薄膜的缺陷密度降低一倍,晶体质量得到了极大的改善。研究表明,位错密度的降低在GaN薄膜中留存较大的残余应力,补偿了降温过程中所引入的张应力。同样,随着SiN插入层的应用,低温PL谱的半峰宽降低,薄膜光学质量提高。最后研究了PL谱发光峰与应力的关系,得到了一个-13.8的线性系数。 展开更多
关键词 SIN 应力弛豫 插入层
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低温插入层对绿光LED的发光影响(英文)
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作者 宋世巍 柳阳 +4 位作者 梁红伟 夏小川 张克雄 杨德超 杜国同 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第6期744-747,共4页
利用MOCVD技术在蓝宝石衬底上外延生长了具有低温插入层结构的绿光LED,研究了具有插入层结构的LED的发光特性。插入层的引入增加了In在量子阱中的并入,并且引起了波长红移。经过分析,认为是In的相分离和极化场带来的红移,且恶化了器件... 利用MOCVD技术在蓝宝石衬底上外延生长了具有低温插入层结构的绿光LED,研究了具有插入层结构的LED的发光特性。插入层的引入增加了In在量子阱中的并入,并且引起了波长红移。经过分析,认为是In的相分离和极化场带来的红移,且恶化了器件的性能。 展开更多
关键词 LED 相分离 插入层
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N型4H-SiC ECR氢等离子体处理研究 被引量:1
3
作者 王德君 高明超 +3 位作者 朱巧智 秦福文 宋世巍 王晓霞 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期334-338,416,共6页
采用电子回旋共振(ECR)氢等离子体对n型4H-SiC(0001)表面进行处理,并利用原位高能电子衍射(RHEED)对处理过程进行实时监控。在200°C~700°C温度范围内获得的RHEED图像成条纹状且对比清晰,表明SiC表面原子排列规则,单晶取向性... 采用电子回旋共振(ECR)氢等离子体对n型4H-SiC(0001)表面进行处理,并利用原位高能电子衍射(RHEED)对处理过程进行实时监控。在200°C~700°C温度范围内获得的RHEED图像成条纹状且对比清晰,表明SiC表面原子排列规则,单晶取向性好,计算表明表面未发生重构。用X射线光电子能谱(XPS)技术对表面成分进行分析,结果显示,表面C/C-H污染物被去除、氧含量降低。 展开更多
关键词 碳化硅 氢等离子体 电子回旋共振等离子体 反射式高能电子衍射 X射线光电子能谱
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SiC MOS界面氮等离子体改性及电学特性评价 被引量:1
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作者 王德君 李剑 +2 位作者 朱巧智 秦福文 宋世巍 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期310-314,共5页
降低SiO2/SiC界面态密度是SiCMOS器件研究中的关键技术问题。采用氮等离子体处理SiO2/SiC界面,制作MOS电容后通过I-V、C-V测试进行氧化膜可靠性及界面特性评价,获得的氧化膜击穿场强约为9.96MV/cm,SiO2/SiC势垒高度2.70eV,同时在费米能... 降低SiO2/SiC界面态密度是SiCMOS器件研究中的关键技术问题。采用氮等离子体处理SiO2/SiC界面,制作MOS电容后通过I-V、C-V测试进行氧化膜可靠性及界面特性评价,获得的氧化膜击穿场强约为9.96MV/cm,SiO2/SiC势垒高度2.70eV,同时在费米能级附近SiO2/SiC的界面态密度低减至2.27×1012cm-2eV。实验结果表明,氮等离子体处理SiO2/SiC界面后能有效降低界面态密度,改善MOS界面特性。 展开更多
关键词 二氧化硅/碳化硅界面 金属氧化物半导体电容 氮等离子体 界面态密度
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玻璃衬底上低温沉积GaN薄膜研究 被引量:2
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作者 王文彦 秦福文 +5 位作者 吴爱民 宋世巍 李瑞 姜辛 徐茵 顾彪 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第10期880-884,共5页
采用电子回旋共振-等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)方法在康宁7101型普通玻璃衬底上沉积了GaN薄膜,利用反射高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和霍尔测量系统对样品进行了检测,研究了... 采用电子回旋共振-等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)方法在康宁7101型普通玻璃衬底上沉积了GaN薄膜,利用反射高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和霍尔测量系统对样品进行了检测,研究了其结晶性和电学特性随沉积温度的变化。结果表明,当沉积温度为250-430℃时,得到的GaN薄膜都呈现高度的c轴择优取向,结晶性较好;薄膜表面形貌较为平整且呈n型导电。 展开更多
关键词 电子回旋共振-等离子体增强金属有机物化学气相沉积 氮化镓 低温沉积 玻璃衬底
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喷淋头高度对InGaN/GaN量子阱生长的影响 被引量:1
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作者 柯昀洁 梁红伟 +5 位作者 申人升 宋世巍 夏晓川 柳阳 张克雄 杜国同 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第4期469-473,共5页
在Aixtron 3×2近耦合喷淋式金属有机化学气相沉积反应室中,调节喷淋头与基座之间的距离,制备了7,13,18,25 mm间距的4个InGaN/GaN量子阱样品。利用原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)对样品表面形貌及界面质量进行了表征。研究表明... 在Aixtron 3×2近耦合喷淋式金属有机化学气相沉积反应室中,调节喷淋头与基座之间的距离,制备了7,13,18,25 mm间距的4个InGaN/GaN量子阱样品。利用原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)对样品表面形貌及界面质量进行了表征。研究表明:随着高度的增加,量子阱的表面粗糙度减少,垒/阱界面陡峭度逐步变差,垒层和阱层厚度及阱层In组分含量减少;增加高度至一定值后,量子阱厚度及In组分趋于稳定。此外,对比垒层和阱层的厚度变化,垒层厚度的变化幅度较阱层更为明显。 展开更多
关键词 MOCVD 高度调节 INGAN GaN量子阱
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400nm高性能紫光LED的制作与表征(英文)
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作者 王东盛 郭文平 +8 位作者 张克雄 梁红伟 宋世巍 杨德超 申人升 柳阳 夏晓川 骆英民 杜国同 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期225-229,共5页
利用金属有机物化学气相沉积技术在蓝宝石衬底表面制备了带有p-AlGaN电子阻挡层的400 nm高性能紫光InGaN多量子阱发光二极管。制作了3种紫光LED,分别带有不同p-AlGaN电子阻挡层结构:Al摩尔分数为9%的p-AlGaN电子阻挡层;Al摩尔分数为11%... 利用金属有机物化学气相沉积技术在蓝宝石衬底表面制备了带有p-AlGaN电子阻挡层的400 nm高性能紫光InGaN多量子阱发光二极管。制作了3种紫光LED,分别带有不同p-AlGaN电子阻挡层结构:Al摩尔分数为9%的p-AlGaN电子阻挡层;Al摩尔分数为11%的p-AlGaN电子阻挡层;Al摩尔分数为20%的10对p-AlGaN/GaN超晶格电子阻挡层。带有高浓度Al电子阻挡层的紫光LED的光输出功率高于低浓度Al电子阻挡层的紫光LED。带有10对p-AlGaN/GaN超晶格电子阻挡层的紫光LED的光输出功率获得了极大的提高,在20 mA注入电流时测试得到的光输出功率为21 mW。此外,该LED同时显示了在高注入电流下接近线性的I-L特性曲线和在LED芯片表面均匀的发光强度分布。 展开更多
关键词 金属有机物化学气相沉积 紫光发光二极管 GAN发光二极管 电子阻挡层 超晶格
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衬底弯曲度对GaN基LED芯片性能的影响
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作者 杨德超 梁红伟 +6 位作者 邱宇 宋世巍 申人升 柳阳 夏晓川 俞振南 杜国同 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第3期340-344,共5页
利用低压MOCVD系统在弯曲度值不同的蓝宝石衬底上生长了GaN基LED外延结构并制作芯片。测量了芯片的主要电学和光学参数,并分析了衬底弯曲度值对芯片性能的影响。分析结果表明:存在弯曲度的衬底预先弛豫了外延层中的部分应力,改善了外延... 利用低压MOCVD系统在弯曲度值不同的蓝宝石衬底上生长了GaN基LED外延结构并制作芯片。测量了芯片的主要电学和光学参数,并分析了衬底弯曲度值对芯片性能的影响。分析结果表明:存在弯曲度的衬底预先弛豫了外延层中的部分应力,改善了外延层的质量,从而提高了LED芯片的性能。随着衬底弯曲度值的逐渐增加,下层GaN对有源层中InGaN材料的压应力作用不断减小,导致芯片的主波长逐渐发生蓝移。 展开更多
关键词 GAN LED 弯曲度 残余应力
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喷淋头高度对AlGaN生长的影响
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作者 宋世巍 柯昀洁 《沈阳工程学院学报(自然科学版)》 2018年第1期86-90,共5页
采用GaN材料常用的生长设备金属有机化合物气相沉积(MOCVD)系统,以蓝宝石为衬底,在GaN上沉积Al GaN薄膜。通过调整MOCVD中喷淋头与基座间的距离,探讨喷淋头高度对AlGaN薄膜生长的影响。选择4个喷淋头高度生长样品,利用金相显微镜、原子... 采用GaN材料常用的生长设备金属有机化合物气相沉积(MOCVD)系统,以蓝宝石为衬底,在GaN上沉积Al GaN薄膜。通过调整MOCVD中喷淋头与基座间的距离,探讨喷淋头高度对AlGaN薄膜生长的影响。选择4个喷淋头高度生长样品,利用金相显微镜、原子力显微镜(AFM)和X射线衍射(XRD)对样品进行表征。实验结果表明,在一定范围内,随着喷淋头高度增大,样品表面平滑粗糙度减小,由XRD测试可得此时晶体质量也变好,Al组分线性减少;但继续增大喷淋头高度时,导致预反应过多,Al组分更少,且表面粗糙度增大。 展开更多
关键词 MOCVD 喷淋头高度 AlGaN薄膜
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Improvement of the Quality of a GaN Epilayer by Employing a SiN_(x) Interlayer
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作者 YANG De-Chao LIANG Hong-Wei +5 位作者 SONG Shi-Wei LIU Yang SHEN Ren-Sheng LUO Ying-Min ZHAO Hai-Feng DU Guo-Tong 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2012年第8期257-260,共4页
GaN epilayers with a porous SiN_(x) interlayer were grown by metal-organic chemical vapor deposition on c-plane sapphire substrates.It is found that the crystalline qualities are significantly improved with SiN_(x) gr... GaN epilayers with a porous SiN_(x) interlayer were grown by metal-organic chemical vapor deposition on c-plane sapphire substrates.It is found that the crystalline qualities are significantly improved with SiN_(x) growth.The improvement is attributed to the reduction of the density of threading dislocations(TDs)by an over-growth process of GaN grown on a SiN_(x) interlayer.The influence mechanism of SiN_(x) interlayers on GaN growth mode is also discussed. 展开更多
关键词 GAN SAPPHIRE INTERLAYER
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A Study of GaN Grown on SiH_(4) Pre-Treated 6H-SiC Substrates
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作者 SONG Shi-Wei LIANG Hong-Wei +4 位作者 LIU Yang XIA Xiao-Chuan SHEN Ren-Sheng LUO Ying-Min DU Guo-Tong 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2012年第1期268-271,共4页
GaN thin films are grown on Si-terminated (0001) 6H-SiC substrates pre-treated with SiH_(4) in a metal organic chemical vapor deposition system.The influence of the SiH_(4) pre-treatment conditions on the SiC surface ... GaN thin films are grown on Si-terminated (0001) 6H-SiC substrates pre-treated with SiH_(4) in a metal organic chemical vapor deposition system.The influence of the SiH_(4) pre-treatment conditions on the SiC surface is carefully investigated.It is found that SiH_(4) could react with the SiC surface oxide,which will change the surface termination.Moreover,our experiments demonstrate that SiH_(4) pre-treatment can distinctly influence the AlGaN nucleation layer and the basic characteristics of GaN. 展开更多
关键词 GAN ALGAN (4)
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Enhanced Output Power of Near-Ultraviolet Light-Emitting Diodes by p-GaN Micro-Rods
12
作者 王东盛 张克雄 +7 位作者 梁红伟 宋世巍 杨德超 申人升 柳阳 夏晓川 骆英民 杜国同 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2014年第2期97-100,共4页
Near-ultraviolet (UV) InGaN/AIGaN light-emitting diodes (LEDs) are grown by low-pressure metal-organic chemical vapor deposition. The scanning electronic microscope image shows that the p-OaN micro-rods are formed... Near-ultraviolet (UV) InGaN/AIGaN light-emitting diodes (LEDs) are grown by low-pressure metal-organic chemical vapor deposition. The scanning electronic microscope image shows that the p-OaN micro-rods are formed above the interface of p-A1GaN//p-OaN due to the rapid growth rate of p-OaN in the vertical direction. The p-OaN micro-rods greatly increase the escape probability of photons inside the LED structure. Electrolumi- nescence intensities of the 372nm UV LED lamps with p-OaN micro rods are 88% higher than those of the i/at surface LED samples. 展开更多
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