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MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究
被引量:
11
1
作者
娄红涛
冯辉
+2 位作者
李基森
杨卫花
陈玫
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005年第6期35-40,共6页
研究了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀中甲基磺酸镀纯锡体系pH值、温度、电流密度等工艺条件及杂质金属离子对镀液稳定性、镀层结构和性能等方面的影响。从电流效率、沉积速度及锡镀层表面的扫描电镜等方面,对比了不同pH值、温度、电...
研究了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀中甲基磺酸镀纯锡体系pH值、温度、电流密度等工艺条件及杂质金属离子对镀液稳定性、镀层结构和性能等方面的影响。从电流效率、沉积速度及锡镀层表面的扫描电镜等方面,对比了不同pH值、温度、电流密度以及锡镀液中掺杂Cu2+、Ni2+后对锡镀层结构和性能的影响。研究结果给出了电镀工艺中最佳的pH值为3.5±0.2、温度为(23±2)℃、电流密度可以有较宽的范围,当镀液中掺有镍、铜等杂离子会对镀层产生负面影响,在给出的工艺参数下电镀,可以确保镀出最佳的纯锡镀层。
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关键词
甲基磺酸
镀锡体系
工艺条件
镀层性能
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职称材料
片式电子元器件中无铅可焊镀层的研究
被引量:
11
2
作者
张尹
李基森
+2 位作者
齐坤
陈玫
娄红涛
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005年第2期1-4,11,共5页
研究了对片式电子元器件以纯Sn镀层取代可焊性优异但环保性差的Sn–Pb镀层在生产过程中遇到的问题及解决途径。结果表明,Sn镀层上的“晶须”是制约其使用的主要问题,通过镀覆中间层、控制Sn层厚度、选择减小镀层压应力的添加剂、采用甲...
研究了对片式电子元器件以纯Sn镀层取代可焊性优异但环保性差的Sn–Pb镀层在生产过程中遇到的问题及解决途径。结果表明,Sn镀层上的“晶须”是制约其使用的主要问题,通过镀覆中间层、控制Sn层厚度、选择减小镀层压应力的添加剂、采用甲基磺酸锡体系镀哑光Sn等措施能有效抑制“晶须”的产生,获得可焊性好、能满足片式电子元器件批量生产质量要求的无铅镀层。介绍了以预镀Au、Pd取代Sn–Pb镀层的进展。
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关键词
无铅
锡镀层
片式元器件
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职称材料
MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究(续)
3
作者
冯辉
娄红涛
+2 位作者
李基森
杨卫花
陈玫
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2006年第2期30-35,共6页
针对了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀甲基磺酸镀纯锡体系,提高镀液中Sn2+离子浓度、添加剂浓度及增大阴极电流密度对电流效率、沉积速度、最大允许电流密度及镀层性能等几个方面的影响。结果表明,提高Sn2+离子浓度和阴极电流密度后,...
针对了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀甲基磺酸镀纯锡体系,提高镀液中Sn2+离子浓度、添加剂浓度及增大阴极电流密度对电流效率、沉积速度、最大允许电流密度及镀层性能等几个方面的影响。结果表明,提高Sn2+离子浓度和阴极电流密度后,添加剂I按Sn2+离子浓度比例相应提高,添加剂II浓度不变,阴极电流密度提高至0.3~0.35A/dm2,沉积速度加快,即镀得相同厚度的镀层,其电镀时间可比原来工艺缩短三分之一,收到缩短电镀生产周期、提高生产设备利用率的效果。
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关键词
甲基磺酸
镀锡体系
沉积速度
离子浓度
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职称材料
题名
MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究
被引量:
11
1
作者
娄红涛
冯辉
李基森
杨卫花
陈玫
机构
广东风华高新科技股份有限公司
出处
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005年第6期35-40,共6页
文摘
研究了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀中甲基磺酸镀纯锡体系pH值、温度、电流密度等工艺条件及杂质金属离子对镀液稳定性、镀层结构和性能等方面的影响。从电流效率、沉积速度及锡镀层表面的扫描电镜等方面,对比了不同pH值、温度、电流密度以及锡镀液中掺杂Cu2+、Ni2+后对锡镀层结构和性能的影响。研究结果给出了电镀工艺中最佳的pH值为3.5±0.2、温度为(23±2)℃、电流密度可以有较宽的范围,当镀液中掺有镍、铜等杂离子会对镀层产生负面影响,在给出的工艺参数下电镀,可以确保镀出最佳的纯锡镀层。
关键词
甲基磺酸
镀锡体系
工艺条件
镀层性能
Keywords
methanesulfonic acid
tin-plating system
process conditions
coating capability
分类号
TG174.441 [金属学及工艺—金属表面处理]
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职称材料
题名
片式电子元器件中无铅可焊镀层的研究
被引量:
11
2
作者
张尹
李基森
齐坤
陈玫
娄红涛
机构
广东风华高新科技集团有限公司
出处
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005年第2期1-4,11,共5页
基金
国家"十五""863"计划资助项目(2001AA32G030)
文摘
研究了对片式电子元器件以纯Sn镀层取代可焊性优异但环保性差的Sn–Pb镀层在生产过程中遇到的问题及解决途径。结果表明,Sn镀层上的“晶须”是制约其使用的主要问题,通过镀覆中间层、控制Sn层厚度、选择减小镀层压应力的添加剂、采用甲基磺酸锡体系镀哑光Sn等措施能有效抑制“晶须”的产生,获得可焊性好、能满足片式电子元器件批量生产质量要求的无铅镀层。介绍了以预镀Au、Pd取代Sn–Pb镀层的进展。
关键词
无铅
锡镀层
片式元器件
Keywords
lead-free
tin coating
chip component
分类号
TG174.441 [金属学及工艺—金属表面处理]
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职称材料
题名
MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究(续)
3
作者
冯辉
娄红涛
李基森
杨卫花
陈玫
机构
广东风华高新科技股份有限公司研究院
出处
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2006年第2期30-35,共6页
文摘
针对了片式多层陶瓷电容器(MLCC)三层镀甲基磺酸镀纯锡体系,提高镀液中Sn2+离子浓度、添加剂浓度及增大阴极电流密度对电流效率、沉积速度、最大允许电流密度及镀层性能等几个方面的影响。结果表明,提高Sn2+离子浓度和阴极电流密度后,添加剂I按Sn2+离子浓度比例相应提高,添加剂II浓度不变,阴极电流密度提高至0.3~0.35A/dm2,沉积速度加快,即镀得相同厚度的镀层,其电镀时间可比原来工艺缩短三分之一,收到缩短电镀生产周期、提高生产设备利用率的效果。
关键词
甲基磺酸
镀锡体系
沉积速度
离子浓度
Keywords
methanesulfonic
tin-plating system
deposition rate
ion concentration
分类号
TG174.441 [金属学及工艺—金属表面处理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究
娄红涛
冯辉
李基森
杨卫花
陈玫
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005
11
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职称材料
2
片式电子元器件中无铅可焊镀层的研究
张尹
李基森
齐坤
陈玫
娄红涛
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2005
11
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职称材料
3
MLCC三层镀中甲基磺酸镀锡体系工艺条件对锡镀层性能影响的研究(续)
冯辉
娄红涛
李基森
杨卫花
陈玫
《中国表面工程》
EI
CAS
CSCD
2006
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