期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
无铅BGA封装可靠性的力学试验与分析 被引量:7
1
作者 娄浩焕 朱笑郓 +2 位作者 瞿欣 Taekoo Lee Hui Wang 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期36-40,共5页
着重研究了机械冲击和应力对无铅BGA 封装焊点可靠性的影响,介绍了BGA 封装的可靠性力学试验(跌落、弯曲试验)及其分析方法。通过对力学试验中失效焊点的分析以及借助A N S Y S 模拟工具,找出引起失效的根本原因,为开发性能更好、高可... 着重研究了机械冲击和应力对无铅BGA 封装焊点可靠性的影响,介绍了BGA 封装的可靠性力学试验(跌落、弯曲试验)及其分析方法。通过对力学试验中失效焊点的分析以及借助A N S Y S 模拟工具,找出引起失效的根本原因,为开发性能更好、高可靠性的无铅材料、改进无铅工艺提供依据。 展开更多
关键词 无铅焊料 网格焊球阵列 跌落/弯曲试验 可靠性
在线阅读 下载PDF
BGA焊点在板级跌落实验中的疲劳寿命估计 被引量:6
2
作者 瞿欣 娄浩焕 +3 位作者 陈兆轶 祁波 Tae kooLee 王家楫 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期432-436,共5页
按照JEDEC标准对板级跌落实验的要求测试了有铅和无铅焊点的球栅阵列封装。用ANSYS软件建立了有限元分析模型,并用ANSYS/LS-DYNA直接求解器计算了典型结点的应力和应变,以及每次跌落时积累在焊点中的平均应变能密度。利用实验和模拟的... 按照JEDEC标准对板级跌落实验的要求测试了有铅和无铅焊点的球栅阵列封装。用ANSYS软件建立了有限元分析模型,并用ANSYS/LS-DYNA直接求解器计算了典型结点的应力和应变,以及每次跌落时积累在焊点中的平均应变能密度。利用实验和模拟的结果重新计算了Darveaux模型中的常数,将这个模型的应用范围扩展到了跌落环境,并计算了各种条件下焊点的疲劳寿命。 展开更多
关键词 疲劳 无铅 跌落测试 有限元分析 焊点
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部